模壓玻璃鏡片在熱成型階段極易出現水縮、斷層等隱性缺陷，傳統(tǒng) AOI 無法分辨。優(yōu)普納裝備采用自研 2.5D 光源，通過多分區(qū)環(huán)光+側光組合，將亞微米級斷層高度信息轉化為可量化灰度差異；12MP 相機以 7 μm 分辨率精確捕捉，AI 算法再對 6000 萬張缺陷圖庫進行比對，漏檢率低于 0.1%。設備兼容直徑 7-20 mm、全高 0.7-15 mm 鏡片，無需更換治具即可檢測 55° 以內張角的非球面。500-1000 UPH 的節(jié)拍讓模壓車間在保持單機產能的同時，實現“每片必檢”，明顯降低客戶端客訴風險。江蘇優(yōu)普納科技的鏡片自動質檢機，采用抗干擾設計，適應復雜工業(yè)環(huán)境。可追溯內窺鏡缺陷檢測設備定制

隨著汽車智能化的發(fā)展，車載光學系統(tǒng)對光學透鏡的需求大增，其質量把控也愈發(fā)重要。光學透鏡缺陷檢測設備在車載透鏡生產中，能實現從研發(fā)驗證到量產質控的全鏈路質量管控。在研發(fā)階段，幫助工程師快速發(fā)現透鏡設計和制造中的問題，優(yōu)化產品設計；在量產環(huán)節(jié)，通過高精度檢測，實時監(jiān)測生產線上透鏡的質量，及時發(fā)現并剔除有缺陷的產品，保證產品質量的一致性。而且，該設備還支持人工/機器人上下料，可根據企業(yè)的生產模式靈活調整，提高生產效率，降低生產成本，為汽車光學系統(tǒng)的可靠性提供堅實保障，推動智能駕駛技術的安全發(fā)展。深圳光學透鏡缺陷檢測設備廠家江蘇優(yōu)普納科技的鏡片檢測設備，支持自定義檢測參數，靈活應對不同工藝需求。

精密機械零件的制造同樣離不開高質量的光學透鏡，而確保光學透鏡無瑕疵是保證精密機械性能和使用壽命的關鍵。光學顯微缺陷檢測儀作為光學透鏡缺陷檢測設備的一種類型，利用透鏡對光的折射作用將微小物體放大成像，同時借助物體表面對光的反射增強圖像對比度，從而實現對精密機械零件所用光學透鏡的高精度檢測。與傳統(tǒng)檢測方法相比，它具有更高的檢測精度和速度，能夠準確識別微小缺陷，避免漏檢和誤檢。通過對大量檢測數據的存儲和分析，還能為生產過程的優(yōu)化和改進提供有力支持，幫助企業(yè)提高精密機械產品的質量和穩(wěn)定性。

車載攝像頭鏡頭零缺陷，關乎整車 ADAS 可靠性與品牌口碑。優(yōu)普納光學透鏡缺陷檢測裝備以 7 μm 分辨率、12MP 相機與 2.5D 多分區(qū)環(huán)光協同作業(yè)，可在 500-1000 UPH 產速下，把直徑 7-20 mm、厚度 0.7-15 mm 的鏡片劃痕、麻點、氣泡、水縮一網打盡。轉盤式單顆檢測，避免批量混料；深度學習算法自動區(qū)分干擾與真實缺陷，誤判率低于 0.3%。設備一次可存儲 100+ 件號配方，換型只需 3 分鐘，為車載 Tier-1 廠快速切線提供更高柔性。拿到優(yōu)普納報告，主機廠可直接追溯每一片鏡頭的缺陷坐標、光學參數與批次信息，真正實現“零缺陷交付”。江蘇優(yōu)普納科技的缺陷檢測設備，支持OK/NG自動分揀，減少人工干預，提升產線自動化水平。

設備通過光源智能調度系統(tǒng)實現能耗優(yōu)化：只在檢測工位jihuo對應分區(qū)光源，待機狀態(tài)下功耗低于150W。相比傳統(tǒng)常亮光源方案，整體能耗降低30%，年節(jié)電量超過4000度。熱管理采用無風扇被動散熱設計，避免氣流擾動影響檢測環(huán)境，噪聲等級小于55分貝，符合綠色工廠建設標準。緊湊型結構減少鋼材用量20%，運輸安裝碳足跡降低15%。采用分層式硬件設計，成像系統(tǒng)、運動控制、計算單元相互單獨。用戶可根據需求單獨升級相機分辨率或更換特定波段光源（紫外/紅外可選）。軟件層面提供標準化API接口，支持第三方算法插件導入。這種設計使設備技術生命周期延長5-8年，避免整機淘汰帶來的資源浪費。江蘇優(yōu)普納科技的高效光學檢測儀，適配晶圓級透鏡檢測，滿足半導體行業(yè)需求。定制化高精度光學檢測設備銷售廠家

江蘇優(yōu)普納科技的高精度質檢機，符合ISO 10110標準，滿足國際檢測要求。可追溯內窺鏡缺陷檢測設備定制

鏡片小批量多品種時代，傳統(tǒng) AOI 換型動輒 2 小時，產能浪費嚴重。優(yōu)普納裝備采用 100+ 件號配方+磁吸治具，換型時間壓縮至 3 分鐘；轉盤式結構可快速拓展至 4 工位并行，產能翻倍無需二次投資。7 μm 分辨率與 12MP 相機保證檢測精度不隨品種變化；AI 算法自動加載對應缺陷模型，無需人工調試。鏡片缺陷檢測數據長期沉睡，無法反哺工藝改進。優(yōu)普納裝備內置 SPC 模塊，實時統(tǒng)計缺陷類型、位置、頻率，自動生成柏拉圖、趨勢圖、CPK 報告；AI 算法可關聯缺陷與工藝參數（溫度、壓力、時間），定位異常根因。轉盤式單顆檢測讓每片鏡片數據單獨，避免批量混淆。某光學廠利用優(yōu)普納 SPC 發(fā)現鍍膜前劃痕集中在第 3 工位，調整夾具后缺陷率下降 60%。可追溯內窺鏡缺陷檢測設備定制