熒光壽命成像技術能夠實時監(jiān)控納米顆粒在細胞內的穩(wěn)定性。FLIM不但具有其它熒光顯微鏡所具有的高靈敏度、可檢測生物生物樣品等優(yōu)點，它在監(jiān)控熒光納米材料的穩(wěn)定性上還具有以下幾個優(yōu)勢：（1）熒光壽命不受熒光探針的濃度的影響，可排除納米材料的胞吐及細胞分化導致的納米顆粒的稀釋等對測量的影響；（2）很多常見的發(fā)光材料的熒光壽命都遠遠大于細胞的自熒光的壽命，很易去除生物自熒光對熒光成像的干擾；（3）發(fā)光材料的熒光壽命和其材料的穩(wěn)定性密切相關，熒光壽命的改變可以靈敏地反映相應材料的化學穩(wěn)定性。基于上述原理，他們利用FLIM技術系統(tǒng)考察了半導體量子點和金納米簇在活的細胞（HeLa）里72小時內的穩(wěn)定性，以及不同的表面配體對這一過程的影響。時域和頻域技術在各種熒光顯微壽命成像平臺中都有應用。天津單分子熒光壽命成像訂購

熒光壽命成像技術是如何應用在生物醫(yī)學中的？隨著近年來對蛋白及分子功能研究的不斷深入，科研工作者除對多色成像、鈣成像等功能成像的需求日漸增多之外，對熒光壽命成像的需求也逐漸增加，而熒光壽命成像能提供除熒光強度、熒光光譜信息之外的熒光分子的壽命信息，可用于分子間相互作用（FRET）、分子所處微環(huán)境的離子濃度（如Ca2+、pH）及細胞代謝水平的改變等測量，并可拆分光譜重疊的熒光染料及染料和自發(fā)熒光，還可以結合熒光相關光譜對單分子實現(xiàn)熒光壽命相關光譜FLCS的測量。熒光壽命成像擴展了傳統(tǒng)熒光成像的維度，是功能成像的理想工具，在生物醫(yī)學領域有廣闊的應用前景。上海熒光壽命成像哪個牌子好熒光壽命成像通常來講是一定的，不受激發(fā)光強度、熒光團濃度等因素的影響。

熒光壽命顯微成像（Fluorescence lifetime imaging microscopy,FLIM）是熒光壽命測量和熒光顯微技術的結合，已普遍應用于生物醫(yī)學研究和其他領域。FLIM具有高特異性、高靈敏度、可定量測量微環(huán)境變化和分子間相互作用、不受探針濃度、激發(fā)光強度和光漂白影響等優(yōu)點。在過去的十年中，光學技術硬件和軟件、材料科學和生物醫(yī)學的迅速發(fā)展，共同促進了FLIM技術及其應用的巨大進步。盡管經(jīng)過幾十年的技術發(fā)展，F(xiàn)LIM技術在實際應用中仍然面臨著一些挑戰(zhàn)，例如：FLIM的成像分辨率也會受到光衍射的限制，因此，在實際應用中，我們經(jīng)常需要在成像速度、圖像質量和微環(huán)境壽命精度之間進行權衡。

熒光壽命的測量和熒光壽命成像主要有時間相關單光子計數(shù)法（time correlated single photon counting, TCSPC）、門控探測法（time-gated detection）、條紋相機測量法（streak-FLIM）、頻閃技術等四種常見的方法。TCSPC是目前測量熒光壽命的主要技術，同軸脈沖光源發(fā)出的脈沖光引起起始光電倍增管產(chǎn)生電信號，該信號通過恒分信號甄別器1啟動時幅轉換器（time-amplitude converter，TAC），時幅轉換器產(chǎn)生一個隨時間線性增長的電壓信號。此外，同軸脈沖光源發(fā)出的脈沖光通過激發(fā)單色器后到達樣品池，樣品產(chǎn)生的熒光信號再經(jīng)過發(fā)射單色器到達終止光電倍增管，由此產(chǎn)生的電信號經(jīng)由恒分信號甄別器2到達時幅轉換器并使其停止工作。熒光壽命顯微成像是熒光壽命測量和熒光顯微技術的結合。

門控探測法適用于單組分熒光強度衰減的測量和熒光壽命成像。熒光壽命可通過在兩個不同延遲時刻開啟的相同寬度的門內記錄的熒光強度信息求得，通常情形下，在條件允許的情況下，采用多門控探測，即選取多個窗口獲取多幅圖像（通常為5~10幅）來反演壽命圖像。一般使用門控微通道板像增強器（MCP Intensifier）或者增強型CCD（Intensified CCD）相機，實現(xiàn)樣品的寬場（full-field）熒光壽命成像。通過在樣品受到超短光脈沖激發(fā)后的不同時刻（時間窗口）選通像增強器或CCD相機，獲得一組熒光強度圖像，然后利用公式，逐點計算出樣品上各點的熒光壽命并成像。熒光壽命成像(FLIM)可用于測量分子環(huán)境參數(shù)。天津單分子熒光壽命成像訂購

熒光壽命成像基于熒光團的熒光壽命取決于其分子環(huán)境而并非濃度的事實。天津單分子熒光壽命成像訂購

分子的熒光壽命在幾納秒至幾百納秒之間，因此，測量熒光壽命成像需要極快響應時間的探測器。如今主要存在兩類方案：一是時域測量，由一束窄脈沖將熒光分子激發(fā)至較高能態(tài)S1，接著測量熒光的發(fā)射幾率隨時間的變化。典型的時域測量方法有TCSPC和時間門（TG）兩種。TCSPC利用快速秒表測量激發(fā)脈沖與探測熒光之間的時間差。使用高重復脈沖激發(fā)光激發(fā)樣品，在每一個脈沖周期內，較多激發(fā)熒光分子發(fā)出一個光子，然后記錄光子出現(xiàn)的時刻，并在該時刻記錄一個光子，再下一個脈沖周期內也是相同的情況，經(jīng)過多次計數(shù)可以得到熒光光子隨時間的分布曲線。相似的，TG則探測不同時間窗口內的熒光強度，通過曲線擬合得到熒光壽命。二是頻域測量，對連續(xù)激發(fā)光進行振幅調制后，分子發(fā)出的熒光強度也會受到振幅調制，兩個調制信號之間存在與熒光壽命相關的相位差，因此可以測量該相位差計算熒光壽命。天津單分子熒光壽命成像訂購

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