針對 LED 產品的全生命周期，上海擎奧提供覆蓋從設計研發到報廢回收的全程失效分析服務。在產品設計階段，團隊會結合可靠性設計原理，對 LED 產品可能存在的失效隱患進行提前預判和分析，為設計優化提供依據，降低產品后續失效的風險；在生產環節，通過對生產過程中的樣品進行失效分析，及時發現生產工藝中的問題，幫助企業改進生產流程，提高產品質量穩定性；在產品使用階段，針對出現的失效問題，快速定位原因并提出解決方案，減少客戶的損失；在報廢回收階段，通過失效分析為 LED 產品的回收利用提供技術支持，促進資源的循環利用。多維度的服務讓客戶在 LED 產品的各個階段都能獲得專業的技術保障。芯片在制造過程中受到污染，影響PN結性能，引發漏電問題。普陀區國內LED失效分析案例

在上海浦東新區金橋開發區的擎奧檢測實驗室里，先進的材料分析設備正在為 LED 失效分析提供精確的支撐。針對 LED 產品常見的光衰、色溫偏移等問題，實驗室通過掃描電子顯微鏡（SEM）觀察芯片焊點微觀結構，結合能譜儀（EDS）分析金屬遷移現象，可以快速的定位失效根源。2500 平米的檢測空間內，恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗箱等環境測試設備模擬 LED 在不同工況下的不同工作狀態，配合光譜儀實時監測光參數變化，為失效機理研究提供完整數據鏈。閔行區加工LED失效分析耗材芯片封裝材料與芯片不匹配，產生應力，使芯片出現裂紋。

LED 封裝工藝的失效分析往往需要多設備協同，上海擎奧的綜合檢測能力在此類問題中發揮了重要作用。某款 LED 球泡燈出現的批量死燈現象，通過解剖鏡觀察發現封裝膠與支架的剝離，結合拉力試驗機測試兩者的結合強度，再通過差示掃描量熱儀（DSC）分析封裝膠的玻璃化轉變溫度，確認封裝膠選型不當導致的熱應力失效。針對 COB 封裝 LED 的局部過熱失效，技術人員采用熱阻測試儀測量芯片到散熱基板的熱阻分布，配合有限元仿真軟件模擬熱量傳導路徑，發現固晶膠涂布不均是主要誘因。這些分析幫助客戶優化了封裝工藝流程。

在 LED 失效的壽命評估方面，上海擎奧創新采用加速老化與數據建模相結合的分析方法。針對室內 LED 筒燈的預期壽命不達標的問題，實驗室在 85℃高溫、85% 濕度環境下進行加速老化試驗，每 24 小時記錄一次光通量數據，基于 Arrhenius 模型推算正常使用條件下的壽命曲線，發現熒光粉衰減速度超出預期。對于戶外 LED 投光燈的壽命評估，團隊通過紫外線老化箱模擬陽光照射，結合雨蝕試驗，建立了材料老化與光照強度、降雨頻率的關聯模型，為客戶提供了精確的壽命預測報告，幫助優化產品保修策略。電路保護措施不完善，如無過流、過壓保護，易損壞LED。

在 LED 驅動電路相關的失效分析中，擎奧檢測展現出跨領域的技術整合能力。驅動電路故障是導致 LED 燈具失效的常見原因，涉及電容老化、電阻燒毀、芯片過熱等問題。實驗室不僅能對驅動電路中的元器件進行參數測試和失效模式分析，還能結合 LED 燈具的整體工作環境，模擬不同電壓、電流波動下的電路響應，找出如浪涌沖擊、過流保護失效等深層原因，幫助客戶優化驅動電路設計，提升 LED 系統的整體可靠性。擎奧檢測為客戶提供的 LED 失效分析服務，注重從壽命評估角度提供前瞻性建議。通過加速壽命試驗，團隊可以在短時間內預測 LED 的使用壽命，并結合失效數據分析出影響壽命的關鍵因素。例如，在對某款戶外 LED 路燈的失效分析中，他們通過高溫高濕環境下的加速試驗，提前發現了燈具密封膠耐候性不足的問題，并計算出在實際使用環境中的壽命衰減曲線，為客戶的產品迭代和維護周期制定提供了科學依據。通過LED失效分析，紅外熱成像可定位局部過熱導致的芯片解理面損傷。崇明區加工LED失效分析案例

擎奧檢測解析 LED 潮濕環境下的失效。普陀區國內LED失效分析案例

上海擎奧檢測技術有限公司在 LED 失效分析領域擁有扎實的技術實力，依托 2500 平米的專業實驗室和先進的環境測試、材料分析設備，為客戶提供多維且精細的分析服務。針對 LED 產品在使用過程中出現的各類失效問題，公司的專業團隊會從多個維度開展工作，先通過環境測試設備模擬產品所處的復雜工況，獲取溫度、濕度、振動等關鍵數據，再借助材料分析設備深入觀察 LED 芯片、封裝膠、焊點等部件的微觀變化，從而精細定位失效根源。無論是 LED 光衰、驅動電路故障，還是封裝工藝缺陷導致的失效，團隊都能憑借豐富的經驗和科學的分析方法，為客戶提供詳細的失效模式報告，并給出切實可行的改進建議，助力客戶提升產品的質量。 普陀區國內LED失效分析案例