車間管理者需要的是能即時反映產線狀態的良率監控工具，而非復雜的數據平臺。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動匯聚來自現場Tester設備的測試結果，并實時進行數據清洗與異常過濾，確保看板展示的信息準確有效。通過標準化數據庫，系統支持按班次、機臺或產品型號動態呈現良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識別異常批次。當某區域連續出現低良率時，系統可聯動CP與FT數據判斷是否為共性工藝問題，并觸發預警。日報、周報自動生成并支持多格式導出，減少手工填報負擔。這種“輕部署、快響應、強落地”的設計思路，使良率管理真正融入日常生產節奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運作邏輯的深刻洞察，持續優化YMS的車間適用性。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。云南晶圓PAT解決方案

不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產良率管理方案，可根據客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數據結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規則；針對客戶審計需求，可開發合規性報告模塊。系統底層保持統一數據治理規范，上層應用則靈活適配業務流程，確保數據質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發視為價值共創過程，以技術靈活性支撐客戶業務獨特性。陜西半導體GDBC系統定制Mapping數據經解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結果可追溯。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過堆疊Mapping及不同算法幫助用戶剔除潛在質量風險的芯片。

在半導體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區域。這一現象主要源于幾個關鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導致工藝一致性變差；其次，邊緣區域更容易出現厚度不均、殘留應力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導致邊緣芯片的電氣參數漂移、性能不穩定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執行“去邊”操作，便成為一項提升產品整體良率與可靠性的關鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續對這些潛在不良品進行不必要的封裝和測試，從而直接節約成本，并確保出廠產品的質量與可靠性要求。Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，保障晶圓表面完整性。云南晶圓PAT解決方案

上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。云南晶圓PAT解決方案

晶圓級良率監控要求系統能處理高密度、高維度的測試數據流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設備，實時匯聚原始測試結果并完成結構化清洗，消除人工干預帶來的延遲與誤差。系統以圖表形式直觀呈現晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環節的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯動WAT參數變化追溯前道工藝漂移，實現從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導出，滿足從產線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關聯分析能力，使良率管理從經驗驅動轉向數據驅動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質增效的有效工具。云南晶圓PAT解決方案

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！