LPCVD加熱系統(tǒng)是用于提供反應(yīng)所需的高溫的部分，通常由電阻絲或鹵素?zé)艚M成。溫度控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)溫度的部分，通常由溫度傳感器和控制器組成。壓力控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)壓力的部分，通常由壓力傳感器和控制器組成。流量控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調(diào)節(jié)氣體前驅(qū)體的流量的部分，通常由流量計和控制器組成。LPCVD設(shè)備的設(shè)備構(gòu)造還需要考慮以下幾個方面的因素：（1）反應(yīng)室的形狀和尺寸，影響了氣體在反應(yīng)室內(nèi)的流動和分布，從而影響了薄膜的均勻性和質(zhì)量；（2）反應(yīng)室的材料和表面處理，影響了反應(yīng)室壁面上沉積的材料和顆粒污染，從而影響了薄膜的純度和清洗頻率；（3）襯底的放置方式和數(shù)量，影響了襯底之間的間距和方向，從而影響了薄膜的厚度和均勻性；（4）加熱方式和溫度分布，影響了襯底材料的熱損傷和熱預(yù)算，從而影響了薄膜的結(jié)構(gòu)和性能。真空鍍膜在太陽能領(lǐng)域有普遍應(yīng)用。來料真空鍍膜工藝

在真空狀態(tài)下，加熱蒸發(fā)容器中的靶材，使其原子或分子逸出，沉積在目標物體表面，形成固態(tài)薄膜。依蒸鍍材料、基板的種類可分為：抵抗加熱、電子束、高周波誘導(dǎo)、雷射等加熱方式。蒸鍍材料有鋁、亞鉛、金、銀、白金、鎳等金屬材料與可產(chǎn)生光學(xué)特性薄膜的材料，主要有使用SiO2、TiO2、ZrO2、MgF2等氧化物與氟化物。電子在電場的作用下加速飛向基片的過程中與氬原子發(fā)生碰撞，電離出大量的氬離子和電子。氬離子在電場作用下加速轟擊靶材，濺射出大量的靶原子，靶原子沉積在基片表面形成膜。二次電子受到磁場影響，被束縛在靶面的等離子體區(qū)域，二次電子在磁場作用下繞靶面做圓周運動，在運動過程中不斷和氬原子發(fā)生撞擊，電離出大量氬離子轟擊靶材。江蘇真空鍍膜廠商薄膜中存在的各種缺陷是產(chǎn)生本征應(yīng)力的主要原因，這些缺陷一般都是非平衡缺陷，但需要外界給予活化能。

LPCVD技術(shù)在未來還有可能與其他技術(shù)相結(jié)合，形成新的沉積技術(shù)，以滿足不同領(lǐng)域的需求。例如，LPCVD技術(shù)可以與等離子體輔助技術(shù)相結(jié)合，形成等離子體輔助LPCVD（PLPCVD）技術(shù)，以實現(xiàn)更低的沉積溫度、更快的沉積速率、更好的薄膜質(zhì)量和性能等。又如，LPCVD技術(shù)可以與原子層沉積（ALD）技術(shù)相結(jié)合，形成原子層LPCVD（ALLPCVD）技術(shù)，以實現(xiàn)更高的厚度精度、更好的均勻性、更好的界面質(zhì)量和兼容性等。因此，LPCVD技術(shù)在未來還有可能產(chǎn)生新的變化和創(chuàng)新，為各種領(lǐng)域提供更多的可能性和機遇。

目前認為濺射現(xiàn)象是彈性碰撞的直接結(jié)果，濺射完全是動能的交換過程。當正離子轟擊陰極靶，入射離子撞擊靶表面上的原子時，產(chǎn)生彈性碰撞，它直接將其動能傳遞給靶表面上的某個原子或分子，該表面原子獲得動能再向靶內(nèi)部原子傳遞，經(jīng)過一系列的級聯(lián)碰撞過程，當其中某一個原子或分子獲得指向靶表面外的動量，并且具有了克服表面勢壘(結(jié)合能)的能量，它就可以脫離附近其它原子或分子的束縛，逸出靶面而成為濺射原子。ITO薄膜的磁控濺射靶主要分為InSn合金靶、In2O3-SnO2陶瓷靶兩類。在用合金靶制備ITO薄膜時,由于濺射過程中作為反應(yīng)氣體的氧會和靶發(fā)生很強的電化學(xué)反應(yīng),靶面覆蓋一層化合物,使濺射蝕損區(qū)域縮得很小(俗稱“靶中毒”),以至很難用直流濺射的方法穩(wěn)定地制備出高質(zhì)的ITO膜。陶瓷靶因能抑制濺射過程中氧的選擇性濺射,能穩(wěn)定地將金屬銦和錫與氧的反應(yīng)物按所需的化學(xué)配比穩(wěn)定地成膜,故無中毒現(xiàn)象,工藝窗口寬,穩(wěn)定性好。熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化。

高頻淀積的薄膜，其均勻性明顯好于低頻，這時因為當射頻電源頻率較低時，靠近極板邊緣的電場較弱，其淀積速度會低于極板中心區(qū)域，而頻率高時則邊緣和中心區(qū)域的差別會變小。4.射頻功率，射頻的功率越大離子的轟擊能量就越大，有利于淀積膜質(zhì)量的改善。因為功率的增加會增強氣體中自由基的濃度，使淀積速率隨功率直線上升，當功率增加到一定程度，反應(yīng)氣體完全電離，自由基達到飽和，淀積速率則趨于穩(wěn)定。5.氣壓，形成等離子體時，氣體壓力過大，單位內(nèi)的反應(yīng)氣體增加，因此速率增大，但同時氣壓過高，平均自由程減少，不利于淀積膜對臺階的覆蓋。氣壓太低會影響薄膜的淀積機理，導(dǎo)致薄膜的致密度下降，容易形成針狀態(tài)缺陷；氣壓過高時，等離子體的聚合反應(yīng)明顯增強，導(dǎo)致生長網(wǎng)絡(luò)規(guī)則度下降，缺陷也會增加；6.襯底溫度，襯底溫度對薄膜質(zhì)量的影響主要在于局域態(tài)密度、電子遷移率以及膜的光學(xué)性能，襯底溫度的提高有利于薄膜表面懸掛鍵的補償，使薄膜的缺陷密度下降。襯底溫度對淀積速率的影響小，但對薄膜的質(zhì)量影響很大。溫度越高，淀積膜的致密性越大，高溫增強了表面反應(yīng)，改善了膜的成分真空鍍膜過程需嚴格監(jiān)控鍍膜速度。廈門UV真空鍍膜

真空鍍膜過程中需確保鍍膜均勻性。來料真空鍍膜工藝

LPCVD設(shè)備中的薄膜材料的質(zhì)量和性能可以通過多種方法進行表征和評價。常見的表征和評價方法有以下幾種：（1）厚度測量法，是指通過光學(xué)或電子手段來測量薄膜的厚度，如橢圓偏振儀、納米壓痕儀、電子顯微鏡等；（2）成分分析法，是指通過光譜或質(zhì)譜手段來分析薄膜的化學(xué)成分，如X射線光電子能譜（XPS）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）、原子發(fā)射光譜（AES）等；（3）結(jié)構(gòu)表征法，是指通過衍射或散射手段來表征薄膜的晶體結(jié)構(gòu)，如X射線衍射（XRD）、拉曼光譜（Raman）、透射電子顯微鏡（TEM）等；（4）性能測試法，是指通過電學(xué)或力學(xué)手段來測試薄膜的物理性能，如電阻率、介電常數(shù)、硬度、應(yīng)力等。來料真空鍍膜工藝