鏡片小批量多品種時代，傳統 AOI 換型動輒 2 小時，產能浪費嚴重。優普納裝備采用 100+ 件號配方+磁吸治具，換型時間壓縮至 3 分鐘；轉盤式結構可快速拓展至 4 工位并行，產能翻倍無需二次投資。7 μm 分辨率與 12MP 相機保證檢測精度不隨品種變化；AI 算法自動加載對應缺陷模型，無需人工調試。鏡片缺陷檢測數據長期沉睡，無法反哺工藝改進。優普納裝備內置 SPC 模塊，實時統計缺陷類型、位置、頻率，自動生成柏拉圖、趨勢圖、CPK 報告；AI 算法可關聯缺陷與工藝參數（溫度、壓力、時間），定位異常根因。轉盤式單顆檢測讓每片鏡片數據單獨，避免批量混淆。某光學廠利用優普納 SPC 發現鍍膜前劃痕集中在第 3 工位，調整夾具后缺陷率下降 60%。江蘇優普納科技的光學檢測設備，具備自動標定功能，確保長期檢測穩定性。模塊化內窺鏡缺陷檢測設備定制

快速換型技術助力設備適應柔性生產線的高頻切換需求。在多品種小批量生產模式下，檢測設備需頻繁更換檢測方案，傳統設備換型需 2-3 小時，而新型設備通過參數記憶功能和模塊化設計，換型時間縮短至 10 分鐘以內。操作人員只需在觸摸屏上選擇對應產品型號，設備自動調用預設參數、更換適配夾具，無需專業技術人員調試。某鏡頭代工廠應用該技術后，生產線換型效率提升 12 倍，成功承接多品牌、多規格的代工訂單，產能利用率提高至 90% 以上。無損高精度光學檢測設備訂做價格江蘇優普納科技的缺陷檢測設備，采用2.5D結構光技術，清晰呈現鏡片內部氣泡、水縮等缺陷。

我們的光學透鏡缺陷檢測設備搭載了先進的高精度檢測技術，能夠實現微米級別的測量精度。在對光學透鏡進行檢測時，無論是細微如發絲的劃痕，還是隱藏在鏡片內部極其微小的氣泡，亦或是肉眼幾乎難以察覺的裂紋，都能被設備精確無誤地識別出來。設備運用先進的算法和圖像處理技術，對采集到的光學圖像進行深度分析，能夠精確地判斷缺陷的位置、大小、形狀以及嚴重程度，為您提供極為詳細且準確的檢測數據。這種極高的檢測精度，確保了每一片經過檢測的光學透鏡都能滿足更為嚴苛的光學性能標準，讓您的產品質量得到堅實保障，有效降低次品率，提升產品在市場中的競爭力。

15°傾斜式操作臺面符合人體工學，7英寸觸摸屏支持手套操作模式。界面布局遵循ISO 9241可用性標準，關鍵參數設置不超過3級菜單。報警信息采用圖標+文字雙提示，聲光報警強度可分級調節。料盤裝載高度設定在900mm黃金操作區間，減少作業人員腰部疲勞損傷。檢測結果輸出符合ISO 10110-7光學元件缺陷標準，數據格式支持Q-DAS、Minitab等統計分析軟件直接調用。設備自帶NIST可追溯的標定工具包，每周自動執行像素標定校驗，確保測量數據法定有效性。報告模板滿足IATF 16949文檔控制要求，電子簽名與審計追蹤功能完善。優普納深知數據價值，設備內置2 TB工業SSD，本地保留3年原始圖；同時開放RESTful API，檢測結果200 ms內以JSON格式推送至MES/PLM，支持缺陷坐標、光學參數、操作員工號全程追溯。云端AES-256加密同步，15年可查，滿足FDA 21 CFR Part 11與GDPR要求。現場演示中，審核官隨機指定3年前批次，工程師5秒內調出缺陷圖、工藝參數與操作記錄，順利通過遠程審計，客戶直呼“透明工廠”。江蘇優普納科技的缺陷檢測設備，采用非接觸式檢測，避免二次損傷，保障鏡片品質。

在半導體制造行業，光學透鏡廣泛應用于光刻等關鍵工藝，其質量直接影響芯片的制造精度和性能。光學透鏡缺陷檢測設備在半導體領域的應用，有效識別并分類各種表面缺陷，保障了光學透鏡在半導體制造過程中的可靠性。從晶圓檢測到封裝測試等環節，該設備都發揮著不可或缺的作用。例如，在檢測芯片制造過程中使用的光學透鏡時，能夠快速發現可能影響光刻精度的微小劃痕、雜質等缺陷，避免因透鏡缺陷導致芯片制造出現偏差，提高芯片制造的良品率，推動半導體行業向更高精度、更高集成度的方向發展。江蘇優普納科技的光學透鏡檢測儀，適用于透明材質部件，檢測精度達7μm，行業先進企業。多角度內窺鏡缺陷檢測設備銷售廠家

江蘇優普納科技的鏡片質檢機，采用遠心光學系統，減少成像畸變，提高檢測精度。模塊化內窺鏡缺陷檢測設備定制

在光學鏡片的生產過程中，從白片到鍍膜再到黑片，每個環節都可能出現缺陷。光學透鏡缺陷檢測設備基于先進的技術，如搭載資質技術靈眸OCT模組，能夠進行3D層析結構分析及缺陷檢測，像CT一樣**光學鏡片表面及內部結構，并實時3D呈現缺陷類型、大小及位置，具有微米級分辨率和毫米級穿透深度，檢測深度高到可達10mm。此外，還同步搭配2D相機針對鏡片表面邊緣或黑片油墨區域進行檢測，實現鏡片上、下表面及內部全檢。這種全方面的檢測方式，全方面覆蓋了整個光學鏡片生產過程，有效保障了鏡片的質量，減少了因缺陷產品流入市場帶來的損失。模塊化內窺鏡缺陷檢測設備定制