LPCVD設(shè)備中較少用的是旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備，因為其具有結(jié)構(gòu)復雜、操作困難、沉積速率低、產(chǎn)能小等缺點。旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備的主要優(yōu)點是可以通過旋轉(zhuǎn)襯底來改善薄膜的均勻性和厚度分布。旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備可以根據(jù)不同的旋轉(zhuǎn)方式進行分類。常見的分類有以下幾種：（1）單軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底只圍繞一個軸旋轉(zhuǎn)；（2）雙軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底圍繞兩個軸旋轉(zhuǎn)；（3）多軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底圍繞多個軸旋轉(zhuǎn)。鍍膜層能有效提升產(chǎn)品的抗疲勞性能。紹興真空鍍膜機

涂敷在透明光學元件表面、用來消除或減弱反射光以達增透目的的光學薄膜。又稱增透膜。簡單的減反射膜是單層介質(zhì)膜，其折射率一般介于空氣折射率和光學元件折射率之間，使用普遍的介質(zhì)膜材料為氟化鎂。減反射膜的工作原理是基于薄膜干涉原理。入射光在介質(zhì)膜兩表面反射后得兩束相干光，選擇折射率適當?shù)慕橘|(zhì)膜材料，可使兩束相干光的振幅接近相等，再控制薄膜厚度，使兩相干光的光程差滿足干涉極小條件，此時反射光能量將完全消除或減弱。反射能量的大小是由光波在介質(zhì)膜表面的邊界條件確定，適當條件下可完全沒有反射光或只有很弱的反射光。
紹興真空鍍膜機真空鍍膜可明顯提高產(chǎn)品的使用壽命。

通常在真空鍍膜中制備的薄膜與襯底的粘附主要與一下幾個因素有關(guān)：1.襯底表面的清潔度；2.制備時腔體的本底真空度；3.襯底表面的預(yù)處理。襯底的清潔度會嚴重影響薄膜的粘附力，也可能導致制備的薄膜在臟污處出現(xiàn)應(yīng)力集中甚至導致開裂；設(shè)備的本底真空也是影響粘附力的重要5因素，對于磁控濺射來說，通常要保證設(shè)備的本底真空盡量低于5E-6Torr；對于某些襯底表面，通常可以使用等離子體對其進行預(yù)處理，也能很大程度增加薄膜的粘附力。

衡量沉積質(zhì)量的主要指標有以下幾項：指標就是均勻度。顧名思義，該指標就是衡量沉積薄膜厚度均勻與否的參數(shù)。薄膜沉積和刻蝕工藝一樣，需將整張晶圓放入沉積設(shè)備中。因此，晶圓表面不同角落的沉積涂層有可能厚度不一。高均勻度表明晶圓各區(qū)域形成的薄膜厚度非常均勻。第二個指標為臺階覆蓋率（StepCoverage）。如果晶圓表面有斷層或凹凸不平的地方，就不可能形成厚度均勻的薄膜。臺階覆蓋率是考量膜層跨臺階時，在臺階處厚度損失的一個指標，即跨臺階處的膜層厚度與平坦處膜層厚度的比值。鍍膜層能有效提升產(chǎn)品的化學穩(wěn)定性。

電介質(zhì)在集成電路中主要提供器件、柵極和金屬互連間的絕緣，選擇的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通過熱氧化、化學氣相沉積和原子層沉積法的方法獲得。如果按照壓力來區(qū)分的話，熱氧化一般為常壓氧化工藝，快速熱氧化等。化學氣相沉積法一般有低壓化學氣相沉積氧化工藝，半大氣壓氣相沉積氧化工藝，增強等離子體化學氣相層積等。在熱氧化工藝中，主要使用的氧源是氣體氧氣、水等，而硅源則是單晶硅襯底或多晶硅、非晶硅等。氧氣會消耗硅（Si），多晶硅（Poly）產(chǎn)生氧化，通常二氧化硅的厚度會消耗0.54倍的硅，而消耗的多晶硅則相對少些。這個特性決定了熱氧化工藝只能應(yīng)用在側(cè)墻工藝形成之前的氧化硅薄膜中。真空鍍膜能有效提升表面硬度。貴陽來料真空鍍膜

降低PVD制備薄膜的應(yīng)力，可以提高襯底溫度，有利于薄膜和襯底間原子擴散，并加速反應(yīng)過程。紹興真空鍍膜機

磁控濺射可以使用各種類型的氣體進行，例如氬氣、氮氣和氧氣等。氣體的選擇取決于薄膜的所需特性和應(yīng)用。例如，氬氣通常用作沉積金屬的濺射氣體，而氮氣則用于沉積氮化物。磁控濺射可以以各種配置進行，例如直流(DC)、射頻(RF)和脈沖DC模式。每種配置都有其優(yōu)點和缺點，配置的選擇取決于薄膜的所需特性和應(yīng)用。磁控濺射是利用磁場束縛電子的運動，提高電子的離化率。與傳統(tǒng)濺射相比具有“低溫（碰撞次數(shù)的增加，電子的能量逐漸降低，在能量耗盡以后才落在陽極）”、“高速（增長電子運動路徑，提高離化率，電離出更多的轟擊靶材的離子）”兩大特點。紹興真空鍍膜機