光刻膠旋涂是特別是厚膠的旋涂和方形襯底勻膠時，會在襯底的邊緣形成膠厚的光刻膠邊即是所謂的邊膠，即光刻膠的邊緣突起，在使用接觸式光刻的情況下會導致光刻膠曝光的圖案分辨率低、尺寸誤差大或顯影后圖案的側壁不陡直等。如果無法通過自動化設備完成去邊角工藝（EBR）的話，以通過以下措施幫助減少/消除邊膠:盡可能使用圓形基底；使用高加速度，高轉速；在前烘前等待一段時間；調整良好旋涂腔室保證襯底與襯底托盤之間緊密接觸；非圓形襯底:如有可能的話，可將襯底邊緣有邊珠的位置一起裁切掉，或用潔凈間的刷子將邊膠刷洗掉。氧等離子普遍用于光刻膠去除。圖形光刻外協

雙面鍍膜光刻是針對硅及其它半導體基片發展起來的加工技術。在基片兩面制作光刻圖樣并且實現映射對準曝光，如果圖樣不是軸向對稱的，往往需要事先設計圖樣成鏡像關系的兩塊掩模板，每塊掩模板用于基片一個表面的曝光，加工設備的高精度掩?！瑢始夹g是關鍵。對于玻璃基片，設計對準標記并充分利用其透明屬性，可以方便對準操作，提高對準精度。光學玻璃基片，表面光潔度不如晶圓，需要事先經過光學拋光的工藝處理。玻璃基片的透光性是個可利用的屬性，物鏡可以直接透過基片看到掩模板的對準標記。數字顯微鏡可以不斷變焦觀察掩模板和基片的對準情形，不再以關聯物鏡參照系的數字存儲圖像為基準，則調焦引起的物鏡抖動對于對準精度不再發生作用。這就是玻璃基片的透明屬性帶來的好處。貴州光刻服務價格實時監控和反饋系統優化了光刻工藝的穩定性。

基于光刻工藝的微納加工技術主要包含以下過程：掩模（mask）制備、圖形形成及轉移（涂膠、曝光、顯影）、薄膜沉積、刻蝕、外延生長、氧化和摻雜等。在基片表面涂覆一層某種光敏介質的薄膜（抗蝕膠），曝光系統把掩模板的圖形投射在（抗蝕膠）薄膜上，光（光子）的曝光過程是通過光化學作用使抗蝕膠發生光化學作用，形成微細圖形的潛像，再通過顯影過程使剩余的抗蝕膠層轉變成具有微細圖形的窗口，后續基于抗蝕膠圖案進行鍍膜、刻蝕等可進一步制作所需微納結構或器件。

刻膠顯影完成后，圖形就基本確定，不過還需要使光刻膠的性質更為穩定。硬烘干可以達到這個目的，這一步驟也被稱為堅膜。在這過程中，利用高溫處理，可以除去光刻膠中剩余的溶劑、增強光刻膠對硅片表面的附著力，同時提高光刻膠在隨后刻蝕和離子注入過程中的抗蝕性能力。另外，高溫下光刻膠將軟化，形成類似玻璃體在高溫下的熔融狀態。這會使光刻膠表面在表面張力作用下圓滑化，并使光刻膠層中的缺陷減少，這樣修正光刻膠圖形的邊緣輪廓。高精度的微細結構可以通過電子束直寫或激光直寫制作，這類光刻技術，像“寫字”一樣。

厚膠光學光刻具有工藝相對簡單、與現有IC工藝流程兼容性好、制作成本低等優點，是用來制作大深度微光學、微機械、微流道結構元件的一種很重要的方法和手段，具有廣闊的應用前景，因而是微納加工技術研究中十分活躍的領域。厚膠光刻是一個多參量的動態變化過程，多種非線性畸變因素的存在，使得對其理論和實驗的研究，與薄膠相比要復雜得多。厚層光刻膠顯影后抗蝕劑浮雕輪廓不僅可以傳遞圖形，而且可以直接作為工作部件、微機械器件封裝材料等。例如SU—8光刻膠具有良好的力學特性，可直接作為微齒輪、微活塞等部件的工作材料。隨著厚膠光學光刻技術的成熟和完善，該技術不僅可以制作大深度、大深寬比臺階型微結構元件，而且可以制作大深度連續面形微結構元件。EUV光刻解決了更小特征尺寸的需求。黑龍江激光直寫光刻

光刻膠是微納加工中微細圖形加工的關鍵材料之一。圖形光刻外協

通過光刻技術制作出的微納結構需進一步通過刻蝕或者鍍膜，才可獲得所需的結構或元件?？涛g技術，是按照掩模圖形對襯底表面或表面覆蓋薄膜進行選擇性腐蝕或剝離的技術，可分為濕法刻蝕和干法刻蝕。濕法刻蝕較普遍、也是成本較低的刻蝕方法，大部份的濕刻蝕液均是各向同性的，換言之，對刻蝕接觸點之任何方向腐蝕速度并無明顯差異。而干刻蝕采用的氣體，或轟擊質量頗巨，或化學活性極高，均能達成刻蝕的目的。其較重要的優點是能兼顧邊緣側向侵蝕現象極微與高刻蝕率兩種優點。干法刻蝕能夠滿足亞微米/納米線寬制程技術的要求，且在微納加工技術中被大量使用。圖形光刻外協