進一步的，對所述閃存參考單元進行編譯，包括：在所述源極上施加***編程電壓，在所述漏極上施加第二編程電壓，在所述控制柵上施加第三編程電壓，在所述襯底上施加第四編程電壓；其中，所述***編程電壓小于所述第二編程電壓；所述第二編程電壓小于所述第三編程電壓。進一步的，所述***編程電壓的范圍為～0v,所述第二編程電壓的范圍為～，所述第三編程電壓的范圍為8v～10v,所述第四編程電壓的范圍為～-1v。進一步的，編譯過程中的脈沖寬度為100μs～150μs。進一步的，對所述閃存參考單元進行擦除，包括：將所述源極和漏極均懸空，在所述控制柵上施加***擦除電壓，在所述襯底上施加第二擦除電壓；其中，所述***擦除電壓為負電壓，所述第二擦除電壓為正電壓。進一步的，所述***擦除電壓的范圍為-10v～-8v，所述第二擦除電壓的范圍為8v～10v。進一步的，擦除過程中的脈沖寬度為10ms～20ms。進一步的，對所述閃存參考單元進行編譯和擦除，循環次數為10次～20次。進一步的，對所述閃存進行htol測試包括：對所述閃存依次進行***時間點讀點、第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。

    TH801智能老化系統，實時監測并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。江蘇HTOL測試機供應

一種閃存htol測試方法，包括：提供待測閃存，所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元；所述閃存參考單元中捕獲有空穴；對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中部分丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。具體的，待測閃存在同一閃存芯片(die)中的不同區域分布有閃存參考單元和閃存陣列單元，閃存陣列單元用于存儲數據，閃存參考單元用于提供參考閾值電壓以區分閃存陣列單元的狀態。提供的待測閃存在其生產工藝過程中易在閃存參考單元中捕獲。引入)空穴，所述空穴在htol測試過程中存在丟失。圖2為本發明實施例的閃存參考單元的結構示意圖，楊浦區怎樣選擇HTOL測試機上海頂策科技智能HTOL系統，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。

    1.試驗目的標準試驗目的備注JESD22-A108F-2017確定偏置條件和溫度對于固態器件隨時間的影響。試驗可以加速地模擬器件的運行狀態，主要用于器件的可靠性測試。本實驗在較短時間內對器件施加高溫偏置，通常也被稱為老化或老煉。，這些器件隨著時間和應力變化而產生的失效。GJB548B-2015方法，這些器件隨著時間和應力變化而產生的失效。AEC-Q100參照JESD220-A108F-2017————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。

    MIL-STD-883K-2016：穩態反向偏置S級**少時間有240h到120h共6個級別；B級**少時間352h到12h共10個級別；K級**少時間從700h到320h共6個級別。S級最低溫度從125℃到150℃共6個級別；B級別最低溫度從100℃到250℃；K級最低溫度從100℃到125℃。電壓大小全部為額定電壓B：穩態正向偏置C：穩態功率反向偏置D：并聯勵磁E：環形振蕩器F：溫度加速試驗————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：blog./qq_36671997/article/details/。 上海頂策科技提供可靠性測試整體解決方案，包括各類可靠性測試設備，滿足各類芯片的測試需求。

發明人檢查失效的原因，發現讀點失效為讀“0”失效，并且進一步研究發現閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移，具體偏移量經測試統計在4μa以內，而且iref1＜iref0，即48小時后iref往電流變小的方向偏移。閃存測試中，若iref＞i，則讀出“0”(即閃存讀“0”操作時，iref＞i)。閃存判斷讀“0”的具體操作過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷。當差值變弱到由讀出放大器無法進行識別時，讀“0”失效。當htol可靠性驗證經過***時間點例如48小時后，由于閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移即iref變小，如此一來，閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值變小，超出讀出放大器識別范圍，于是讀“0”失效。測試發現經48小時閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移后，進一步做htol測試，閃存參考單元的輸出電流iref在第三時間點例如168小時,第四時間點例如500小時,第五時間點例如1000小時測試均不會進一步偏移。上海頂策科技智能HTOL系統，自主研發在線實時單顆監測技術。上海國產HTOL測試機

上海頂策科技有限公司自主研發智能HTOL測試機TH801實時監測確保芯片處于正常狀態，保證HTOL測試質量。江蘇HTOL測試機供應

閃存參考單元包括：襯底100，位于所述襯底中的導電溝道、位于所述導電溝道兩側的源極101和漏極102，位于導電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層103、浮柵104、柵間介質層105以及控制柵106,所述柵極單元的兩側分布有側墻107。柵間介質層105例如可以為依次層疊的氧化硅層、氮化硅層和氧化硅層的多層結構，即為ono結構。具體的，閃存在其生產工藝過程中易在閃存參考單元的隧穿氧化層103中捕獲(引入)空**3為本發明實施例的對閃存參考單元進行編譯示意圖，如圖3所示，對所述閃存參考單元進行編譯，包括：在所述源極101上施加***編程電壓vb1，在所述漏極102上施加第二編程電壓vb2，在所述控制柵106上施加第三編程電壓vb3，在所述襯底100上施加第四編程電壓vb4；其中，所述***編程電壓vb1小于所述第二編程電壓vb2；所述第二編程電壓vb2小于所述第三編程電壓vb3。所述***編程電壓的范圍為～0v,所述第二編程電壓的范圍為～，所述第三編程電壓vb3的范圍為8v～10v,所述第四編程電壓vb4的范圍為～-1v，編譯過程中的脈沖寬度為100μs～150μs。編譯通過熱電子注入的方式對所述浮柵104中注入電子。江蘇HTOL測試機供應