刻膠顯影完成后，圖形就基本確定，不過還需要使光刻膠的性質更為穩定。硬烘干可以達到這個目的，這一步驟也被稱為堅膜。在這過程中，利用高溫處理，可以除去光刻膠中剩余的溶劑、增強光刻膠對硅片表面的附著力，同時提高光刻膠在隨后刻蝕和離子注入過程中的抗蝕性能力。另外，高溫下光刻膠將軟化，形成類似玻璃體在高溫下的熔融狀態。這會使光刻膠表面在表面張力作用下圓滑化，并使光刻膠層中的缺陷減少，這樣修正光刻膠圖形的邊緣輪廓。自動化光刻設備大幅提高了生產效率和精度。湖南光刻代工

在曝光這一步中，將使用特定波長的光對覆蓋襯底的光刻膠進行選擇性地照射。光刻膠中的感光劑會發生光化學反應，從而使正光刻膠被照射區域（感光區域）、負光刻膠未被照射的區域（非感光區）化學成分發生變化。這些化學成分發生變化的區域，在下一步的能夠溶解于特定的顯影液中。在接受光照后，正性光刻膠中的感光劑DQ會發生光化學反應，變為乙烯酮，并進一步水解為茚并羧酸，羧酸在堿性溶劑中的溶解度比未感光部分的光刻膠高出約100倍，產生的羧酸同時還會促進酚醛樹脂的溶解。利用感光與未感光光刻膠對堿性溶劑的不同溶解度，就可以進行掩膜圖形的轉移。曝光方法包括：接觸式曝光—掩膜板直接與光刻膠層接觸；接近式曝光—掩膜板與光刻膠層的略微分開，大約為10～50μm；投影式曝光—在掩膜板與光刻膠之間使用透鏡聚集光實現曝光和步進式曝光。湖南光刻代工圖形反轉膠的顯影過程。

用O2等離子體對樣品整體處理，以清理顯影后可能的非望殘留。特別是負膠但也包括正膠，在顯影后會在原來膠-基板界面處殘留聚合物薄層，這個問題在結構小于1um或大深-寬比的結構中更為嚴重。當然過程中留膠厚度也會降低，但是影響不會太大。在刻蝕或鍍膜之前需要硬烤以去除殘留的顯影液和水，并退火以改善由于顯影過程滲透和膨脹導致的界面接合狀況。同時提高膠的硬度和提高抗刻蝕性。硬烤溫度一般高達120度以上，時間也在20分左右。主要的限制是溫度過高會使圖形邊緣變差以及刻蝕后難以去除。

第三代為掃描投影式光刻機。中間掩模版上的版圖通過光學透鏡成像在基片表面，有效地提高了成像質量，投影光學透鏡可以是1∶1，但大多數采用精密縮小分步重復曝光的方式（如1∶10，1∶5，1∶4）。IC版圖面積受限于光源面積和光學透鏡成像面積。光學曝光分辨率增強等光刻技術的突破，把光刻技術推進到深亞微米及百納米級。第四代為步進式掃描投影光刻機。以掃描的方式實現曝光，采用193nm的KrF準分子激光光源，分步重復曝光，將芯片的工藝節點提升一個臺階。實現了跨越式發展，將工藝推進至180~130nm。隨著浸入式等光刻技術的發展，光刻推進至幾十納米級。第五代為EUV光刻機。采用波長為13.5nm的激光等離子體光源作為光刻曝光光源。即使其波長是193nm的1/14，幾乎逼近物理學、材料學以及精密制造的極限。目前，光刻膠原料仍大量依賴進口。

顯影速度：顯影速率主要取決于使用的光刻膠和反轉烘烤步驟的時間和溫度。反轉烘烤的溫度越高、時間越長，光引發劑的熱分解率就越高。在常規顯影液中，顯影速率>1um/min是比較常見的，但并不是每款膠都是這樣的。底切結構的形成：過顯的程度(光刻膠開始顯影到顯影完成的時間)對底切結構的形成有明顯的影響。如圖3所示，在充分顯影后，隨著顯影時間的延長，底切的程度會表現更明顯。對于實際應用中，建議30%的過度顯影是個比較合適的節點：在高深寬比的應用中，必須注意，過度的底切結構有可能會導致光刻膠漂膠。足夠的光刻膠厚度：在使用方向性比較好的鍍膜方式中，鍍膜材料的厚度甚至可以大于光刻膠的厚度。因為，蒸發的材料在空隙區域上緩慢地生長在一起，從而襯底上生長的材料形成一個下面大上面小的梯形截面結構。先進光刻技術推動了摩爾定律的延續。河北紫外光刻

鋁的濕法刻蝕溶液主要是磷酸、硝酸、醋酸以及水的混合溶液。湖南光刻代工

光刻設備的控制系統對其精度和穩定性同樣至關重要。為了實現高精度的圖案轉移，光刻設備需要配備高性能的傳感器和執行器，以實時監測和調整設備的運行狀態。這些傳感器能夠精確測量光刻過程中的各種參數，如溫度、濕度、壓力、位移等，并將數據傳輸給控制系統進行分析和處理。控制系統采用先進的控制算法和策略，根據傳感器反饋的數據，實時調整光刻設備的各項參數，以確保圖案的精確轉移。例如，通過引入自適應控制算法，控制系統能夠根據光刻膠的特性和工藝要求，自動調整曝光劑量和曝光時間，以實現合理的圖案分辨率和一致性。此外，控制系統還可以采用閉環反饋機制，實時監測光刻過程中的誤差，并自動進行補償，以提高設備的穩定性和精度。湖南光刻代工