雙面對準光刻機采用底部對準（BSA）技術，能實現“雙面對準，單面曝光”。該設備對準精度高，適用于大直徑基片。在對準過程中，圖形處理技術起到了至關重要的作用。其基本工作原理是將CCD攝像頭采集得到的連續模擬圖像信號經圖像采集卡模塊的D/A轉換，變為數字圖像信號，然后再由圖像處理模塊完成對數字圖像信號的運算處理，這主要包括圖像預處理、圖像的分割、匹配等算法的實現。為有效提取對準標記的邊緣，對獲取的標記圖像通常要進行預處理以便提取出圖像中標記的邊緣，這包括：減小和濾除圖像中的噪聲，增強圖像的邊緣等。光刻膠根據其感光樹脂的化學結構也可以分為光交聯性、光聚合型、光分解型和化學放大型。光刻對準技術是曝光前一個重要步驟作為光刻的三大主要技術之一。珠海半導體光刻

光刻機經歷了5代產品發展，每次改進和創新都明顯提升了光刻機所能實現的工藝節點。為接觸式光刻機。曝光方式為掩模版與半導體基片之間靠控制真空度實現緊密接觸，使用光源分別為g線和i線。接觸式光刻機由于掩模與光刻膠直接接觸，所以易受污染，掩模版和基片容易受到損傷，掩模版壽命短。第二代為接近式光刻機。曝光方式為掩模版與半導體基片之間有微米級別的間隙，掩模版不容易受到損傷，掩模版壽命長，但掩模版與基片之間的間隙也導致成像質量受到影響，分辨率下降。黑龍江光刻服務先進光刻技術推動了摩爾定律的延續。

基于掩模板圖形傳遞的光刻工藝可制作宏觀尺寸的微細結構，受光學衍射的極限，適用于微米以上尺度的微細結構制作，部分優化的光刻工藝可能具有亞微米的加工能力。例如，接觸式光刻的分辨率可能到達0.5μm，采用深紫外曝光光源可能實現0.1μm。但利用這種光刻技術實現宏觀面積的納米/亞微米圖形結構的制作是可欲而不可求的。近年來，國內外比較多學者相繼提出了超衍射極限光刻技術、周期減小光刻技術等，力求通過曝光光刻技術實現大面積的亞微米結構制作，但這類新型的光刻技術尚處于實驗室研究階段。

濕法刻蝕是集成電路制造工藝采用的技術之一。雖然由于受其刻蝕的各向同性的限制，使得大部分的濕法刻蝕工藝被具有各向異性的干法刻蝕替代，但是它在尺寸較大的非關鍵層清洗中依然發揮著重要的作用。尤其是在對氧化物去除殘留與表皮剝離的刻蝕中，比干法刻蝕更為有效和經濟。濕法刻蝕的對象主要有氧化硅、氮化硅、單晶硅或多晶硅等。濕法刻蝕氧化硅通常采用氫氟酸（HF）為主要化學載體。為了提高選擇性，工藝中采用氟化銨緩沖的稀氫氟酸。為了保持pH值穩定，可以加入少量的強酸或其他元素。摻雜的氧化硅比純氧化硅更容易腐蝕。濕法化學剝離(WetRemoval）主要是為了去除光刻膠和硬掩模（氮化硅）。熱磷酸（H3PO4）是濕法化學剝離去除氮化硅的主要化學液，對于氧化硅有較好的選擇比。在進行這類化學剝離工藝前，需要將附在表面的氧化硅用HF酸進行預處理，以便將氮化硅均勻地消除掉。氧等離子普遍用于光刻膠去除。

在反轉工藝下，通過適當的工藝參數，可以獲得底切的側壁形態。這種方法的主要應用領域是剝離過程，在剝離過程中，底切的形態可以防止沉積的材料在光刻膠邊緣和側壁上形成連續薄膜，有助于獲得干凈的剝離光刻膠結構。在圖像反轉烘烤步驟中，光刻膠的熱穩定性和化學穩定性可以得到部分改善。因此，光刻膠在后續的工藝中如濕法、干法蝕刻以及電鍍中都體現出一定的優勢。然而，這些優點通常被比較麻煩的圖像反轉處理工藝的缺點所掩蓋。如額外增加的處理步驟很難或幾乎不可能獲得垂直的光刻膠側壁結構。因此，圖形反轉膠更多的是被應用于光刻膠剝離應用中。與正膠相比，圖形反轉工藝需要反轉烘烤和泛曝光步驟，這兩個步驟使得曝光的區域在顯影液中不能溶解，并且使曝光中尚未曝光的區域能夠被曝光。沒有這兩個步驟，圖形反轉膠表現為具有與普通正膠相同側壁的側壁結構，只有在圖形反轉工藝下才能獲得底切側壁結構的光刻膠輪廓形態。光刻技術的發展依賴于光學、物理和材料科學。光刻技術

通過優化刻蝕氣體比例、刻蝕功率等參數，可實現高垂直度氮化硅刻蝕。珠海半導體光刻

在曝光這一步中，將使用特定波長的光對覆蓋襯底的光刻膠進行選擇性地照射。光刻膠中的感光劑會發生光化學反應，從而使正光刻膠被照射區域（感光區域）、負光刻膠未被照射的區域（非感光區）化學成分發生變化。這些化學成分發生變化的區域，在下一步的能夠溶解于特定的顯影液中。在接受光照后，正性光刻膠中的感光劑DQ會發生光化學反應，變為乙烯酮，并進一步水解為茚并羧酸，羧酸在堿性溶劑中的溶解度比未感光部分的光刻膠高出約100倍，產生的羧酸同時還會促進酚醛樹脂的溶解。利用感光與未感光光刻膠對堿性溶劑的不同溶解度，就可以進行掩膜圖形的轉移。曝光方法包括：接觸式曝光—掩膜板直接與光刻膠層接觸；接近式曝光—掩膜板與光刻膠層的略微分開，大約為10～50μm；投影式曝光—在掩膜板與光刻膠之間使用透鏡聚集光實現曝光和步進式曝光。珠海半導體光刻