在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路,主要參數(shù)指標,各個引出線的作用及其正常電壓。diyi部工作做的好,后面的檢查就會順利很多,山東芯片測試機設(shè)備。芯片很敏感,所以測試的時候要注意不要引起引腳之間的短路,任何一瞬間的短路都能被捕捉到,從而造成芯片燒壞。另外,如果沒有隔離變壓器時,是嚴禁用已經(jīng)接地的測試設(shè)備去碰觸底盤帶電的設(shè)備,因為這樣容易造成電源短路,山東芯片測試機設(shè)備,從而波及普遍,造成故障擴大化。焊接時,要保證電烙鐵不帶電,焊接時間要短,不堆焊,這樣是為了防止焊錫粘連,從而造成短路。但是也要確定焊牢,不允許出現(xiàn)虛焊的現(xiàn)象,山東芯片測試機設(shè)備。在有些情況下,發(fā)現(xiàn)多處電壓發(fā)生變化,此時不要輕易下結(jié)論就是芯片已經(jīng)壞掉了。要知道某些故障也能導(dǎo)致各個引腳電壓測試下來與正常值一樣,這時候也不要輕易認為芯片就是好的。芯片測試機還可以進行邏輯測試以測試操作錯誤。山東芯片測試機設(shè)備

一般packagetest的設(shè)備也是各個廠商自己開發(fā)或定制的,通常包含測試各種電子或光學參數(shù)的傳感器,但通常不使用探針探入芯片內(nèi)部(多數(shù)芯片封裝后也無法探入),而是直接從管腳連線進行測試。由于packagetest無法使用探針測試芯片內(nèi)部,因此其測試范圍受到限制,有很多指標無法在這一環(huán)節(jié)進行測試。但packagetest是Z終產(chǎn)品的測試,因此其測試合格即為Z終合格產(chǎn)品。IC的測試是一個相當復(fù)雜的系統(tǒng)工程,無法簡單地告訴你怎樣判定是合格還是不合格。多功能芯片測試機芯片測試機包括測試頭和測試座來測試芯片。

測試項目流程:目前量產(chǎn)的是BLE的SOC產(chǎn)品,里面包含了eflash、AD/DA、 LDO/BUCK、RF等很多模塊,為了提供給客戶品質(zhì)高的產(chǎn)品,我們針對每個模塊都有詳細的測試,下面是我們的大概的項目測試流程:Open/Short Test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。DC TEST: 驗證器件直流電流和電壓參數(shù)。Eflash TEST: 測試內(nèi)嵌flash的功能及性能,包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數(shù)。Function TEST: 測試芯片的邏輯功能。AC Test: 驗證交流規(guī)格,包括交流輸出信號的質(zhì)量和信號時序參數(shù)。Mixed Signal Test: 驗證DUT數(shù)模混合電路的功能及性能參數(shù)。
存儲器,芯片往往集成著各種類型的存儲器(例如ROM/RAM/Flash),為了測試存儲器讀寫和存儲功能,通常在設(shè)計時提前加入BIST(Built-In SelfTest)邏輯,用于存儲器自測。芯片通過特殊的管腳配置進入各類BIST功能,完成自測試后BIST模塊將測試結(jié)果反饋給Tester。ROM(Read-Only Memory)通過讀取數(shù)據(jù)進行CRC校驗來檢測存儲內(nèi)容是否正確。RAM(Random-Access Memory)通過除檢測讀寫和存儲功能外,有些測試還覆蓋DeepSleep的Retention功能和Margin Write/Read等等。Embedded Flash除了正常讀寫和存儲功能外,還要測試擦除功能。Wafer還需要經(jīng)過Baking烘烤和Stress加壓來檢測Flash的Retention是否正常。還有Margin Write/Read、Punch Through測試等等。芯片測試機支持多種測試模式。

芯片測試的流程,芯片測試的主要流程包括測試方案設(shè)計、測試系統(tǒng)構(gòu)建、芯片樣品測試和測試結(jié)果分析等步驟。測試方案設(shè)計階段需要根據(jù)芯片的具體需求和測試目的,確定測試平臺、測試方法和數(shù)據(jù)采集方式等;測試系統(tǒng)構(gòu)建階段則需要選用合適的測試設(shè)備、測試軟件和試驗工具,搭建出符合測試要求的完整測試系統(tǒng);芯片樣品測試階段則通過測試平臺對芯片進行各項測試,記錄測試數(shù)據(jù)和結(jié)果;然后在測試結(jié)果分析階段對數(shù)據(jù)進行處理、統(tǒng)計推斷和評估分析,得到較終的測試結(jié)論并給出相應(yīng)建議。芯片測試機可以提供定制化的測試方案,以滿足工程師的需求。山東芯片測試機設(shè)備
芯片測試機既可以進行數(shù)字測試,也可以進行模擬測試。山東芯片測試機設(shè)備
測試相關(guān)的各種名詞:ATE-----------Automatic Test Equipment,自動化測試設(shè)備,是一個高性能計算機控制的設(shè)備的集中,可以實現(xiàn)自動化的測試。Tester---------測試機,是由電子系統(tǒng)組成,這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號,建立適當?shù)臏y試模式,正確地按順序設(shè)置,然后使用它們來驅(qū)動芯片本身,并抓取芯片的輸出反饋,或者進行記錄,或者和測試機中預(yù)期的反饋進行比較,從而判斷好品和壞品。Test Program---測試程序,測試機通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件,我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測試系統(tǒng)中,等待測試的器件為DUT。山東芯片測試機設(shè)備
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