尾氣處理系統的管道輸送的多為有毒氣體(如氯氣、硫化氫),泄漏會導致環境污染與人員中毒,氦檢漏是保障其密封性的關鍵手段。檢測時,將尾氣管道抽真空至≤10Pa,在管道內側充入氦氣(壓力 0.1MPa),外側用氦質譜儀掃描,泄漏率需≤1×10??Pa?m3/s。尾氣處理系統的管道多為 FRP(玻璃鋼)或 PVC 材質,接頭處若粘結不牢,易出現微漏;長期使用后,腐蝕會導致管壁變薄,也可能產生泄漏。例如在制藥廠的有機廢氣處理系統中,若甲苯尾氣泄漏,會造成 VOCs 超標排放,面臨環保處罰。氦檢漏能準確發現這些隱患,確保尾氣 100% 進入處理裝置,符合環保排放標準。電子特氣系統工程的 0.1 微米顆粒度檢測,聚焦閥門和接頭,防止顆粒污染物積聚。廣東實驗室氣路系統氣體管道五項檢測0.1微米顆粒度檢測

高純氣體系統工程對管道泄漏率的要求遠高于普通工業管道,因為哪怕是 1×10??Pa?m3/s 的微漏,也會導致高純氣體(純度 99.9999%)被空氣污染。氦檢漏需采用 “真空法”:先對管道抽真空至≤1Pa,再在管道外側噴氦氣,內側用氦質譜檢漏儀檢測。氦氣分子直徑小(0.31nm),易穿透微小縫隙,檢漏靈敏度可達 1×10?12Pa?m3/s。在高純氧氣、氫氣系統中,泄漏會導致氣體純度下降 —— 例如電子級氧氣中若混入空氣,氧含量降至 99.999%,會導致半導體晶圓氧化層厚度不均。氦檢漏能準確定位泄漏點(如閥門填料函、焊接熱影響區),為修復提供依據,是高純氣體系統工程驗收的 “硬性指標”。尾氣處理系統氣體管道五項檢測氦撿漏高純氣體系統工程保壓測試,壓力 0.6MPa,24 小時壓降≤0.03MPa,確保無泄漏。

大宗供氣系統的管道內若存在 0.1 微米及以上顆粒污染物,會隨氣體進入生產設備,造成產品缺陷。例如在光伏行業,硅片清洗用的高純氮氣若含顆粒,會在硅片表面形成劃痕,影響電池轉換效率;在食品包裝行業,顆粒可能污染包裝材料,引發食品安全風險。0.1 微米顆粒度檢測需用激光顆粒計數器,在管道出口處采樣,采樣體積≥100L,每立方米顆粒數需≤10000 個(0.1μm 及以上)。檢測前需用超凈氮氣吹掃管道 1 小時,去除管道內壁附著的顆粒。大宗供氣系統的管道多為無縫鋼管,焊接時若未采用氬弧焊打底,會產生焊渣顆粒;過濾器濾芯老化也會導致顆粒泄漏,而顆粒度檢測能及時發現這些問題,確保氣體潔凈度。
電子特氣系統工程中,氧氣和水分常共同存在,對特氣質量產生協同影響,因此需關聯檢測。例如氧氣會加速水分對管道的腐蝕,生成更多顆粒污染物;水分會促進氧氣與特氣的反應(如磷化氫與氧、水反應生成磷酸)。檢測時,先測氧含量(≤10ppb),合格后測水分(≤10ppb),兩者均需達標。電子特氣系統需采用 “脫氧 + 脫水” 雙級凈化,且管道需經鈍化處理(如用高純氮氣吹掃 + 加熱),減少氧和水的吸附。這種關聯檢測能多方面保障特氣化學穩定性,避免因氧和水的協同作用導致的生產事故,這是電子特氣系統工程的重要質量要求。大宗供氣系統的氦檢漏,泄漏率≤1×10??Pa?m3/s,降低氣體損耗和安全風險。

電子特氣系統工程輸送的氣體(如四氟化碳、氨氣)直接用于半導體晶圓刻蝕、摻雜工藝,管道內的 0.1 微米顆粒污染物會導致晶圓缺陷,降低良率。例如 0.1 微米顆粒附著在晶圓表面,會造成光刻膠圖形變形,或導致電路短路。0.1 微米顆粒度檢測需用凝聚核粒子計數器(CNC),在管道出口處采樣,采樣流量 1L/min,連續監測 30 分鐘,每立方米顆粒數需≤1000 個(0.1μm 及以上)。電子特氣管道需采用 316L 不銹鋼電解拋光管,內壁粗糙度≤0.1μm,焊接時用全自動軌道焊,避免焊渣產生;安裝后需用超凈氮氣吹掃 24 小時,去除殘留顆粒。通過嚴格的顆粒度檢測,可確保特氣潔凈度達標,這是電子特氣系統工程的重要質量要求。高純氣體系統工程的氧含量(ppb 級)檢測≤5ppb,滿足光纖生產對氣體純度的要求。深圳大宗供氣系統氣體管道五項檢測0.1微米顆粒度檢測
電子特氣系統工程的水分(ppb 級)檢測≤10ppb,防止特氣水解腐蝕管道。廣東實驗室氣路系統氣體管道五項檢測0.1微米顆粒度檢測
尾氣處理系統負責處理工業生產中排放的有毒有害氣體,其管道的密封性直接關系到環保與安全。保壓測試時,需將尾氣管道與處理設備連接成閉環,充入壓縮空氣至 0.3MPa,關閉進出口閥門后監測 12 小時。根據環保標準,壓力降需≤1% 初始壓力,否則可能存在泄漏,導致未處理的尾氣直接排入大氣。尾氣處理系統的管道多接觸腐蝕性氣體(如含氯尾氣),長期使用后可能出現焊縫腐蝕、法蘭密封失效等問題,保壓測試能及時發現這些隱患。例如在化工企業的氯化反應尾氣處理中,若管道泄漏,氯氣會擴散至車間,危害人員健康,而嚴格的保壓測試可提前規避這類風險,確保尾氣 100% 進入處理裝置。廣東實驗室氣路系統氣體管道五項檢測0.1微米顆粒度檢測