USB4.0技術(shù)簡(jiǎn)介USB全稱UniversalSerialBus(通用串行總線)，早在1994年被眾多電腦廠商采納用以解決當(dāng)時(shí)接口不統(tǒng)一的問題。在隨后二十多年時(shí)間里，USB技術(shù)不斷發(fā)展，標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)歷了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3.1到USB3.2，直到現(xiàn)在的USB4.0。

USB4.0 直接采用的是 Intel 和Apple 從 2015 年在筆記本電腦上 推出的、基于 Type-C 接口的“雷電”Thunderbolt 3 協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)，  數(shù)據(jù) 傳輸速率支持 10Gbps/lane 和 20Gbps/lane 兩種速率，選擇性地支 持 TBT3-compatible 10.3125Gbps/lane 和 20.625Gbps/lane 兩 種 速 率； 同時(shí)，  通 過交替模式 (ALT mode) 支持 DisplayPort，  PCIE 等信號(hào)標(biāo) 準(zhǔn)。為了避免混淆，  Intel 將未來準(zhǔn)備在筆記本電腦上部署的 Thunderbolt 接口，  統(tǒng)一命名為 Thunderbolt4.0。 usb3.0規(guī)范中對(duì)接收端均衡器的定義？上海USB測(cè)試維修價(jià)格

此外，在USB4中，我們要參考路由器主機(jī)或路由器設(shè)備組件通道預(yù)算。利好是我們?cè)趫?zhí)行USB4一致性測(cè)試時(shí)（其在TP2和TP3測(cè)試點(diǎn)上執(zhí)行），TP2和TP3測(cè)試點(diǎn)的連接或設(shè)置仍是一樣的。新的測(cè)試要求和挑戰(zhàn)USB4中出現(xiàn)了許多新的測(cè)試要求，同時(shí)帶來了需要解決的對(duì)應(yīng)的測(cè)試挑戰(zhàn)。第一步是發(fā)射機(jī)預(yù)置校準(zhǔn)(Transmitter Present Calibration),這是發(fā)射機(jī)測(cè)試的前提步驟。在這一測(cè)試中，我們捕獲全部16個(gè)預(yù)置波形，然后測(cè)量數(shù)據(jù)確定性抖動(dòng) (DDJ)。在USB4中，在通路初始化過程中，接收機(jī)會(huì)請(qǐng)求改變預(yù)置值，對(duì)被測(cè)參數(shù)可能并不會(huì)使用比較好的預(yù)置值。因此，比較好先驗(yàn)證和測(cè)量所有其他預(yù)置值，然后再執(zhí)行發(fā)射機(jī)測(cè)試。智能化多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試代理品牌示波器里的USB協(xié)議觸發(fā)條件；

3.USB4.0回波損耗測(cè)試高速串行信號(hào)傳輸速率越高，信號(hào)的射頻微波化趨勢(shì)就越明顯，20Gb/s的數(shù)字信號(hào)的Nyquist頻率已經(jīng)高達(dá)10GHz。這種情況下，測(cè)試信號(hào)的時(shí)域指標(biāo)已經(jīng)越來越難以保證信號(hào)的質(zhì)量；因此從Thunderbolt3.0開始，發(fā)送端在正常傳輸數(shù)據(jù)時(shí)的回波損耗測(cè)試也變成了一個(gè)必須的測(cè)試項(xiàng)目，USB4.0當(dāng)然也不例外。USB4.0定義了發(fā)送端和接收端差分回波損耗及共模回波損耗四個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。

USB4.0 回波損耗測(cè)試的實(shí)際連接和結(jié)果示意圖。它需要 一臺(tái)至少 20GHz 帶寬、帶 TDR 選件的網(wǎng)絡(luò)分析儀，  同時(shí)被測(cè)體通 過 USB4ETT 軟件和 USB4.0 Microcontroller 產(chǎn)生 PRBS31 的測(cè)試碼型。 是德科技提供詳細(xì)的操作步驟和網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)定文件 (State File) 供大家參考。

Type - C的接口是雙面的，也就是同 一 時(shí)刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引腳上會(huì)有USB3 . 1信號(hào)輸出，至于哪 一面有信號(hào)輸出，取決于插入的方向。如圖3 . 18所 示，默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻 Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會(huì)有連接，通過檢測(cè)CCl或者CC2上的 電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過程。

信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過程中，由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具，并沒有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入，這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來欺騙被測(cè)件輸出信號(hào) USB3.1和3.0有什么區(qū)別？

USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；測(cè) 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應(yīng)用場(chǎng)景，  針對(duì) 的測(cè)試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3，  即通俗講的近端測(cè)試和遠(yuǎn)端測(cè)試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測(cè)試時(shí)，需要考慮無源電纜的影響。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場(chǎng)景，  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等，為了保證測(cè)試的一致性和可重復(fù)性，發(fā)動(dòng)端測(cè) 試都是用軟件的算法，  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式， 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時(shí)，  為了保證測(cè)試精度，  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號(hào)捕獲前，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測(cè)試電纜的影響。 USB2.0一致性測(cè)試環(huán)境；示波器、測(cè)試軟件、夾具；上海USB測(cè)試維修價(jià)格

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這個(gè)測(cè)試對(duì)于激勵(lì)源即誤碼儀的碼型發(fā)生部分的要求很高。首先，其要能產(chǎn)生高質(zhì)量 的高速數(shù)據(jù)流，碼型發(fā)生器固有抖動(dòng)要非常小才不會(huì)影響正常的抖動(dòng)容限測(cè)試；其次，要能 在數(shù)據(jù)流調(diào)制上幅度、頻率精確可控的抖動(dòng)分量。抖動(dòng)分量中除了要有隨機(jī)抖動(dòng)外，還要有 不同頻率和幅度的周期抖動(dòng)，圖3.22是對(duì)接收容限測(cè)試中需要添加的各種抖動(dòng)分量以及信 號(hào)幅度、預(yù)加重的要求。測(cè)試要在多種頻率的周期抖動(dòng)條件下進(jìn)行并保證在所有情況下誤 碼率都小于1.0×10- 12

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