光刻工藝就是將光學(xué)掩膜版的圖形轉(zhuǎn)移至光刻膠中。掩膜版按基板材料分為樹脂和玻璃基板，其中玻璃基板又包含石英玻璃，硅硼玻璃，蘇打玻璃等，石英玻璃硬度高，熱膨脹系數(shù)低但價格較高等主要用于高精度領(lǐng)域；按光學(xué)掩膜版的遮光材料可分為乳膠遮光模和硬質(zhì)遮光膜，硬質(zhì)遮光膜又細分為鉻，硅，硅化鉬，氧化鐵等。在半導(dǎo)體領(lǐng)域，鉻-石英版因其性能穩(wěn)定，耐用性，精度高等在該領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。我國的光學(xué)掩膜版制作始于20世紀(jì)60年代，當(dāng)時基板主要進口日本“櫻花”玻璃及美國柯達玻璃。1978年，我國大連玻璃廠當(dāng)時實現(xiàn)制版玻璃的產(chǎn)業(yè)化，成品率10%左右。80年代后期，基板主要采用平拉玻璃。到90年代，浮法玻璃技術(shù)技術(shù)較為成熟，開始使用浮法玻璃作為基板，2005年使用超白浮法玻璃作為基板。2010年以后，光掩模基板石英玻璃開始投產(chǎn)，其質(zhì)量能基本滿足IC產(chǎn)業(yè)光掩模版基板的高精度需求。隨著市場對大直徑硅片的需求，大尺寸玻璃基板也同時趨向于大型化，對光掩模石英玻璃基板也提出了更高的要求。精確的化學(xué)機械拋光（CMP）是光刻后的必要步驟。天津材料刻蝕服務(wù)

從對準(zhǔn)信號上分，主要包括標(biāo)記的顯微圖像對準(zhǔn)、基于光強信息的對準(zhǔn)和基于相位信息對準(zhǔn)。對準(zhǔn)法則是光刻只是把掩膜版上的Y軸與晶園上的平邊成90o，如圖所示。接下來的掩膜版都用對準(zhǔn)標(biāo)記與上一層帶有圖形的掩膜對準(zhǔn)。對準(zhǔn)標(biāo)記是一個特殊的圖形，分布在每個芯片圖形的邊緣。經(jīng)過光刻工藝對準(zhǔn)標(biāo)記就永遠留在芯片表面，同時作為下一次對準(zhǔn)使用。對準(zhǔn)方法包括：a、預(yù)對準(zhǔn)，通過硅片上的notch或者flat進行激光自動對準(zhǔn)b、通過對準(zhǔn)標(biāo)志，位于切割槽上。另外層間對準(zhǔn)，即套刻精度,保證圖形與硅片上已經(jīng)存在的圖形之間的對準(zhǔn)。浙江材料刻蝕加工廠商對于透明基片的雙面光刻加工，其準(zhǔn)標(biāo)記可靈活設(shè)計。

光刻機經(jīng)歷了5代產(chǎn)品發(fā)展，每次改進和創(chuàng)新都明顯提升了光刻機所能實現(xiàn)的工藝節(jié)點。為接觸式光刻機。曝光方式為掩模版與半導(dǎo)體基片之間靠控制真空度實現(xiàn)緊密接觸，使用光源分別為g線和i線。接觸式光刻機由于掩模與光刻膠直接接觸，所以易受污染，掩模版和基片容易受到損傷，掩模版壽命短。第二代為接近式光刻機。曝光方式為掩模版與半導(dǎo)體基片之間有微米級別的間隙，掩模版不容易受到損傷，掩模版壽命長，但掩模版與基片之間的間隙也導(dǎo)致成像質(zhì)量受到影響，分辨率下降。

濕法刻蝕是集成電路制造工藝采用的技術(shù)之一。雖然由于受其刻蝕的各向同性的限制，使得大部分的濕法刻蝕工藝被具有各向異性的干法刻蝕替代，但是它在尺寸較大的非關(guān)鍵層清洗中依然發(fā)揮著重要的作用。尤其是在對氧化物去除殘留與表皮剝離的刻蝕中，比干法刻蝕更為有效和經(jīng)濟。濕法刻蝕的對象主要有氧化硅、氮化硅、單晶硅或多晶硅等。濕法刻蝕氧化硅通常采用氫氟酸（HF）為主要化學(xué)載體。為了提高選擇性，工藝中采用氟化銨緩沖的稀氫氟酸。為了保持pH值穩(wěn)定，可以加入少量的強酸或其他元素。摻雜的氧化硅比純氧化硅更容易腐蝕。濕法化學(xué)剝離(WetRemoval）主要是為了去除光刻膠和硬掩模（氮化硅）。熱磷酸（H3PO4）是濕法化學(xué)剝離去除氮化硅的主要化學(xué)液，對于氧化硅有較好的選擇比。在進行這類化學(xué)剝離工藝前，需要將附在表面的氧化硅用HF酸進行預(yù)處理，以便將氮化硅均勻地消除掉。光刻膠的主要功能是在整個區(qū)域進行化學(xué)或機械處理工藝時，保護光刻膠下的襯底部分。

隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進步，光刻機的光源類型也在不斷發(fā)展。從傳統(tǒng)的汞燈到現(xiàn)代的激光器、等離子體光源和極紫外光源，每種光源都有其獨特的優(yōu)點和適用場景。汞燈作為傳統(tǒng)的光刻機光源，具有成本低、易于獲取和使用等優(yōu)點。然而，其光譜范圍較窄，無法滿足一些特定的制程要求。相比之下，激光器具有高亮度、可調(diào)諧等特點，能夠滿足更高要求的光刻制程。此外，等離子體光源則擁有寬波長范圍、較高功率等特性，可以提供更大的光刻能量。極紫外光源（EUV）作為新一代光刻技術(shù)，具有高分辨率、低能量消耗和低污染等優(yōu)點。然而，EUV光源的制造和維護成本較高，且對工藝環(huán)境要求苛刻。因此，在選擇光源類型時，需要根據(jù)具體的工藝需求和成本預(yù)算進行權(quán)衡！納米級光刻已成為芯片制造的標(biāo)準(zhǔn)要求。安徽材料刻蝕加工廠

我國光學(xué)掩膜版的發(fā)展。天津材料刻蝕服務(wù)

掩膜對準(zhǔn)光刻及步進投影式光刻機中常用汞燈作為曝光光源，其發(fā)射光譜包括g-(波長435nm)、h-(波長405nm)和i-線(波長365nm)。一個配有350wHg燈的6英寸掩模對準(zhǔn)器通常能獲得大約光輸出。15–30mw/cm2，i-線強度通常大約占全部三條線總光強的40%。LED作為近年來比較常見的UV光源在掩膜對準(zhǔn)式光刻系統(tǒng)中比較常見，其相比于汞燈光源其優(yōu)點是冷光源，不會對光刻膠產(chǎn)生輻照加熱，避免光刻膠受熱變形。除了Hg燈，具有合適波長的激光器也是光刻膠曝光的合適光源。由于光引發(fā)劑的光譜吸收帶不會在某一特定波長突然終止，相應(yīng)的適應(yīng)劑量也會暴露在比數(shù)據(jù)表中所示范圍高約10nm的波長處，但這延長了需要直寫的時間。另外，在干涉光刻中也常常用的例如He-Cd（328nm）作為光源，其同樣能對大部分i-線膠進行曝光。天津材料刻蝕服務(wù)