光譜共焦技術的非接觸測量

Irix ?是一系列基于彩色共焦技術的非接觸式傳感器，能夠測量對白光透明的任何材料上的距離和厚度。

Irix ? 可同時測量5層材料。該控制器可與一大系列具有不同測量范圍、機械尺寸和計量規范的光學探針結合使用，以滿足多樣化的應用需求。

控制器有兩種型號可供選擇：帶7英寸集成顯示屏，或帶有用于文件柜.display或采用盲板形式，機柜采用帶DIN導軌連接。

Irix控制器系列由不同型號（1個和2個同步通道）組成，結合各種各樣的光學元件（Marposs和STIL），可提供優良的計量性能（高達納米）。Irix以比較高的質量標準制造，是一種堅固可靠的產品，適合在工業環境中使用。

彩色共焦技術允許測量任何能夠反射白光的材料（例如：金屬、玻璃、塑料、漆膜、液體）。

非接觸式測量適用于所有需要在不接觸目標的情況下進行測量的情況一個光學探針可同時測量多達五個透明層高測量精度可互換傳感器；

Irix可保存多達32張地圖，以便使用比較合適的探頭。

集成7“顯示器不受熱噪聲和電噪聲影響的無源光學探頭SDK和協議命令的可用性，便于集成到任何系統中縮小測量點動態采集用編碼器同步測量（空間同步）粗糙度測量 光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，用戶的信賴之選，有需求可以來電咨詢！河北3D 視覺測量傳感器原理

光譜共焦傳感器可以測量幾乎任何類型的材料（玻璃，陶瓷，塑料，半導體，金屬，織物，紙張，皮革等）制成的樣品。它們可以測量拋光表面（鏡子，鏡片，晶圓）以及粗糙表面。

光斑尺寸、比較大采樣斜率、工作距離和測量范圍，分別是什么概念

比較大采樣斜率（M，簡稱MSS），是光軸和樣品表面法線之間的比較大角度，在此角度條件下測量依然可行。MSS是測量點處的實際局部斜率，而非理論上“平均曲面”的斜率。此功能*對鏡面(鏡面狀)表面有重要意義；對散射表面，比較大采樣斜率更高。對于所有類型的采樣，采集信號的強度都隨著傾斜角度的增加而減小。光斑尺寸(Spotsize)，指光點的理論尺寸，即光斑的大小。工作距離(WorkingDistance)，光學筆前端到量程近端的距離。測量范圍(MeasuringRange，簡稱MR)，0到比較大可量測值的區間范圍。又叫測量行程。 內蒙古線光譜共焦傳感器廠家STIL光譜共焦傳感器對被測物體表面顏色和光潔度無特殊要求，無論物體表面是漫反射或高光面，甚至是鏡面。

測量狀態指示燈包含三個LED信號燈，分別顯示系統錯誤、光信號強度和量程預警。系統錯誤信號燈指示傳輸數據是否過載，光信號強度指示燈顯示當前光強信號是否超過5%，而量程預警指示燈則顯示測量樣品是否在量程范圍內。系統錯誤信號燈正常狀態為關閉狀態，即不顯示任何顏色光。但當使用RS232或RS422接口同時傳輸數據時，測量頻率和傳輸數據格式都可能影響數據傳輸量。當傳輸數據量過載時，該信號燈點亮為紅色狀態，此時則應該適當降低測量頻率或更改數據傳輸格式。此外，選用USB方式傳輸則會較少遭遇數據過載情況。

什么是光譜共焦干涉儀？

非接觸式輪廓測量技術中的測量精度通常受到機械振動和微掃描臺位置不準確性的限制。為了從這些環境干擾中解放出來，開發了一種新的對振動不敏感的干涉測量方法。采用這種新型光譜共焦干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的潛在亞納米級精度是極其有效的。

原理：

干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。是光譜共焦傳感器等光學檢測儀器儀表中必然涉及到的概念。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。發達系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用色彩共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。 光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，用戶的信賴之選，歡迎您的來電！

注意事項：?當整理光纖線時避免將其彎曲成曲率半徑小于20mm的圓弧。?當不用光纖連接時，為了避免光纖頭被污染，插口必須被保護蓋蓋住，否則可能導致傳感器出故障。

你知道光譜共焦傳感器為什么采用LED白光嗎？

其實大家知道混色光是由眾多不同波長光線組成的，我們稱之為光譜。下面跟著小編一起來了解下光譜共焦傳感器使用LED白光的原因吧：所有不同波長的可見光重疊在一起，形成白光。人類肉眼可見光的波長范圍從400nm(藍光)到700nm(紅光)。通過透鏡，不同顏色的光不會聚焦到同一個點上。這種現象稱為色差透鏡錯誤或者叫色差透鏡偏差。 馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器，有想法可以來我司咨詢！河北馬波斯傳感器原理

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什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環境干擾，開發了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。

光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。 河北3D 視覺測量傳感器原理

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