USB測(cè)試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測(cè)試變得越來(lái)越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測(cè)試。北測(cè)是獲得認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。測(cè)試服務(wù)USB測(cè)試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測(cè)試·外部裝置·主機(jī)內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG USB主機(jī)的低速和全速信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)的連接；機(jī)械USB測(cè)試廠家現(xiàn)貨

USB2.0技術(shù)已被的市場(chǎng)接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開(kāi)新天地，包括全動(dòng)態(tài)視訊至輔助性的、只有錢(qián)包大小的硬盤(pán)機(jī)。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現(xiàn)了新的測(cè)試和量測(cè)方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來(lái)了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來(lái)了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。特別是在訊號(hào)品質(zhì)問(wèn)題方面，如電路板的布局、抖動(dòng)、上升和下降時(shí)間、電磁場(chǎng)干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問(wèn)題。保持訊號(hào)質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格，并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號(hào)質(zhì)量測(cè)試包括:?眼圖測(cè)試?信號(hào)速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動(dòng)?KJ抖動(dòng)?連續(xù)抖動(dòng)?單調(diào)測(cè)試（適用于高速）?漲落時(shí)間 DDR測(cè)試USB測(cè)試檢修USB3.0一致性測(cè)試數(shù)據(jù)；

   克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)。

   克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測(cè)試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測(cè)試設(shè)備，提供給客戶(hù)更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專(zhuān)業(yè)服務(wù)。

   克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專(zhuān)業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測(cè)試、預(yù)認(rèn)證測(cè)試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱(chēng)為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開(kāi)介紹。USB3.1和3.0有什么區(qū)別？

USB4.0的發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

在 發(fā) 送 端 測(cè) 試 中 ， 需 要 用 U S B 4 . 0 的 測(cè) 試 夾 具 在 T P 2 點(diǎn) ( 即 T y p e - C 的 輸 出 接 口 ) 把 被 測(cè) 信 號(hào) 引 出 ， 并 接 入 示 波 器 測(cè) 試 ， 測(cè) 試 中 示 波 器 會(huì) 通 過(guò) 軟 件 嵌 入 傳 輸 通 道 ( 對(duì) G e n 2 速 率 是 嵌 入 2 m 電 纜 ， 對(duì) G e n 3 速 率 是 嵌 入 0 . 8 m 電 纜 ) 的 影 響 ， 并 用 模 仿 接 收 端 的 均 衡 器 對(duì) 信 號(hào) 均 衡 后 再 進(jìn) 行 眼 圖 相 關(guān) 參 數(shù) 的 測(cè) 試 。 U S B 4 . 0 的 數(shù) 據(jù) 速 率 很 高 ， 對(duì) 于 G e n 2 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測(cè) 試 來(lái) 說(shuō) ， 測(cè) 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 1 6 G H z 帶 寬 的 示 波 器 ； 對(duì) 于 G e n 3 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測(cè) 試 來(lái) 說(shuō) ， 測(cè) 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 2 1 G H z 帶 寬 的 示 波 器 。 圖 3 . 3 2 是 典 型 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 信 號(hào) 質(zhì) 量 測(cè) 試 環(huán) 境 ， 測(cè) 試 中 通 過(guò) 測(cè) 試 夾 具 連 接 被 測(cè) 件 和 示 波 器 ， 并 通 過(guò) U S B 4 的 控 制 器 控 制 被測(cè)件發(fā)出不同的預(yù)加重的測(cè)試碼型 。 USB4.0一致性測(cè)試環(huán)境；示波器、測(cè)試軟件、夾具；DDR測(cè)試USB測(cè)試檢修

發(fā)送信號(hào)的測(cè)試USB需要的要求；機(jī)械USB測(cè)試廠家現(xiàn)貨

USB4一致性測(cè)試和調(diào)試解決方案了解USB4的新特點(diǎn)以及新測(cè)試要求和挑戰(zhàn)，可以幫助您理解這一新標(biāo)準(zhǔn)的變化。泰克USB4一致性測(cè)試和調(diào)試解決方案提供了一種簡(jiǎn)便的方式，可以根據(jù)USB4電接口一致性測(cè)試規(guī)范(CTS)v1.0，驗(yàn)證和表征新興的USB4路由器主機(jī)、USB4路由器設(shè)備和USB4集線器。、

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室新USB4規(guī)范解析及一致性測(cè)試的介紹，內(nèi)容包括：USB總線終將一統(tǒng)江湖嗎？·從USB1.0到USB4的發(fā)展·USB物理接口的演變2.USB4的規(guī)范解析和新特性3.如何驗(yàn)證你的USB4產(chǎn)品·一致性測(cè)試規(guī)范的解析·克勞德的一致性解決方案 機(jī)械USB測(cè)試廠家現(xiàn)貨