相襯顯微技術(shù)圖8 光學(xué)金相顯微術(shù)利用相位差信息（樣品表面由細(xì)微浮凸導(dǎo)致相位差），將反射光減弱到和衍射光 振幅相近，并改變反射光的相位，使其和衍射光同相或相差π。裝置是在普通顯微鏡的物鏡和目鏡之間的適當(dāng)位置上放一個(gè)環(huán)形的相位差板，將反射光減弱并移相，再安放一個(gè)相應(yīng)的環(huán)形光闌，就可以把表面細(xì)微高低不同引起的光學(xué)相差轉(zhuǎn)換為振幅差,提高各組織間的襯度（圖8）。近期發(fā)展的微差干涉技術(shù)，把相襯和顯微干涉技術(shù)結(jié)合起來，能把細(xì)微的浮凸表現(xiàn)為色彩對(duì)比，更有效地提供表面細(xì)微組織的信息。光學(xué)金相顯微術(shù)同時(shí)，支持多種照明方式，如透射光、反射光等，適應(yīng)不同樣品的觀察需求。崇川區(qū)好的金相顯微鏡操作

6、當(dāng)載物臺(tái)墊片圓孔中心的位置遠(yuǎn)離物鏡中心位置時(shí)不要切換物鏡，以免劃傷物鏡。7、非專業(yè)人員不要調(diào)整照明系統(tǒng)（燈絲位置燈），以免影響成像質(zhì)量。8、更換鹵素?zé)魰r(shí)要注意高溫，以免灼傷；注意不要用手直接接觸鹵素?zé)舻牟Ａw。9、關(guān)機(jī)不使用時(shí)，將物鏡通過調(diào)焦機(jī)構(gòu)調(diào)整到比較低狀態(tài)。10、關(guān)機(jī)不使用時(shí)，不要立即該蓋防塵罩，待冷卻后再蓋，注意防火。金相顯微鏡主要是通過對(duì)組織形貌的檢查來分析鋼材的組織與其化學(xué)成分的關(guān)系；可以確定各類鋼材通過不一樣的加工和熱處理后的顯微組織；以此來判斷鋼材的質(zhì)量的好壞，如各類型的鋼材夾雜物——氧化物、硫化物等在組織中的分布情況和數(shù)量以及金屬晶粒度的大小等。江蘇本地金相顯微鏡哪家強(qiáng)金相顯微鏡電子目鏡是一種針對(duì)金相顯微鏡成像專門研制而成的光學(xué)電子儀器。

光源**早的金相顯微鏡，采用一般的白熾燈泡照明，以后為了提高亮度及照明效果，出現(xiàn)了低壓鎢絲燈、碳弧燈、氙燈、鹵素?zé)簟?*燈等。有些特殊性能的顯微鏡需要單色光源，鈉光燈、鉈燈能發(fā)出單色光。照明方式金相顯微鏡與生物顯微鏡不同，它不是用透射光,而是采用反射光成像,因而必須有一套特殊的附加照明系統(tǒng)，也就是垂直照明裝置。1872年蘭(V.vonLang)創(chuàng)造出這種裝置,并制成了***臺(tái)金相顯微鏡。原始的金相顯微鏡只有明場(chǎng)照明，以后發(fā)展用斜光照明以提高某些組織的襯度。

目鏡偏差檢具：十字分劃板。檢測(cè)方法：在顯微鏡上用10倍物鏡和被檢十字分劃目鏡對(duì)置于載物臺(tái)上的十字分劃板調(diào)焦清晰，并使十字分劃板中心的像與十字分劃板目鏡重合，然后旋轉(zhuǎn)十字分劃目鏡，以兩十字線中心的比較大偏移作為檢測(cè)值。技術(shù)要求：十字分劃目鏡的十字線中心應(yīng)與目鏡升圓軸線重合，其偏差為0.01mm。顯像部分出現(xiàn)的問題比較嚴(yán)重。1、光學(xué)系統(tǒng)（1）視場(chǎng)模糊或視場(chǎng)一樣不清晰。（2）像發(fā)閃爍，反差不好。（3）轉(zhuǎn)換物鏡時(shí)不到同焦。（4）即使用高電壓，視場(chǎng)也難以鮮明。2 、粗、微調(diào)部（1）粗調(diào)控制鈕旋轉(zhuǎn)時(shí)發(fā)重。同時(shí)，提供多種觀察方式（如正立像、倒立像等）和視場(chǎng)范圍選擇，滿足不同用戶的觀察習(xí)慣和需求。

(6) 一次充電連續(xù)工作不低于6—8小時(shí)(7) 具有實(shí)時(shí)電量顯示和提醒功能(8) 具備防塵防碰撞，采用工程塑料外殼可折疊手提或肩挎便攜性能好二、圖像采集器：采用1/2″900萬像素工業(yè)CCD成像器，配有金相和宏觀探傷兩種光路傳輸系統(tǒng)可輸出同軸光和環(huán)形光，具有LED光源接口USB接口SD卡存儲(chǔ)等功能。連接鏡頭后可以正置或倒置使用。三、鏡頭：1、總放大倍率100-1000倍2、金相鏡頭有**的光路接口，也可用眼睛直接觀察。3、鏡頭配有吸盤或支架4、各種鏡頭有**的焦距微調(diào)功能2022年奧林巴斯科學(xué)事業(yè)部拆分，成立EVIDENT公司后，繼續(xù)深耕金相顯微鏡產(chǎn)品。崇川區(qū)好的金相顯微鏡操作

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干涉顯微術(shù)圖7 光學(xué)金相顯微術(shù)示意如圖7。其特點(diǎn)是在顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)中增加了特殊設(shè)計(jì)的光學(xué)裝置，使光線 通過時(shí)被分成兩束，一束光通過物鏡，在試樣上反射返回，重新穿過光束分離器進(jìn)入目鏡；另一束光從一個(gè)比較板上反射進(jìn)入目鏡。這兩束反射光在光束分離器上相遇時(shí)會(huì)發(fā)生干涉，利用所產(chǎn)生的干涉條紋的形狀，可以判斷輕微浮凸的空間形態(tài)，并可根據(jù)條紋位移量和相鄰條紋間距之比，定量給出浮凸高度。多光束干涉的發(fā)展，使干涉條紋更為窄銳，從而提高了測(cè)量高度差的靈敏度（見馬氏體相變中的圖3、圖6）。崇川區(qū)好的金相顯微鏡操作

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