我們現(xiàn)在對(duì)比一下兩款示波器。小信號(hào)具有一定的幅度，當(dāng)示波器垂直設(shè)置設(shè)為16mV全屏?xí)r，它會(huì)占據(jù)幾乎全屏的空間。Infiniium9000系列示波器等傳統(tǒng)示波器硬件支持的小刻度是7mV/格,低于該設(shè)置的垂直刻度,是用軟件放大實(shí)現(xiàn)的,7mV/格的設(shè)置意味著量程是56mV(7mV/格x8格),該示波器采用了8位ADC,量化電平數(shù)是256,因此其小分辨率為218uV。In?niiumS系列示波器采用了10位ADC,硬件支持的小垂直刻度是2mV/格,并且該設(shè)置支持滿(mǎn)帶寬。2mV/格設(shè)置對(duì)應(yīng)的量程為16mV(2mV/格x8格),因此分辨率為16mV/1024,即為15.6uV—是傳統(tǒng)的8位示波器的14倍信號(hào)完整性測(cè)試信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；智能化多端口矩陣測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試廠家現(xiàn)貨

    當(dāng)今的電子設(shè)計(jì)工程師可以分成兩種，一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問(wèn)題，一種是將要遇到信號(hào)完整性問(wèn)題。對(duì)于未來(lái)的電子設(shè)備，頻率越來(lái)越高，射頻元器件越來(lái)越小，越來(lái)越集中化、模塊化。因此電磁信號(hào)未來(lái)也會(huì)變得越來(lái)越密集，所以提前學(xué)習(xí)信號(hào)完整性和電源完整性相關(guān)的知識(shí)可能對(duì)于我們對(duì)于電路的設(shè)計(jì)更有益處吧。對(duì)信號(hào)完整性和電源完整性分析中常常分為五類(lèi)問(wèn)題：1、單信號(hào)線網(wǎng)的三種退化（反射、電抗，損耗）反射：一般都是由于阻抗不連續(xù)引起的，即沒(méi)有阻抗匹配。反射系數(shù)=ZL-ZO/(ZL+ZO)，其中ZO叫做特性阻抗，一般情況下中都為50Ω。為啥是50Ω，75Ω的的傳輸損耗小，33Ω的信道容量大，所以選擇了他們的中間數(shù)50Ω。下圖為點(diǎn)對(duì)電拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)四種常用端接。 機(jī)械信號(hào)完整性測(cè)試系列信號(hào)完整性分析方法信號(hào)完整性分析概述。

2.5 識(shí)別導(dǎo)致過(guò)多損耗的設(shè)計(jì)特征由于測(cè)得的 TDR/TDT 數(shù)據(jù)能直接從 TDR 儀器快速、輕松地導(dǎo)入建模工具，從而幫助我們找出意外或異常行為的根本原因，因此調(diào)試時(shí)間有時(shí)能從幾天縮短到幾分鐘。圖 33 所示為三種結(jié)構(gòu)測(cè)得的 TDT 響應(yīng)。頂端的水平線是從參考直通測(cè)得的插入損耗，可以看到當(dāng)互連基本上為透明時(shí)，響應(yīng)非常平。這種測(cè)量直接反映了儀器的能力。

均勻線（被測(cè)件1）和作為差分對(duì)一部分的均勻線（被測(cè)件2）上測(cè)得的插入損耗。從上往下的第二條線就是前文中所見(jiàn)的8英寸單端微帶線的插入損耗。第三條線是另一條九英寸長(zhǎng)均勻微帶傳輸線測(cè)得的插入損耗。然而，該傳輸線的插入損耗上有一個(gè)約6GHz的波谷。這個(gè)波谷極大地限制了互連的可用帶寬。排前條傳輸線的-10分貝帶寬約為12GHz，而第二條線的-10分貝帶寬約為4GHz。這表示可用帶寬降低了三分之二。如需優(yōu)化互連設(shè)計(jì)，首先要著手的是了解這個(gè)波谷從何而來(lái)。是什么原因?qū)е铝诉@個(gè)波谷？

示波器通道在每個(gè)垂直量程設(shè)置上的噪聲屬性各有不同。波形粗細(xì)可以直觀反映示波器在該特定設(shè)置下的噪聲大概范圍，準(zhǔn)確測(cè)量應(yīng)通過(guò)Vrms交流測(cè)量來(lái)量化分析噪聲情況。您可以將測(cè)量結(jié)果繪制成噪聲圖，以便進(jìn)一步分析(圖7)。這些測(cè)量結(jié)果反映了每個(gè)示波器通道在不同垂直刻度設(shè)置下的噪聲值，這決定著您所測(cè)得的電壓數(shù)值的誤差變化范圍。示波器的本底噪聲不僅影響電壓測(cè)量，也影響水平參數(shù)的測(cè)量精度。

示波器的噪聲越低，測(cè)量精度就會(huì)越高。 信號(hào)完整性的一些基本概念？

信號(hào)完整性（英語(yǔ)：Signal integrity, SI）是對(duì)于電子信號(hào)質(zhì)量的一系列度量標(biāo)準(zhǔn)。在數(shù)字電路中，一串二進(jìn)制的信號(hào)流是通過(guò)電壓（或電流）的波形來(lái)表示。然而，自然界的信號(hào)實(shí)際上都是模擬的，而非數(shù)字的，所有的信號(hào)都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比特率的情況里，一個(gè)簡(jiǎn)單的導(dǎo)體可以忠實(shí)地傳輸信號(hào)。而長(zhǎng)距離、高比特率的信號(hào)如果通過(guò)幾種不同的導(dǎo)體，多種效應(yīng)可以降低信號(hào)的可信度，這樣系統(tǒng)或設(shè)備不能正常工作。信號(hào)完整性工程是分析和緩解上述負(fù)面效應(yīng)的一項(xiàng)任務(wù)，在所有水平的電子封裝和組裝，例如集成電路的內(nèi)部連接、集成電路封裝、印制電路板等工藝過(guò)程中，都是一項(xiàng)十分重要的活動(dòng)。信號(hào)完整性考慮的問(wèn)題主要有振鈴（ringing）、串?dāng)_（crosstalk）、接地反彈、扭曲(skew)、信號(hào)損失和電源供應(yīng)中的噪音。信號(hào)完整性測(cè)試所需工具說(shuō)明；機(jī)械信號(hào)完整性測(cè)試系列

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性技術(shù)指標(biāo)；智能化多端口矩陣測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試廠家現(xiàn)貨

一般討論的信號(hào)完整性基本上以研究數(shù)字電路為基礎(chǔ)，研究數(shù)字電路的模擬特性。主要包含兩個(gè)方面：信號(hào)的幅度(電壓)和信號(hào)時(shí)序。

與信號(hào)完整性噪聲問(wèn)題有關(guān)的四類(lèi)噪聲源：1、單一網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)質(zhì)量2、多網(wǎng)絡(luò)間的串?dāng)_3、電源與地分配中的軌道塌陷4、來(lái)自整個(gè)系統(tǒng)的電磁干擾和輻射

當(dāng)電路中信號(hào)能以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)接收芯片管腳時(shí)，該電路就有很好的信號(hào)完整性。當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)或者信號(hào)質(zhì)量不能使系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定工作時(shí)，就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。信號(hào)完整性主要表現(xiàn)在延遲、反射、串?dāng)_、時(shí)序、振蕩等幾個(gè)方面。一般認(rèn)為，當(dāng)系統(tǒng)工作在50MHz時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生信號(hào)完整性問(wèn)題，而隨著系統(tǒng)和器件頻率的不斷攀升，信號(hào)完整性的問(wèn)題也就愈發(fā)突出。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號(hào)的布線等這些問(wèn)題都會(huì)引起信號(hào)完整性問(wèn)題，導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定，甚至完全不能正常工作。 智能化多端口矩陣測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試廠家現(xiàn)貨

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