MS多波段整機測試系統一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。

測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。 INFRAMET SIM 熱成像光電測試系統，精確熱成像，基數參數智能調整，守護安全，從細節開始！上海明策熱成像校準系統方案

SIMAT模擬器是一個模塊化的圖像投影系統用于模擬在光視距范圍內兩個或者多個可變強度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動態目標。其可用于模擬動態空間或者空中目標（天體，飛機，直升飛機等）作為成像探測器對這些目標的監視。SIMAT模擬器的基本配置用于模擬紅外波段的范圍但是可以升級為模擬紅外波段加紫外及可見光波段。寬視場到120o可以被達到基于精致細密運動平臺用于測試過程中的單元旋轉?？蛇x的SIMAT模擬器用于模擬紅外以及UV/可見光波段基于采用帶寬反射光學原件的圖像投影系統。SIMAT是完全計算機化控制的用于模擬復雜情況（目標軌跡，角尺寸，速度，輻射強度等）的目標模擬器。甘肅熱成像校準系統制造商Inframet DT 熱成像光電測試系統新高度，基數參數精心調校，夜視效果超乎想象！

DTR短焦熱像儀測試系統是傳統DT熱像儀測試系統的一個特殊版本。這兩個系統都是將一系列的標準靶標投影出去，被測熱像儀接收成像。DT系統使用了較長焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標由DTR系統投射后，被測熱像儀接收的圖像比由DT系統透射出的要更大。從數學上講，DTR系統可以投射出比典型DT系統空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測試系統在測試過程中，被測熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場上大多數大視場熱像儀的測量需求。另外DTR測試系統提供2個不同焦距和視場的光管供選擇，可根據被測熱像儀的分辨率和視場來選擇適用的光管。通常DTR測試系統提供測試長波熱像儀的配置，可選配測量中波熱像儀。

InframetLS-SAL多通道寬波段可見光-短波紅外光源適用于VIS-SWIR相機，有五種工作模式：1)色溫是2856K的鹵素，適用于VIS-SWIR波段；2)色溫超過5000K的白色寬帶LED，適用于可見光；3)混合模式，鹵素燈和白色寬帶LED按照一定光強比例工作；4)校準單色1550nm光源；5)校準短波紅外光源。其次，LS-SAL光源配備一套濾波片，當工作在鹵素燈模式時，可用于選擇所需的波段。

基礎工作模式①鹵素燈-無濾光片②可見光LED③混合模式，鹵素燈和白色寬帶LED④帶1550nm窄帶濾光片的鹵素燈⑤只帶短波紅外濾光片的鹵素燈 智能校準，熱成像更穩定清晰，基數參數調整，守護升級！

MS300測試系統外觀圖MS系列系統是Inframet主要測試系統，可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等，進行系統的測試和軸對準的測試。

測試功能1.不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；2.可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等；

MS多波段整機測試系統測量不同系統的原理如下。測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標； 熱成像新體驗，基數參數智能校準，細節盡在眼前！甘肅熱成像校準系統制造商

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TAIM熱瞄準鏡和熱像儀夾測試系統是DT系統的一個特殊版本，為測試典型的熱瞄準鏡或熱像儀夾而優化，可以快速、多功能和準確地測試。TAIM由DT120測試系統(用作圖像投影模塊和圖像分析模塊)，附加一組模塊：用于瞄準具測試的Picatinny導軌，兩個HEC相機用于捕捉圖像，AHEC適配環固定HEC相機的位置，YNAS10平臺可以調整相機與被測樣品之間的夾角，DPM屈光度量度計，AT720光學平臺，可選配其他分析軟件和HEC相機和可選DICAN距離調整裝置。上海明策熱成像校準系統方案