面對國產手機芯片動輒數千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產能與成本需求。國磊GT600憑借512站點并行測試能力，開創“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數級提升。這不僅將單位時間產出提高數十倍，更大幅縮短新品從試產到大規模鋪貨的周期，搶占市場先機。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據半導體行業經驗數據，同測數（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點能力，相較傳統32或64站點設備，成本降幅可達70%以上，為國產手機SoC在激烈市場競爭中贏得價格優勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構，構建起支撐國產**芯片量產的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩”。國磊GT600支持選配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內精確施加電壓，監測各電源域的動態與靜態電流。定制化CAF測試設備

杭州國磊半導體設備有限公司自主研發推出CAF測試系統GM8800。系統集成±100V內置電源與3000V外置高壓模塊，采用三段式步進電壓技術：0-100V區間0.01V微調、100-500V步進0.1V、500-3000V步進1V。電壓精度達±0.05V（1-100VDC），結合100V/2ms超快上升速度，精細模擬電動汽車電控浪涌沖擊。1MΩ保護電阻與1-600秒可編程穩定時間，有效消除容性負載誤差。測試范圍覆蓋10?-101?Ω，其中101?Ω極限測量精度±10%，為SiC功率模塊提供實驗室級絕緣驗證方案。蘇州CAF測試系統批發國磊GT600向量存儲深度32/64/128M，支持長Pattern測試序列，適用于帶數字校準功能的智能傳感器芯片。

國磊半導體推出的GM8800導電陽極絲（CAF）測試系統，是一款集高性能、高可靠性、高靈活性于一體的國產CAF測試裝備。該系統最大支持256通道分組CAF測試，電阻測量范圍寬至10^4~10^14Ω，測量精度高，能夠靈敏、準確地捕捉絕緣材料在直流高壓和濕熱環境下的電阻退化現象，為評估其耐CAF性能提供定量依據。GM8800提供精確可調的電壓應力，內置0V~±100V精密電源，外接偏置電壓比較高達3000V，電壓輸出穩定且精度高，步進調節精細，并具備快速的電壓建立能力。系統測試參數設置靈活，間隔時間、穩定時間、總時長均可按需配置，并集成實時溫濕度監控與多重安全報警功能（如低阻、電壓異常、停機、斷電、軟件故障），確保長期測試的安全與連續。配套軟件提供全自動測試控制、數據采集、圖形化分析、報告導出及遠程監控功能，操作簡便。與進口品牌如英國GEN3相比，GM8800在**測試能力上毫不遜色，而在通道數量、購置成本、使用靈活性以及本土技術服務響應方面具有明顯優勢，非常適合國內PCB行業、汽車電子制造商、學術研究機構及第三方實驗室用于材料鑒定、工藝優化和質量可靠性驗證，是實現關鍵測試設備國產化替代的理想選擇。

GM8800導電陽極絲（CAF）測試系統是杭州國磊半導體設備有限公司針對**絕緣材料可靠性測試推出的主力產品，該系統集成了多通道并行測量、高精度電阻采集和實時環境監控等先進功能。其硬件平臺可配置**多16塊高性能測試板卡，輕松實現256個測試點的同步或**運行，電阻測量范圍覆蓋10^6Ω至10^14Ω，并可在8S內完成全部通道的掃描與數據處理，極大提升了高阻測試的效率。系統支持0V~±100V內置電源與1V~3000V外置偏置電壓的靈活組合，電壓控制精度在100V以內達±0.05V，并具備100V/2ms的快速電壓爬升能力，可精細模擬各類苛刻的電場環境。在安全機制方面，GM8800提供包括AC斷電、軟件死機、溫濕度超限等在內的多重報警保護，并可選配30~120分鐘的UPS后備電源，確保長時間測試不受電網波動影響。相較于英國GEN3等進口設備，GM8800在通道數量、電壓適應范圍和綜合使用成本上優勢***，特別適合國內PCB制造商、車載電子供應商和材料實驗室用于CAF效應研究、絕緣材料壽命評估等高精度測試場景，是實現**測試設備國產化替代的可靠選擇。高中端國產替代測試系統，用戶高性價比的選擇！

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機正是確保這類芯片“萬無一失”的關鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時驗證數字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩定、語音響應及時。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態漏電流（Iddq）和動態功耗，篩選出“省電體質”的芯片，直接決定眼鏡的續航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時佩戴使用，可靠性至關重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗證，提前發現潛在缺陷，避免用戶端出現死機、發熱等問題。AI眼鏡量產規模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產品上市。可以說，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。 AI邊緣計算SoC用于機器人、穿戴設備MCU+AI架構芯片，GT600通過nA級PPMU、TMU支持端側AI低功耗可靠性測試。福州絕緣電阻測試系統

支持遠程監控，讓您隨時隨地掌握測試進程。定制化CAF測試設備

AI眼鏡的崛起標志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件，測試難度遠超傳統MCU。國磊GT600測試機憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構與開放軟件平臺，成為AI眼鏡SoC從研發驗證到量產落地的關鍵支撐。它不**滿足當前40/28nm節點的測試需求，更具備向更先進工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中，GT600為國產可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案，助力中國智造搶占下一代人機交互入口。定制化CAF測試設備