從對準信號上分，主要包括標記的顯微圖像對準、基于光強信息的對準和基于相位信息對準。對準法則是光刻只是把掩膜版上的Y軸與晶園上的平邊成90o，如圖所示。接下來的掩膜版都用對準標記與上一層帶有圖形的掩膜對準。對準標記是一個特殊的圖形，分布在每個芯片圖形的邊緣。經過光刻工藝對準標記就永遠留在芯片表面，同時作為下一次對準使用。對準方法包括：a、預對準，通過硅片上的notch或者flat進行激光自動對準b、通過對準標志，位于切割槽上。另外層間對準，即套刻精度,保證圖形與硅片上已經存在的圖形之間的對準。濕法刻蝕較普遍、也是成本較低的刻蝕方法，大部份的濕刻蝕液均是各向同性的。湖北微納加工平臺

雙面對準光刻機采用底部對準（BSA）技術，能實現“雙面對準，單面曝光”。該設備對準精度高，適用于大直徑基片。在對準過程中，圖形處理技術起到了至關重要的作用。其基本工作原理是將CCD攝像頭采集得到的連續模擬圖像信號經圖像采集卡模塊的D/A轉換，變為數字圖像信號，然后再由圖像處理模塊完成對數字圖像信號的運算處理，這主要包括圖像預處理、圖像的分割、匹配等算法的實現。為有效提取對準標記的邊緣，對獲取的標記圖像通常要進行預處理以便提取出圖像中標記的邊緣，這包括：減小和濾除圖像中的噪聲，增強圖像的邊緣等。光刻膠根據其感光樹脂的化學結構也可以分為光交聯性、光聚合型、光分解型和化學放大型。福建微納加工工藝3D光刻技術為半導體封裝開辟了新路徑。

用O2等離子體對樣品整體處理，以清理顯影后可能的非望殘留。特別是負膠但也包括正膠，在顯影后會在原來膠-基板界面處殘留聚合物薄層，這個問題在結構小于1um或大深-寬比的結構中更為嚴重。當然過程中留膠厚度也會降低，但是影響不會太大。在刻蝕或鍍膜之前需要硬烤以去除殘留的顯影液和水，并退火以改善由于顯影過程滲透和膨脹導致的界面接合狀況。同時提高膠的硬度和提高抗刻蝕性。硬烤溫度一般高達120度以上，時間也在20分左右。主要的限制是溫度過高會使圖形邊緣變差以及刻蝕后難以去除。

在勻膠工藝中，轉速的快慢和控制精度直接關系到旋涂層的厚度控制和膜層均勻性。勻膠機的轉速精度是一項重要的指標。用來吸片的真空泵一般選擇無油泵，上配有壓力表，同時現在很多勻膠機有互鎖，未檢測的真空將不會啟動。有時會出現膠液進入真空管道的現象，有的勻膠機廠商會在某一段管路加一段"U型"管路，降低異物進入真空管道的影響。光刻膠主要應用于半導體、顯示面板與印制電路板等三大領域。其中，半導體光刻膠技術難度高，主要被美日企業壟斷。據相關研究機構數據顯示，全球光刻膠市場中，LCD光刻膠、PCB光刻膠、半導體光刻膠產品占比較為平均。相比之下，中國光刻膠生產能力主要集中PCB光刻膠，占比高達約94%；半導體光刻膠由于技術壁壘較高占約2%。此外，光刻膠是生產28nm、14nm乃至10nm以下制程的關鍵，被國外巨頭壟斷，國產化任重道遠。光刻過程中需避免光線的衍射和散射。

基于掩模板圖形傳遞的光刻工藝可制作宏觀尺寸的微細結構，受光學衍射的極限，適用于微米以上尺度的微細結構制作，部分優化的光刻工藝可能具有亞微米的加工能力。例如，接觸式光刻的分辨率可能到達0.5μm，采用深紫外曝光光源可能實現0.1μm。但利用這種光刻技術實現宏觀面積的納米/亞微米圖形結構的制作是可欲而不可求的。近年來，國內外比較多學者相繼提出了超衍射極限光刻技術、周期減小光刻技術等，力求通過曝光光刻技術實現大面積的亞微米結構制作，但這類新型的光刻技術尚處于實驗室研究階段。光刻技術的發展需跨領域合作，融合多學科知識。湖北微納加工平臺

雙面鍍膜光刻是針對硅及其它半導體基片發展起來的加工技術。湖北微納加工平臺

光刻機被稱作“現代光學工業之花”，生產制造全過程極為繁雜，一臺光刻機的零配件就達到10萬個。ASML光刻機也不是荷蘭以一國之力造出的，ASML公司的光刻機采用了美國光源設備及技術工藝，也選用了德國卡爾蔡司的光學鏡頭先進設備，絕大多數零部件都需用從海外進口，匯聚了全世界科技強國的科技，才可以制作出一臺光刻機。上海微電子占有著中國80%之上的市場占有率，現階段中國銷售市場上絕大多數智能機都采用了上海微電子的現代化封裝光刻機技術，而先前這種光刻機都在進口。現階段，國產光刻機的困難關鍵在于沒法生產制造高精密的零配件，ASML的零配件來源于美國、德國、日本等發達國家，而現階段在我國還無法掌握這種技術，也很難買到。現階段，上海微電子能夠生產加工90nm的光刻機，而ASML能夠生產制造7nm乃至5nm的EUV光刻機，相差還是非常大。湖北微納加工平臺