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杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高校科研場景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優(yōu)化測試程序，靈活實現(xiàn)各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發(fā)了學生的工程實踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由...

傳統(tǒng)測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯(lián)等新架構。GT600針對此類需求優(yōu)化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動態(tài)稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產測試技術范式升級。國磊GT600在電源門控測試中，通過其高精度測量能力與靈活測試架構，適配成熟到先進節(jié)點的工藝制程。東莞PCB測試系統(tǒng)...

兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設備，實現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設計有助于在溫控腔體內穩(wěn)定運行，確保測試數(shù)據(jù)的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產**測試設備助力智能駕駛產業(yè)鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術封鎖背景下，國產高性能測試設備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內少有的支持2048通道、400MH...

在全球半導體測試設備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數(shù)字測試領域實現(xiàn)關鍵突破。該設備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規(guī)級芯片的驗證需求。其模塊化架構不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設備，更是保障中國半導體產業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點，為國內設計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。國磊GT600尤其...

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當于每秒流過數(shù)億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微...

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其面向AI芯片特性的高性能參數(shù)和靈活架構，精細契合當前人工智能產業(yè)爆發(fā)式發(fā)展的**需求。高測試速率（100/400 MHz）——支撐AI芯片高速接口驗證，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，數(shù)據(jù)傳輸速率高達數(shù)Gbps。400 MHz測試速率可完整覆蓋AI SoC中高速I/O的功能與時序驗證，確保在真實工作頻率下穩(wěn)定運行。隨著大模型訓練對帶寬需求激增，國產AI芯片亟需高效驗證平臺，GT600成為打通“設計—驗證—量產”閉環(huán)的關鍵工具。國磊GT600支持多Site并行測試，提升電源管理...

國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測試平臺，在當前全球半導體產業(yè)鏈高度競爭與地緣***風險加劇的背景下，對保障中國半導體及**制造領域的供應鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設備進口依賴 自動測試設備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測試領域，國產設備幾乎空白。國磊GT600實現(xiàn)了400MHz測試速率、2048通道擴展、高精度AWG/TMU等關鍵技術指標的突破，具備替代進口設備的能力。這***降低了國內晶圓廠、封測廠和芯片設計公司在**測試...

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測試設備因通道數(shù)量不足，往往需分時復用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關鍵時序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內存接口等復雜結構的功能完整性與時序一致性。這一能力對寒武紀、壁仞、燧原等國產AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗證真實工作負載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產的周期，助力國產AI算力快速落地數(shù)據(jù)中心與邊緣場景。國磊GT600SoC測試機通過輸入/輸出電平測試（VIH/V...

5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達10ps（0.01納秒），相當于光在3毫米內傳播的時間，能精細捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉換器的時序一致性至關重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復雜調制模式下的響應性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量...

PPMU功能實現(xiàn)每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現(xiàn)動態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監(jiān)測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。國磊GT600SoC測試機AWG/Digitizer支持20/24bit分辨率，滿足高精度ADC/DAC類HBM輔助電路測試需求。衡陽CAF測試系統(tǒng)...

杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高校科研場景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優(yōu)化測試程序，靈活實現(xiàn)各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發(fā)了學生的工程實踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由...

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)...

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執(zhí)行多任務調度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現(xiàn)“全速連續(xù)運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT60...

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)...

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設備芯片的測試。以下幾類關鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進行驗證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數(shù)據(jù)真實可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫(yī)療設備依賴高精度A...

在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環(huán)節(jié)的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數(shù)據(jù)泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現(xiàn)自主開發(fā)，確保測試數(shù)據(jù)不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現(xiàn)，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態(tài)的基石。國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯(lián)動探針臺與分選機，實現(xiàn)全自動測試。浙江CAF測試系統(tǒng)參考價推...

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執(zhí)行多任務調度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現(xiàn)“全速連續(xù)運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT60...

測試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設計仿真平臺聯(lián)動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現(xiàn)對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業(yè)構建本土化測控生態(tài)時，采用國產測...

高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統(tǒng)的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩(wěn)定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯(lián)網(wǎng)節(jié)點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600...

杭州國磊GT600提供512個數(shù)字通道，并可擴展至2048通道，配合16個通用插槽，構建了高度靈活的硬件架構。在測試一顆引腳數(shù)超500的手機SoC時，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復用或分時測試，確保信號同步性。16個插槽支持自由組合數(shù)字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實現(xiàn)“數(shù)字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時，部分插槽配置為高速數(shù)字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時序。這種模塊化設計讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機通測，大幅降低...

測試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化，國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設計仿真平臺聯(lián)動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全 量子技術屬于國家戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現(xiàn)對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加，微小漏電異常縮短電池壽命，GT600...

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽，支持數(shù)字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復用率與投資回報率。AI邊緣計算SoC用于機器人、穿戴設備MCU+AI架構芯片，GT600通過nA級PPMU、TMU支持端側AI低功耗可靠性...

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機場景中，麒麟芯片的LPDDR5內存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅動NPU**進行高吞吐矩陣運算測試，確保算力達標。400MHz還支持復雜狀態(tài)機跳轉、多模塊協(xié)同仿真，避免因測試速率不足導致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到...

環(huán)境應力測試兼容性，部分工業(yè)或車規(guī)級MEMS需在高低溫、高濕等環(huán)境下工作。國磊（Guolei）GT600支持與溫控探針臺/分選機聯(lián)動，通過GPIB/TTL接口實現(xiàn)自動化環(huán)境應力篩選（ESS）。其小型化、低功耗設計也便于集成到溫箱內部，確保在-40℃~125℃范圍內穩(wěn)定運行，滿足AEC-Q100等車規(guī)認證要求。國產替代保障MEMS產業(yè)鏈安全 中國是全球比較大的MEMS消費市場，但**MEMS芯片及測試設備長期依賴進口。國磊（Guolei）GT600作為國產高性能ATE，已在部分國內MEMS廠商中部署，用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平臺。這不僅降低采購與維護成...

杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)（以GT600為**）雖主要面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）的數(shù)字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數(shù)字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統(tǒng)）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統(tǒng)，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲n...

低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數(shù)表征許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產驗證平臺隨著量子計算機向百比特以上規(guī)模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調制、頻率合成、反饋控制等功能，結構復雜度接近...

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測試設備因通道數(shù)量不足，往往需分時復用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關鍵時序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內存接口等復雜結構的功能完整性與時序一致性。這一能力對寒武紀、壁仞、燧原等國產AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗證真實工作負載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產的周期，助力國產AI算力快速落地數(shù)據(jù)中心與邊緣場景。國磊GT600SoC測試機AWG/Digitizer支持20...

測試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設計仿真平臺聯(lián)動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現(xiàn)對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業(yè)構建本土化測控生態(tài)時，采用國產測...

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規(guī)芯片快速上車。國磊GT600SoC測試機支持多種...

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發(fā)驗證到量產的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁В瑖贕T600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在...