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視頻圖像處理對準技術，是指在光刻套刻的過程中，掩模圖樣與硅片基板之間基本上只存在相對旋轉和平移，充分利用這一有利條件，結合機器視覺映射技術，利用相機采集掩模圖樣與硅片基板的對位標記信號。此種方法看上去雖然與雙目顯微鏡對準有些類似，但是實質其實有所不同。場像處理對準技術是通過CCDS攝像對兩個對位標記圖像進行采集、濾波、特征提取等處理，通過圖像處理單元進行精確定位和匹配參數計算，求得掩模圖樣與硅片基板之間的相對旋轉和平移量，然后進行相位補償和平移量補償，自動完成對準的過程。其光源一般是寬帶的鹵素燈，波長在550~800nm。相對于其他的對準方式其具有對準精度高、結構簡單、可操作性強、效率高的優勢...

剝離工藝（lift-off）是指在有光刻膠圖形的掩膜上鍍膜后，再去除光刻膠獲得圖案化的金屬的工藝。在剝離工藝中，有幾種關鍵因素影響得到的金屬形貌。1.光刻膠的厚度。光刻膠厚度需大于金屬厚度，一般光刻膠厚度在金屬厚度的三倍以上膠面上的金屬更易成功剝離。2.光刻膠種類。紫外光刻中，正膠光刻膠一般為“正梯形”，負膠光刻膠側壁形貌一般為“倒梯性”。“倒梯形”的光刻膠更容易剝離，故在剝離工藝中常使用負膠。3.鍍膜工藝。蒸發鍍膜相比濺射鍍膜在光刻膠側壁更少鍍上金屬，因此蒸發鍍膜更易剝離。氧等離子普遍用于光刻膠去除。中山硅片光刻光刻機經歷了5代產品發展，每次改進和創新都明顯提升了光刻機所能實現的工藝節點。為...

曝光后烘烤是化學放大膠工藝中很關鍵，也是反應機理很復雜的一道工序。后烘過程中，化學放大膠內存在多種反應機制，情況復雜并相互影響。例如各反應基團的擴散，蒸發將導致抗蝕刑的組成分布梯度變化：基質樹脂中的去保護基團會引起膠膜體積增加但當烘烤溫度達到光刻膠的玻璃化溫度時基質樹脂又并始變得稠密兩者同時又都會影響膠膜中酸的擴散，且影響作用相反。這眾多的反應機制都將影響到曝光圖形，因此烘烤的溫度、時間和曝光與烘烤之間停留的時間間隔都是影響曝光圖形線寬的重要因素。TMAH稀溶液在光刻中普遍用于光刻膠的顯影。真空鍍膜工藝涂膠工序是圖形轉換工藝中重要的步驟。涂膠的質量直接影響到所加工器件的缺陷密度。為了保證線寬的...

厚膠光學光刻具有工藝相對簡單、與現有IC工藝流程兼容性好、制作成本低等優點，是用來制作大深度微光學、微機械、微流道結構元件的一種很重要的方法和手段，具有廣闊的應用前景，因而是微納加工技術研究中十分活躍的領域。厚膠光刻是一個多參量的動態變化過程，多種非線性畸變因素的存在，使得對其理論和實驗的研究，與薄膠相比要復雜得多。厚層光刻膠顯影后抗蝕劑浮雕輪廓不僅可以傳遞圖形，而且可以直接作為工作部件、微機械器件封裝材料等。例如SU—8光刻膠具有良好的力學特性，可直接作為微齒輪、微活塞等部件的工作材料。隨著厚膠光學光刻技術的成熟和完善，該技術不僅可以制作大深度、大深寬比臺階型微結構元件，而且可以制作大深度連...

光刻是集成電路和半導體器件制造工藝中的關鍵性技術，其工藝質量直接影響器件成品率、可靠性、器件性能以及使用壽命等參數指標的穩定和提高，就目前光刻工藝而言，工藝設備的穩定性、工藝材料以及人工參與的影響等都會對后續器件成品率及可靠性產生影響。利用光刻機發出的光通過具有圖形的光罩對涂有光刻膠的薄片曝光，光刻膠見光后會發生性質變化，從而使光罩上得圖形復印到薄片上，從而使薄片具有電子線路圖的作用。這就是光刻的作用，類似照相機照相。照相機拍攝的照片是印在底片上，而光刻刻的不是照片，而是電路圖和其他電子元件。簡單點來說，光刻機就是放大的單反，光刻機就是將光罩上的設計好集成電路圖形通過光線的曝光印到光感材料上，...

基于掩模板圖形傳遞的光刻工藝可制作宏觀尺寸的微細結構，受光學衍射的極限，適用于微米以上尺度的微細結構制作，部分優化的光刻工藝可能具有亞微米的加工能力。例如，接觸式光刻的分辨率可能到達0.5μm，采用深紫外曝光光源可能實現0.1μm。但利用這種光刻技術實現宏觀面積的納米/亞微米圖形結構的制作是可欲而不可求的。近年來，國內外比較多學者相繼提出了超衍射極限光刻技術、周期減小光刻技術等，力求通過曝光光刻技術實現大面積的亞微米結構制作，但這類新型的光刻技術尚處于實驗室研究階段。底部對準（ BSA）技術，能實現“ 雙面對準，單面曝光”。山東紫外光刻光源的穩定性對于光刻工藝的一致性和可靠性至關重要。在光刻過...

厚膠光學光刻具有工藝相對簡單、與現有IC工藝流程兼容性好、制作成本低等優點，是用來制作大深度微光學、微機械、微流道結構元件的一種很重要的方法和手段，具有廣闊的應用前景，因而是微納加工技術研究中十分活躍的領域。厚膠光刻是一個多參量的動態變化過程，多種非線性畸變因素的存在，使得對其理論和實驗的研究，與薄膠相比要復雜得多。厚層光刻膠顯影后抗蝕劑浮雕輪廓不僅可以傳遞圖形，而且可以直接作為工作部件、微機械器件封裝材料等。例如SU—8光刻膠具有良好的力學特性，可直接作為微齒輪、微活塞等部件的工作材料。隨著厚膠光學光刻技術的成熟和完善，該技術不僅可以制作大深度、大深寬比臺階型微結構元件，而且可以制作大深度連...

對于透明基片的雙面光刻加工，其準標記可靈活設計，沿目鏡的光軸上方的圖案區域如果是不透光的，該區域的對準標記可以簡單設計成透光十字或透光方框作為對準標記。如果目鏡光軸上方掩模板圖案區域是透光的，該區域設計的對準標記可以設計成十字型或方框。不管是十字型還是方框型，都是參照內部的邊和角進行精確對準。綜合考慮到物距不一成像大小不同的因素，兩塊掩模板的對準標記也可以設計成大小不一的，以掩模板和基片標記成像方便觀測對準為原則。雙面光刻調制盤作為光路一部分用于約束光束，加工完成后，要用不透明的涂料涂覆標記圖案及搜索線即可，即便沒有搜索線，由于小方框對準標記是透光的，也不免要用涂料涂覆，涂料對于測量狹縫和機械...

光刻膠旋涂是特別是厚膠的旋涂和方形襯底勻膠時，會在襯底的邊緣形成膠厚的光刻膠邊即是所謂的邊膠，即光刻膠的邊緣突起，在使用接觸式光刻的情況下會導致光刻膠曝光的圖案分辨率低、尺寸誤差大或顯影后圖案的側壁不陡直等。如果無法通過自動化設備完成去邊角工藝（EBR）的話，以通過以下措施幫助減少/消除邊膠:盡可能使用圓形基底；使用高加速度，高轉速；在前烘前等待一段時間；調整良好旋涂腔室保證襯底與襯底托盤之間緊密接觸；非圓形襯底:如有可能的話，可將襯底邊緣有邊珠的位置一起裁切掉，或用潔凈間的刷子將邊膠刷洗掉。光刻過程中，光源的純凈度至關重要。山東光刻泛曝光是在不使用掩膜的曝光過程，會對未暴露的光刻膠區域進行曝...

剝離工藝（lift-off）是指在有光刻膠圖形的掩膜上鍍膜后，再去除光刻膠獲得圖案化的金屬的工藝。在剝離工藝中，有幾種關鍵因素影響得到的金屬形貌。1.光刻膠的厚度。光刻膠厚度需大于金屬厚度，一般光刻膠厚度在金屬厚度的三倍以上膠面上的金屬更易成功剝離。2.光刻膠種類。紫外光刻中，正膠光刻膠一般為“正梯形”，負膠光刻膠側壁形貌一般為“倒梯性”。“倒梯形”的光刻膠更容易剝離，故在剝離工藝中常使用負膠。3.鍍膜工藝。蒸發鍍膜相比濺射鍍膜在光刻膠側壁更少鍍上金屬，因此蒸發鍍膜更易剝離。底部對準（ BSA）技術，能實現“ 雙面對準，單面曝光”。湖北接觸式光刻二氧化硅的濕法刻蝕通常使用HF。因為1∶1的HF...

濕法刻蝕利用化學溶液溶解晶圓表面的材料，達到制作器件和電路的要求。濕法刻蝕化學反應的生成物是氣體、液體或可溶于刻蝕劑的固體。包括三個基本過程：刻蝕、沖洗和甩干。濕法蝕刻的微觀反應過程，首先溶液里的反應物利用濃度差通過擴散作用達到被蝕刻薄膜表面，然后反應物與薄膜表面的分子產生化學反應，并產生各種生成物，生成物通過擴散作用到達溶液中，隨著溶液被排出。濕法蝕刻的影響因素分別為：反應溫度，溶液濃度，蝕刻時間和溶液的攪拌作用。根據化學反應原理，溫度越高，反應物濃度越大，蝕刻速率越快，蝕刻時間越短，攪拌作用可以加速反應物和生成物的質量傳輸，相當于加快擴散速度，增加反應速度。濕法蝕刻的影響因素分別為：反應溫...

濕法蝕刻工藝的原理是使用化學溶液將被刻蝕固體材料轉化為液體化合物。選擇性非常高，是因為所使用的腐蝕液可以非常精確地腐蝕特定薄膜。對于大多數刻蝕方案，選擇性大于100:1。濕法腐蝕必須滿足以下要求：1.不得腐蝕掩模層；2.選擇性必須高；3.蝕刻過程必須能夠通過用水稀釋來停止；4.反應產物是氣態的少；5.整個過程中的蝕刻速率始終保持恒定；6.反應產物一般是可溶，以避免顆粒；7.環境安全和廢液易于處置。光刻膠的粘度是一個非常重要的參數，它對指導光刻膠的涂膠至為重要。黏度（viscosity）用于衡量光刻膠液體的可流動性。納米級光刻已成為芯片制造的標準要求。貴州光刻加工視頻圖像處理對準技術，是指在光刻...

掩膜對準光刻及步進投影式光刻機中常用汞燈作為曝光光源，其發射光譜包括g-(波長435nm)、h-(波長405nm)和i-線(波長365nm)。一個配有350wHg燈的6英寸掩模對準器通常能獲得大約光輸出。15–30mw/cm2，i-線強度通常大約占全部三條線總光強的40%。LED作為近年來比較常見的UV光源在掩膜對準式光刻系統中比較常見，其相比于汞燈光源其優點是冷光源，不會對光刻膠產生輻照加熱，避免光刻膠受熱變形。除了Hg燈，具有合適波長的激光器也是光刻膠曝光的合適光源。由于光引發劑的光譜吸收帶不會在某一特定波長突然終止，相應的適應劑量也會暴露在比數據表中所示范圍高約10nm的波長處，但這延長...

鋁（Aluminium）是一種銀白色輕金屬，密度為2.70g/cm3。熔點660℃。易溶于稀硫酸、硝酸、鹽酸、氫氧化鈉和氫氧化鉀溶液，難溶于水。在常溫下能形成一層防止金屬腐蝕的氧化膜。鋁的濕法刻蝕溶液主要是磷酸、硝酸、醋酸以及水的混合溶液，其中，磷酸為主腐蝕液，硝酸為氧化劑、催化劑，醋酸作緩沖劑、活性劑，改善表面壓力；腐蝕液溫度越高，腐蝕速率越快。光刻工藝使用的光源為紫外全譜，之后慢慢發展到使用G線和I線紫外光作為光源。在G線和I線光刻工藝中，光刻膠的基體材料主要為酚醛樹脂，其由對甲酚、間甲酚與甲醛縮合得到，采用的感光化合物為重氮萘醌化合物。其曝光顯影機理主要為：（1）在未曝光區，重氮萘醌與光...

雙面對準光刻機采用底部對準（BSA）技術，能實現“雙面對準，單面曝光”。該設備對準精度高，適用于大直徑基片。在對準過程中，圖形處理技術起到了至關重要的作用。其基本工作原理是將CCD攝像頭采集得到的連續模擬圖像信號經圖像采集卡模塊的D/A轉換，變為數字圖像信號，然后再由圖像處理模塊完成對數字圖像信號的運算處理，這主要包括圖像預處理、圖像的分割、匹配等算法的實現。為有效提取對準標記的邊緣，對獲取的標記圖像通常要進行預處理以便提取出圖像中標記的邊緣，這包括：減小和濾除圖像中的噪聲，增強圖像的邊緣等。光刻膠根據其感光樹脂的化學結構也可以分為光交聯性、光聚合型、光分解型和化學放大型。光刻對準技術是曝光前...

視頻圖像處理對準技術，是指在光刻套刻的過程中，掩模圖樣與硅片基板之間基本上只存在相對旋轉和平移，充分利用這一有利條件，結合機器視覺映射技術，利用相機采集掩模圖樣與硅片基板的對位標記信號。此種方法看上去雖然與雙目顯微鏡對準有些類似，但是實質其實有所不同。場像處理對準技術是通過CCDS攝像對兩個對位標記圖像進行采集、濾波、特征提取等處理，通過圖像處理單元進行精確定位和匹配參數計算，求得掩模圖樣與硅片基板之間的相對旋轉和平移量，然后進行相位補償和平移量補償，自動完成對準的過程。其光源一般是寬帶的鹵素燈，波長在550~800nm。相對于其他的對準方式其具有對準精度高、結構簡單、可操作性強、效率高的優勢...

濕法蝕刻工藝的原理是使用化學溶液將被刻蝕固體材料轉化為液體化合物。選擇性非常高，是因為所使用的腐蝕液可以非常精確地腐蝕特定薄膜。對于大多數刻蝕方案，選擇性大于100:1。濕法腐蝕必須滿足以下要求：1.不得腐蝕掩模層；2.選擇性必須高；3.蝕刻過程必須能夠通過用水稀釋來停止；4.反應產物是氣態的少；5.整個過程中的蝕刻速率始終保持恒定；6.反應產物一般是可溶，以避免顆粒；7.環境安全和廢液易于處置。光刻膠的粘度是一個非常重要的參數，它對指導光刻膠的涂膠至為重要。黏度（viscosity）用于衡量光刻膠液體的可流動性。目前，光刻膠原料仍大量依賴進口。河南功率器件光刻第三代為掃描投影式光刻機。中間掩...

光刻（Photolithography)是一種圖形轉移的方法，在微納加工當中不可或缺的技術。光刻是一個比較大的概念，其實它是有多步工序所組成的。1.清洗：清洗襯底表面的有機物。2.旋涂：將光刻膠旋涂在襯底表面。3.曝光。將光刻版與襯底對準，在紫外光下曝光一定的時間。4.顯影：將曝光后的襯底在顯影液下顯影一定的時間，受過紫外線曝光的地方會溶解在顯影液當中。5.后烘。將顯影后的襯底放置熱板上后烘，以增強光刻膠與襯底之前的粘附力。光刻誤差校正技術明顯提高了芯片制造的良品率。深硅刻蝕材料刻蝕版廠家用O2等離子體對樣品整體處理，以清理顯影后可能的非望殘留。特別是負膠但也包括正膠，在顯影后會在原來膠-基板...

高精度的微細結構可以通過電子束直寫或激光直寫制作，這類光刻技術，像“寫字”一樣，通過控制聚焦電子束（光束）移動書寫圖案進行曝光，具有比較高的曝光精度，但這兩種方法制作效率極低，尤其在大面積制作方面捉襟見肘，目前直寫光刻技術適用于小面積的微納結構制作。近年來，三維浮雕微納結構的需求越來越大，如閃耀光柵、菲涅爾透鏡、多臺階微光學元件等。據悉，某公司新上市的手機產品中人臉識別模塊就采用了多臺階微光學元件，以及當下如火如荼的無人駕駛技術中激光雷達光學系統也用到了復雜的微光學元件。這類精密的微納結構光學元件需采用灰度光刻技術進行制作。直寫技術，通過在光束移動過程中進行相應的曝光能量調節，可以實現良好的灰...

電子束曝光指使用電子束在表面上制造圖樣的工藝，是光刻技術的延伸應用。它的特點是分辨率高、圖形產生與修改容易、制作周期短。它可分為掃描曝光和投影曝光兩大類，其中掃描曝光系統是電子束在工件面上掃描直接產生圖形，分辨率高，生產率低。投影曝光系統實為電子束圖形復印系統，它將掩模圖形產生的電子像按原尺寸或縮小后復印到工件上，因此不僅保持了高分辨率，而且提高了生產率。電子束曝光系統一般包括如下配件：電子束源：熱電子發射和場發射、電磁透鏡系統、Stage系統、真空系統、控制系統。通常來說，電子束的束斑大小決定了曝光設計線寬，設計線寬應至少為束斑的3倍以上。由于電子束的束斑大小和束流大小、光闌大小等直接的相關...

顯影速度：顯影速率主要取決于使用的光刻膠和反轉烘烤步驟的時間和溫度。反轉烘烤的溫度越高、時間越長，光引發劑的熱分解率就越高。在常規顯影液中，顯影速率>1um/min是比較常見的，但并不是每款膠都是這樣的。底切結構的形成：過顯的程度(光刻膠開始顯影到顯影完成的時間)對底切結構的形成有明顯的影響。如圖3所示，在充分顯影后，隨著顯影時間的延長，底切的程度會表現更明顯。對于實際應用中，建議30%的過度顯影是個比較合適的節點：在高深寬比的應用中，必須注意，過度的底切結構有可能會導致光刻膠漂膠。足夠的光刻膠厚度：在使用方向性比較好的鍍膜方式中，鍍膜材料的厚度甚至可以大于光刻膠的厚度。因為，蒸發的材料在空隙...

隨著光刻對準技術的發展，一開始只是作為評價及測試光柵質量的莫爾條紋技術在光刻對準中的應用也得到了更深層的開發。起初，其只能實現較低精度的人工對準，但隨著細光柵衍射理論的發展，利用莫爾條紋相關特性漸漸也可以在諸如納米壓印光刻對準等高精度對準領域得到應用。莫爾條紋是兩條光柵或其他兩個物體之間，當它們以一定的角度和頻率運動時，會產生干涉條紋圖案。當人眼無法看到實際物體而只能看到干涉花紋時，這種光學現象就是莫爾條紋。L.Rayleigh對這個現象做出了解釋，兩個重疊的平行光柵會生成一系列與光柵質量有關的低頻條紋，他的理論指出當兩個周期相等的光柵柵線以一定夾角平行放置時，就會產生莫爾條紋，而周期不相等的...

刻膠顯影完成后，圖形就基本確定，不過還需要使光刻膠的性質更為穩定。硬烘干可以達到這個目的，這一步驟也被稱為堅膜。在這過程中，利用高溫處理，可以除去光刻膠中剩余的溶劑、增強光刻膠對硅片表面的附著力，同時提高光刻膠在隨后刻蝕和離子注入過程中的抗蝕性能力。另外，高溫下光刻膠將軟化，形成類似玻璃體在高溫下的熔融狀態。這會使光刻膠表面在表面張力作用下圓滑化，并使光刻膠層中的缺陷減少，這樣修正光刻膠圖形的邊緣輪廓。在硅材料刻蝕當中，硅針的刻蝕需要用到各向同性刻蝕，硅柱的刻蝕需要用到各項異性刻蝕。遼寧圖形光刻基于光刻工藝的微納加工技術主要包含以下過程：掩模（mask）制備、圖形形成及轉移（涂膠、曝光、顯影）...

在曝光這一步中，將使用特定波長的光對覆蓋襯底的光刻膠進行選擇性地照射。光刻膠中的感光劑會發生光化學反應，從而使正光刻膠被照射區域（感光區域）、負光刻膠未被照射的區域（非感光區）化學成分發生變化。這些化學成分發生變化的區域，在下一步的能夠溶解于特定的顯影液中。在接受光照后，正性光刻膠中的感光劑DQ會發生光化學反應，變為乙烯酮，并進一步水解為茚并羧酸，羧酸在堿性溶劑中的溶解度比未感光部分的光刻膠高出約100倍，產生的羧酸同時還會促進酚醛樹脂的溶解。利用感光與未感光光刻膠對堿性溶劑的不同溶解度，就可以進行掩膜圖形的轉移。曝光方法包括：接觸式曝光—掩膜板直接與光刻膠層接觸；接近式曝光—掩膜板與光刻膠層...

在光刻膠技術數據表中，會給出一些參考的曝光劑量值，通常，這里所寫的值是用單色i-線或者BB-UV曝光。正膠和負膠的光反應通常是一個單光子過程與時間沒太大關系。因此，在原則上需要多長時間(從脈沖激光的飛秒到接觸光刻的秒到激光干涉光刻的小時)并不重要，作為強度和時間的產物，作用在在光刻膠上的劑量是光強與曝光時間的產物。在增加光強和光刻膠厚度較大的時候，必須考慮曝光過程中產生的熱量和氣體（如正膠和圖形反轉膠中的N2排放）從光刻膠膜中排出時間因為熱量和氣體會導致光刻膠膜產生熱和機械損傷。襯底的反射率對光刻膠膜實際吸收的曝光強度有影響，特別是對于薄的光學光刻膠膜。玻璃晶圓的短波光強反射約10%，硅晶片反...

剝離工藝（lift-off）是指在有光刻膠圖形的掩膜上鍍膜后，再去除光刻膠獲得圖案化的金屬的工藝。在剝離工藝中，有幾種關鍵因素影響得到的金屬形貌。1.光刻膠的厚度。光刻膠厚度需大于金屬厚度，一般光刻膠厚度在金屬厚度的三倍以上膠面上的金屬更易成功剝離。2.光刻膠種類。紫外光刻中，正膠光刻膠一般為“正梯形”，負膠光刻膠側壁形貌一般為“倒梯性”。“倒梯形”的光刻膠更容易剝離，故在剝離工藝中常使用負膠。3.鍍膜工藝。蒸發鍍膜相比濺射鍍膜在光刻膠側壁更少鍍上金屬，因此蒸發鍍膜更易剝離。二氧化硅的濕法刻蝕通常使用HF。山西MEMS光刻掩膜對準光刻及步進投影式光刻機中常用汞燈作為曝光光源，其發射光譜包括g-...

顯影速度：顯影速率主要取決于使用的光刻膠和反轉烘烤步驟的時間和溫度。反轉烘烤的溫度越高、時間越長，光引發劑的熱分解率就越高。在常規顯影液中，顯影速率>1um/min是比較常見的，但并不是每款膠都是這樣的。底切結構的形成：過顯的程度(光刻膠開始顯影到顯影完成的時間)對底切結構的形成有明顯的影響。如圖3所示，在充分顯影后，隨著顯影時間的延長，底切的程度會表現更明顯。對于實際應用中，建議30%的過度顯影是個比較合適的節點：在高深寬比的應用中，必須注意，過度的底切結構有可能會導致光刻膠漂膠。足夠的光刻膠厚度：在使用方向性比較好的鍍膜方式中，鍍膜材料的厚度甚至可以大于光刻膠的厚度。因為，蒸發的材料在空隙...

光源的選擇不但影響光刻膠的曝光效果和穩定性，還直接決定了光刻圖形的精度和生產效率。選擇合適的光源可以提高光刻圖形的分辨率和清晰度，使得在更小的芯片上集成更多的電路成為可能。同時，優化光源的功率和曝光時間可以縮短光刻周期，提高生產效率。然而，光源的選擇也需要考慮成本和環境影響。高亮度、高穩定性的光源往往伴隨著更高的制造成本和維護成本。因此，在選擇光源時，需要在保證圖形精度和生產效率的同時，兼顧成本和環境可持續性！精確的光刻對準是實現多層結構的關鍵。天津光刻加工廠商光刻機經歷了5代產品發展，每次改進和創新都明顯提升了光刻機所能實現的工藝節點。為接觸式光刻機。曝光方式為掩模版與半導體基片之間靠控制真...

從對準信號上分，主要包括標記的顯微圖像對準、基于光強信息的對準和基于相位信息對準。對準法則是光刻只是把掩膜版上的Y軸與晶園上的平邊成90o，如圖所示。接下來的掩膜版都用對準標記與上一層帶有圖形的掩膜對準。對準標記是一個特殊的圖形，分布在每個芯片圖形的邊緣。經過光刻工藝對準標記就永遠留在芯片表面，同時作為下一次對準使用。對準方法包括：a、預對準，通過硅片上的notch或者flat進行激光自動對準b、通過對準標志，位于切割槽上。另外層間對準，即套刻精度,保證圖形與硅片上已經存在的圖形之間的對準。自適應光刻技術可根據不同需求調整參數。湖北芯片光刻光源的選擇不但影響光刻膠的曝光效果和穩定性，還直接決定...

電子束曝光指使用電子束在表面上制造圖樣的工藝，是光刻技術的延伸應用。它的特點是分辨率高、圖形產生與修改容易、制作周期短。它可分為掃描曝光和投影曝光兩大類，其中掃描曝光系統是電子束在工件面上掃描直接產生圖形，分辨率高，生產率低。投影曝光系統實為電子束圖形復印系統，它將掩模圖形產生的電子像按原尺寸或縮小后復印到工件上，因此不僅保持了高分辨率，而且提高了生產率。電子束曝光系統一般包括如下配件：電子束源：熱電子發射和場發射、電磁透鏡系統、Stage系統、真空系統、控制系統。通常來說，電子束的束斑大小決定了曝光設計線寬，設計線寬應至少為束斑的3倍以上。由于電子束的束斑大小和束流大小、光闌大小等直接的相關...