LPCVD技術(shù)在光電子領(lǐng)域也有著廣泛的應(yīng)用，主要用于沉積硅基光波導(dǎo)、光諧振器、光調(diào)制器等器件所需的高折射率和低損耗的材料。由于光電子器件對(duì)薄膜質(zhì)量和性能的要求非常高，LPCVD技術(shù)具有很大的優(yōu)勢(shì)，例如可以實(shí)現(xiàn)高純度、低缺陷密度、低氫含量和低應(yīng)力等特點(diǎn)。未來(lái)，LPCVD技術(shù)將繼續(xù)在光電子領(lǐng)域發(fā)揮重要作用，為實(shí)現(xiàn)硅基光電集成提供可靠的技術(shù)支持。LPCVD技術(shù)在MEMS領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用，主要用于沉積多晶硅、氮化硅等材料，作為MEMS器件的結(jié)構(gòu)層。由于MEMS器件具有微納米尺度的特點(diǎn)，對(duì)薄膜厚度和均勻性的控制非常嚴(yán)格，而LPCVD技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高精度和高均勻性的沉積。此外，LPCVD技術(shù)還可以通過(guò)摻雜或應(yīng)力調(diào)節(jié)來(lái)改變薄膜的導(dǎo)電性或機(jī)械性能。因此，LPCVD技術(shù)在MEMS領(lǐng)域有著廣闊的發(fā)展空間，為實(shí)現(xiàn)各種功能和應(yīng)用的MEMS器件提供多樣化的選擇。PECVD，是一種利用等離子體在較低溫度下進(jìn)行沉積的一種薄膜生長(zhǎng)技術(shù)。七彩真空鍍膜真空鍍膜廠家

高頻淀積的薄膜，其均勻性明顯好于低頻，這時(shí)因?yàn)楫?dāng)射頻電源頻率較低時(shí)，靠近極板邊緣的電場(chǎng)較弱，其淀積速度會(huì)低于極板中心區(qū)域，而頻率高時(shí)則邊緣和中心區(qū)域的差別會(huì)變小。4.射頻功率，射頻的功率越大離子的轟擊能量就越大，有利于淀積膜質(zhì)量的改善。因?yàn)楣β实脑黾訒?huì)增強(qiáng)氣體中自由基的濃度，使淀積速率隨功率直線上升，當(dāng)功率增加到一定程度，反應(yīng)氣體完全電離，自由基達(dá)到飽和，淀積速率則趨于穩(wěn)定。5.氣壓，形成等離子體時(shí)，氣體壓力過(guò)大，單位內(nèi)的反應(yīng)氣體增加，因此速率增大，但同時(shí)氣壓過(guò)高，平均自由程減少，不利于淀積膜對(duì)臺(tái)階的覆蓋。氣壓太低會(huì)影響薄膜的淀積機(jī)理，導(dǎo)致薄膜的致密度下降，容易形成針狀態(tài)缺陷；氣壓過(guò)高時(shí)，等離子體的聚合反應(yīng)明顯增強(qiáng)，導(dǎo)致生長(zhǎng)網(wǎng)絡(luò)規(guī)則度下降，缺陷也會(huì)增加；6.襯底溫度，襯底溫度對(duì)薄膜質(zhì)量的影響主要在于局域態(tài)密度、電子遷移率以及膜的光學(xué)性能，襯底溫度的提高有利于薄膜表面懸掛鍵的補(bǔ)償，使薄膜的缺陷密度下降。襯底溫度對(duì)淀積速率的影響小，但對(duì)薄膜的質(zhì)量影響很大。溫度越高，淀積膜的致密性越大，高溫增強(qiáng)了表面反應(yīng)，改善了膜的成分淮南新型真空鍍膜鍍膜層能有效提升產(chǎn)品的化學(xué)穩(wěn)定性。

電子束蒸發(fā)：將蒸發(fā)材料置于水冷坩堝中，利用電子束直接加熱使蒸發(fā)材料汽化并在襯底上凝結(jié)形成薄膜，是蒸度高熔點(diǎn)薄膜和高純薄膜的一種主要加熱方法。為了獲得性能良好的半導(dǎo)體電極Al膜，我們通過(guò)優(yōu)化工藝參數(shù)，制備了一系列性能優(yōu)越的Al薄膜。通過(guò)理論計(jì)算和性能測(cè)試，分析比較了電子束蒸發(fā)與磁控濺射兩種方法制備Al膜的特點(diǎn)。考慮Al膜的致密性就相當(dāng)于考慮Al膜的晶粒的大小，密度以及能達(dá)到均勻化的程度，因?yàn)樗仓苯佑绊慉l膜的其它性能，進(jìn)而影響半導(dǎo)體嘩啦的性能。氣相沉積的多晶Al膜的晶粒尺寸隨著沉積過(guò)程中吸附原子或原子團(tuán)在基片表面遷移率的增加而增加。由此可以看出Al膜的晶粒尺寸的大小將取決環(huán)于基片溫度、沉積速度、氣相原子在平行基片方面的速度分量、基片表面光潔度和化學(xué)活性等因素。

LPCVD設(shè)備的發(fā)展歷史可以追溯到20世紀(jì)50年代，當(dāng)時(shí)美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室的科學(xué)家們使用LPCVD方法在硅片上沉積多晶硅薄膜，并用于制造雙極型晶體管。隨后，LPCVD方法被廣泛應(yīng)用于制造金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET）、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器（DRAM）、太陽(yáng)能電池等器件。20世紀(jì)70年代，LPCVD方法開(kāi)始用于沉積氮化硅和氧化硅等絕緣薄膜，用于制造互連層、保護(hù)層、柵介質(zhì)層等結(jié)構(gòu)。20世紀(jì)80年代，LPCVD方法開(kāi)始用于沉積碳化硅等寬禁帶半導(dǎo)體薄膜，用于制造高溫、高功率、高頻率等特殊應(yīng)用的器件電子束蒸發(fā)：將蒸發(fā)材料置于水冷坩堝中，利用電子束直接加熱使蒸發(fā)材料汽化并在襯底上凝結(jié)形成薄膜。

影響靶中毒的因素主要是反應(yīng)氣體和濺射氣體的比例，反應(yīng)氣體過(guò)量就會(huì)導(dǎo)致靶中毒。反應(yīng)濺射工藝進(jìn)行過(guò)程中靶表面濺射溝道區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)被反應(yīng)生成物覆蓋或反應(yīng)生成物被剝離而重新暴露金屬表面此消彼長(zhǎng)的過(guò)程。如果化合物的生成速率大于化合物被剝離的速率，化合物覆蓋面積增加。在一定功率的情況下，參與化合物生成的反應(yīng)氣體量增加，化合物生成率增加。如果反應(yīng)氣體量增加過(guò)度，化合物覆蓋面積增加，如果不能及時(shí)調(diào)整反應(yīng)氣體流量，化合物覆蓋面積增加的速率得不到抑制，濺射溝道將進(jìn)一步被化合物覆蓋，當(dāng)濺射靶被化合物全部覆蓋的時(shí)候，靶完全中毒。真空鍍膜過(guò)程中需嚴(yán)格控制電場(chǎng)強(qiáng)度。江西電子束蒸發(fā)真空鍍膜

LPCVD主要特征是因?yàn)樵诘蛪涵h(huán)境下，反應(yīng)氣體的平均自由程及擴(kuò)散系數(shù)變大，膜厚均勻性好、臺(tái)階覆蓋性好。七彩真空鍍膜真空鍍膜廠家

LPCVD設(shè)備的設(shè)備構(gòu)造主要包括以下幾個(gè)部分：真空系統(tǒng)、氣體輸送系統(tǒng)、反應(yīng)室、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)、流量控制系統(tǒng)等。LPCVD設(shè)備的發(fā)展趨勢(shì)主要有以下幾點(diǎn)：（1）為了降低襯底材料的熱損傷和熱預(yù)算，提高沉積速率和產(chǎn)能，開(kāi)發(fā)新型的低溫LPCVD方法，如等離子體增強(qiáng)LPCVD（PE-LPCVD）、激光輔助LPCVD（LA-LPCVD）、熱輻射輔助LPCVD（RA-LPCVD）等；（2）為了提高薄膜材料的質(zhì)量和性能，開(kāi)發(fā)新型的高純度和高結(jié)晶度的LPCVD方法，如超高真空LPCVD（UHV-LPCVD）、分子束外延LPCVD（MBE-LPCVD）、原子層沉積LPCVD（ALD-LPCVD）等；（3）為了拓展薄膜材料的種類(lèi)和功能，開(kāi)發(fā)新型的復(fù)合和異質(zhì)的LPCVD方法，如多元化合物L(fēng)PCVD、納米結(jié)構(gòu)LPCVD、量子點(diǎn)LPCVD等。七彩真空鍍膜真空鍍膜廠家