掩模是光刻過程中的另一個關鍵因素。掩模上的電路圖案將直接決定硅片上形成的圖形。因此，掩模的設計和制造精度對光刻圖案的分辨率有著重要影響。為了提升光刻圖案的分辨率，掩模技術也在不斷創新。光學鄰近校正（OPC）技術通過在掩模上增加輔助結構來消除圖像失真，實現分辨率的提高。這種技術也被稱為計算光刻，它利用先進的算法對掩模圖案進行優化，以減小光刻過程中的衍射和干涉效應，從而提高圖案的分辨率和清晰度。此外，相移掩模（PSM）技術也是提升光刻分辨率的重要手段。相移掩模同時利用光線的強度和相位來成像，得到更高分辨率的圖案。通過改變掩模結構，在其中一個光源處采用180度相移，使得兩處光源產生的光產生相位相消，光強相消，從而提高了圖案的分辨率。自適應光刻技術可根據不同需求調整參數。江蘇鍍膜微納加工

氧等離子去膠是利用氧氣在微波或射頻發生器的作用下產生氧等離子體，具有活性的氧等離子體與有機聚合物發生氧化反應，是的有機聚合物被氧化成水汽和二氧化碳等排除腔室，從而達到去除光刻膠的目的，這個過程我們有時候也稱之為灰化或者掃膠。氧等離子去膠相比于濕法去膠工藝更為簡單、適應性更好。市面上常見氧等離子去膠機按照頻率可分為微波等離子去膠機和射頻等離子去膠機兩種，微波等離子去膠機的工作頻率更高，更高的頻率決定了等離子體擁有更高的激子濃度、更小的自偏壓，更高的激子濃度決定了去膠速度更快，效率更高；更低的自偏壓決定了其對襯底的刻蝕效應更小，也意味著去膠過程中對襯底無損傷，而射頻等離子去膠機其工作原理與刻蝕機相似，結構上更加簡單。江蘇鍍膜微納加工高效光刻解決方案對于降低成本至關重要。

光刻是集成電路和半導體器件制造工藝中的關鍵性技術，其工藝質量直接影響器件成品率、可靠性、器件性能以及使用壽命等參數指標的穩定和提高，就目前光刻工藝而言，工藝設備的穩定性、工藝材料以及人工參與的影響等都會對后續器件成品率及可靠性產生影響。利用光刻機發出的光通過具有圖形的光罩對涂有光刻膠的薄片曝光，光刻膠見光后會發生性質變化，從而使光罩上得圖形復印到薄片上，從而使薄片具有電子線路圖的作用。這就是光刻的作用，類似照相機照相。照相機拍攝的照片是印在底片上，而光刻刻的不是照片，而是電路圖和其他電子元件。簡單點來說，光刻機就是放大的單反，光刻機就是將光罩上的設計好集成電路圖形通過光線的曝光印到光感材料上，形成圖形。

光刻膠旋涂是特別是厚膠的旋涂和方形襯底勻膠時，會在襯底的邊緣形成膠厚的光刻膠邊即是所謂的邊膠，即光刻膠的邊緣突起，在使用接觸式光刻的情況下會導致光刻膠曝光的圖案分辨率低、尺寸誤差大或顯影后圖案的側壁不陡直等。如果無法通過自動化設備完成去邊角工藝（EBR）的話，以通過以下措施幫助減少/消除邊膠:盡可能使用圓形基底；使用高加速度，高轉速；在前烘前等待一段時間；調整良好旋涂腔室保證襯底與襯底托盤之間緊密接觸；非圓形襯底:如有可能的話，可將襯底邊緣有邊珠的位置一起裁切掉，或用潔凈間的刷子將邊膠刷洗掉。光刻膠的固化過程需要精確控制溫度和時間。

二氧化硅的濕法刻蝕通常使用HF。因為1∶1的HF（H2O中49%的HF）在室溫下刻蝕氧化物速度過快，所以很難用1∶1的HF控制氧化物的刻蝕。一般用水或緩沖溶劑如氟化銨（NH4F）進一步稀釋HF降低氧化物的刻蝕速率，以便控制刻蝕速率和均勻性。氧化物濕法刻蝕中所使用的溶液通常是6∶1稀釋的HF緩沖溶液，或10∶1和100∶1的比例稀釋后的HF水溶液。的半導體制造中，每天仍進行6∶1的緩沖二氧化硅刻蝕（BOE）和100∶1的HF刻蝕。如果監測CVD氧化層的質量，可以通過比較CVD二氧化硅的濕法刻蝕速率和熱氧化法生成的二氧化硅濕法刻蝕速率，這就是所謂的濕法刻蝕速率比。熱氧化之前，HF可用于預先剝除硅晶圓表面上的原生氧化層。光刻技術的發展需跨領域合作，融合多學科知識。紫外光刻廠商

刻膠顯影完成后，圖形就基本確定，不過還需要使光刻膠的性質更為穩定。江蘇鍍膜微納加工

曝光后烘烤是化學放大膠工藝中很關鍵，也是反應機理很復雜的一道工序。后烘過程中，化學放大膠內存在多種反應機制，情況復雜并相互影響。例如各反應基團的擴散，蒸發將導致抗蝕刑的組成分布梯度變化：基質樹脂中的去保護基團會引起膠膜體積增加但當烘烤溫度達到光刻膠的玻璃化溫度時基質樹脂又并始變得稠密兩者同時又都會影響膠膜中酸的擴散，且影響作用相反。這眾多的反應機制都將影響到曝光圖形，因此烘烤的溫度、時間和曝光與烘烤之間停留的時間間隔都是影響曝光圖形線寬的重要因素。江蘇鍍膜微納加工