MEMS麥克風消費電子中***采用的數字/模擬MEMS麥克風，內部包含聲學傳感MEMS結構與低噪聲前置放大器ASIC。關鍵指標包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學過載點）。杭州國磊（Guolei）支持點：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計算SNR與THD；支持I2S/PDM等數字音頻接口協議測試；可進行多顆麥克風并行測試（512Sites），滿足手機廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監測（如血氧估算）、汽車胎壓監測（TPMS）、工業過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補償與校準功能。杭州國磊（Guolei）支持點：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應的電容激勵信號；Digitizer采集校準后數字輸出（如I2C讀數），驗證線性度與零點漂移；支持高低溫環境下的參數漂移測試（配合溫控分選機）。 國磊GT600SoC測試機向量響應存儲深度達128M，可完整捕獲HBM高速數據傳輸過程中的誤碼行為。吉安CAF測試系統批發

國磊（Guolei）的SoC測試機（如GT600）雖然主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字、模擬及混合信號測試，但其技術能力與MEMS（微機電系統）領域存在多維度、深層次的聯系。盡管MEMS器件本身結構特殊（包含機械微結構、傳感器/執行器等），但在實際應用中，絕大多數MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機的**應用場景。MEMS-ASIC協同封裝的測試需求，現代MEMS產品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質集成方案。例如，加速度計/陀螺儀中的MEMS結構負責感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調理、模數轉換、溫度補償和數字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數測量單元及TMU時間測量功能，可***驗證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時序響應和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。高阻測試系統價格國磊GT600SoC測試機通過PPMU測量芯片在不同電源域下的靜態電流，精度達nA級，適用于低功耗模式驗證。

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術的快速演進，車載計算平臺對SoC（系統級芯片）的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規劃與決策控制等復雜任務。然而，如此復雜的芯片架構對測試環節構成了巨大挑戰。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借高達400 MHz的測試速率、512至2048個數字通道以及每通道高達128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發、高精度測試場景，為芯片從設計到量產提供堅實保障。

在“雙碳”目標與數據中心PUE限制日益嚴格的背景下，AI芯片的能效比（TOPS/W）已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU（每引腳參數測量單元），支持從nA級靜態漏電到數安培動態電流的全范圍測量，并具備微秒級瞬態響應能力，可精細捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關鍵電源事件。這一能力使芯片設計團隊能在測試階段繪制詳細的功耗-性能曲線，優化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機制。對追求***能效的國產AI加速器而言，GT600不僅是驗證工具，更是“每瓦特算力”的精算師，助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據先機。GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構SoC數字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗證。

5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達10ps（0.01納秒），相當于光在3毫米內傳播的時間，能精細捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉換器的時序一致性至關重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復雜調制模式下的響應性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協議測試需求。在通信技術快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產通信芯片的性能與穩定性提供精細驗證，助力中國在6G賽道搶占先機。國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。湘潭PCB測試系統工藝

國磊GT600SoC測試機提供測試向量轉換工具，支持從主流商用ATE平臺遷移HBM相關測試程序，降低導入成本。吉安CAF測試系統批發

傳統測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯等新架構。GT600針對此類需求優化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規則數據流、動態稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統的工作狀態。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產測試技術范式升級。吉安CAF測試系統批發