在半導體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區域。這一現象主要源于幾個關鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導致工藝一致性變差；其次，邊緣區域更容易出現厚度不均、殘留應力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導致邊緣芯片的電氣參數漂移、性能不穩定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執行“去邊”操作，便成為一項提升產品整體良率與可靠性的關鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續對這些潛在不良品進行不必要的封裝和測試，從而直接節約成本，并確保出廠產品的質量與可靠性要求。Mapping Inkless避免油墨標記對先進封裝工藝的干擾，保持晶圓潔凈度。福建可視化PAT系統定制

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。福建MappingOverInk處理平臺上海偉諾信息科技DPAT功能，通過結合測試數據去除超出規范的芯片并生成新的Mapping。

當CP良率驟降而FT失敗模式復雜時，只靠單一測試階段數據難以歸因。YMS系統將WAT、CP與FT參數統一納入分析框架，建立跨階段關聯模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時CP漏電流異常升高，YMS可自動關聯兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數曲線與良率變化，快速鎖定關鍵影響因子，避免在封裝或測試環節盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數天縮短至數小時，減少試產浪費。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數據，使YMS成為良率攻關的關鍵工具。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數據留痕，確保處理過程透明可審計。

面對海量測試數據，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統將良率與缺陷信息轉化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數散點圖暴露非線性關聯關系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數據分析門檻，使非數據專業人員也能參與質量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數據到行動的轉化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關鍵設計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。陜西可視化PAT

工藝波動引發的微小偏移通過PAT統計模型精確捕捉，實現早期預警。福建可視化PAT系統定制

在半導體設計與制造流程中，良率管理系統的價值體現在對復雜測試數據的高效整合與深度挖掘。系統自動對接多種測試設備輸出的異構數據，完成清洗、去重與結構化處理，構建可靠的數據基礎。通過對WAT、CP、FT等關鍵工藝節點參數的聯動分析，系統能夠揭示潛在的工藝偏差或設計缺陷，為研發和制造團隊提供可執行的優化建議。多維度圖表直觀呈現良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數據呈現的多樣化需求，實現從現場到決策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質取勝”的理念，持續打磨YMS產品，推動國產半導體軟件生態建設。福建可視化PAT系統定制

上海偉諾信息科技有限公司在同行業領域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創新的市場高度，多年以來致力于發展富有創新價值理念的產品標準，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的商業口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環境，富有營養的公司土壤滋養著我們不斷開拓創新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！