無論是芯片設計的可靠性驗證測試，或是晶圓量產中的WAT測試和CP測試，探針臺在其中起著至關重要的作用。探針臺設備主要技術壁壘在系統的精細定位、微米級運動以及高準確率通信等關鍵參數。目前全球主要探針臺市場仍主要被美、日、韓等國所占據。近年來在國家對半導體產業的大力扶持下，國產化技術的發展進程不斷加快，中國半導體設備企業將加速迎來國產替代的機會。在國內半導體設備市場中，探針臺是我國目前能實現高國產化率的設備。半導體探測系統是一種成熟的工具，用于測試硅晶片，裸片和開放式微芯片上的電路和器件。成都PIV測試探針臺

    微納探針臺可在納米尺度上對樣品和測試設備進行電學表特征：1、快速、精確、穩定微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學探針接口，可在毫米級尺度上進行宏觀運動并實現納米尺度上的微觀運動。2、使用場景多樣化微納探針臺結構緊湊，占用空間小，運動行程大，可匹配各種顯微鏡樣品臺，真空室，光學試驗臺等工作條件。3、完善的技術解決方案微納探針臺與尼康金相顯微鏡/SR-Scopel集成形成的探針臺電學測量系統，為宏觀行程上進行的微觀尺度電學及表征測量提供了具體的解決方案。4、直觀、方便微納探針臺通過手柄控制，具有多級宏觀調速，脈沖運動，以及位移微調功能，宏觀運動速度跨度在5um/s~2mm/s，單點脈沖步進可達300nm以下，微調運動分辨率小于1nm，在顯微鏡下操作更直觀，方便，精細。5、高度集成微納探針臺電學測量系統，配備完善的光學顯微鏡模塊，配備亮度調節，增益和變焦等功能，與電腦連接后，可實現圖像快照，尺寸測量和標注，視頻記錄等常規功能。 上海探針臺報價探針臺是半導體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業的檢測標配。

可提供單維磁場，多維磁場探針臺，磁場強度，精度和間隙均可客制化l高剛性結構，所有零配件均采用無磁化材料可加載高低溫，可同時進行DC和RF測試，可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試；大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動，擴大了顯微鏡視場；兼容直流與高頻信號；可以定制，可升級性強l比較大可以測試12英寸樣品，探針臺chuck具備升降功能，便于樣品和探針的快速分離。可配合等離子發生器使用，可以給樣品提供超高溫和等離子氣體。

探針臺應用手動探針臺廣泛應用于，科研單位研發測試、院校教學操作、企業實驗室芯片失效分析等領域。一般使用于研發測試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復測試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測試測半導體參數測試儀、示波器、網分等測試源表，量測半導體器件IV CV脈沖/動態IV等參數。用途：以往如果需要測試電子元器件或系統的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態，測試人員一般會采用表筆去點測。隨著電子技術的不斷發展，對于精密微小（納米級）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應運而生,利用高精度微探針將被測原件的內部訊號引導出來，便于其電性測試設備（不屬于本機器）對此測試、分析。按照操作方式來劃分成：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺。

    平面電機x-y步進工作臺的維護與保養，平面電機由定子和動子組成，它和傳統的步進電機相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎平臺，動子和定子間有一層氣墊，動子浮于氣墊上，而可編程承片臺則安裝在動子之上。這種結構的x-y工作臺，由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損，使用壽命長。由于平面電機的定子及動子是完全暴露在空氣中，所以潮濕的環境及長時期保養不當將很容易使定子發生銹蝕現象，另外重物的碰撞及堅銳器物的劃傷都將對定子造成損傷，而影響平面電機的步進精度及使用壽命，對于已生銹的定子可以用天然油石輕輕地向一個方向打磨定子的表面，然后用脫脂棉球蘸煤油清洗，整個過程操作要十分地細心，不可使定子表面出現凹凸不平的現象。另外也可用沒有腐蝕性，不損壞定子的除銹劑除銹。對于正常情況下的定子則要定期作除塵清理工作，清理時應先通入大氣以便動子移動，方法是用脫脂棉蘸少許大于95%的無水乙醇，輕擦定子表面，然后用**工具撬起動子，方法同前，輕擦動子表面，動子的表面有若干個氣孔，它是定子和動子間壓縮空氣的出孔，觀察這此氣孔的放氣是否均勻，否則用工具小心旋開小孔中內嵌氣孔螺母檢查是否有雜質堵塞氣孔。 超高頻測試探針臺系統。湖南micro LED探針臺

電路板各通道及載體高頻高速測試。成都PIV測試探針臺

探針臺操作步驟：1.將測試產品放入探針臺的臺盤上;2.打開顯微鏡光源燈（LED或光源機）;3.打開背光面板光源開關;4.調整Zaxis高度對焦，使能清楚看到樣品圖象為OK;5.調整目鏡和Zoom倍率，使影像清晰;二.點針操作步驟：1.通過移動鏡頭組部分找到Sample要下針的地方;2.調整針座位置，將三軸歸零;3.調整針座仰角機構，使針尖位于顯微鏡射出光斑**上方1-2mm處;4.利用低倍鏡頭找到針尖，將針尖移至視野**位置并通過調整焦距使針尖達到*清晰;6.切換至高倍鏡頭，找到針尖;7.利用針座的X-Y-Z軸微調下針;8.量測完畢后，逆時針旋轉鈕針座的仰角機構的旋鈕取出快速將針往上抬起，針尖即可移開針Sample;移動座平臺或者顯微鏡相關移動機構時，請注意小心避免與鏡頭或被測品碰撞9.移開針座，取出背光面板光源和光源燈等電源.成都PIV測試探針臺

上海波銘科學儀器有限公司正式組建于2013-06-03，將通過提供以拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器等服務于于一體的組合服務。業務涵蓋了拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器等諸多領域，尤其拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器中具有強勁優勢，完成了一大批具特色和時代特征的儀器儀表項目；同時在設計原創、科技創新、標準規范等方面推動行業發展。同時，企業針對用戶，在拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器等幾大領域，提供更多、更豐富的儀器儀表產品，進一步為全國更多單位和企業提供更具針對性的儀器儀表服務。值得一提的是，波銘科儀致力于為用戶帶去更為定向、專業的儀器儀表一體化解決方案，在有效降低用戶成本的同時，更能憑借科學的技術讓用戶極大限度地挖掘愛特蒙特的應用潛能。