杭州國磊半導體設備有限公司自主研發推出CAF測試系統GM8800。系統集成±100V內置電源與3000V外置高壓模塊，采用三段式步進電壓技術：0-100V區間0.01V微調、100-500V步進0.1V、500-3000V步進1V。電壓精度達±0.05V（1-100VDC），結合100V/2ms超快上升速度，精細模擬電動汽車電控浪涌沖擊。1MΩ保護電阻與1-600秒可編程穩定時間，有效消除容性負載誤差。測試范圍覆蓋10?-101?Ω，其中101?Ω極限測量精度±10%，為SiC功率模塊提供實驗室級絕緣驗證方案。國磊GT600支持循環執行睡眠-喚醒測試，實時采集功耗數據并自動生成報告，提升測試效率與可重復性。高性能CAF測試系統研發公司

杭州國磊半導體設備有限公司GM8800多通道絕緣電阻測試系統是專為電子制造業可靠性驗證而打造的精良工具。該系統支持16至256個通道的靈活配置，實現大規模樣品并行加速測試，其電阻檢測能力覆蓋10^4~10^14Ω，測量精度嚴格控制，能夠滿足國際標準如IPC-TM-650 2.6.25對CAF測試的嚴苛要求。GM8800提供精確可編程的電壓輸出，內置±100V精密電源，外接偏置電壓比較高3000V，電壓控制精度高，切換速度快，且測試電壓穩定時間可根據材料特性在1~600秒間精確設置。系統集成高精度電流傳感和環境溫濕度監測，實時采集所有關鍵參數，并通過完全屏蔽的低噪聲測量架構保障數據真實性。配套軟件功能強大，提供自動化測試流程、數據可視化、趨勢分析、報警設置、報告生成及遠程控制功能。在系統可靠性方面，設計了***的硬件與軟件報警機制和UPS斷電保護選項。相較于英國GEN3等進口品牌，GM8800在**測試性能上達到同等***水平，同時擁有更優的通道經濟性、更低的綜合持有成本和更迅捷的本土技術服務，已成為國內**的PCB廠商、半導體封裝廠、新能源車企及科研機構進行絕緣材料研究、工藝評價和質量控制的信賴之選，助力中國智造邁向高可靠性時代。國磊PCB測試系統參考價精確的閾值判定，及時報警，有效保護您的樣品。

隨著智能手機進入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數據顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構設計的**，更是對NPU（神經網絡處理單元）和AI工作負載深度優化的結果。而這類高度集成的AISoC，對測試設備提出了前所未有的挑戰：高引腳數、多電源域、復雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產前完成**驗證。國磊GT600測試機正是為此類**手機SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數、從數字到模擬的全棧測試能力。

天璣9000系列的成功，標志著國產手機SoC在AI賽道的**崛起。而其背后，離不開從設計、制造到測試驗證的完整產業鏈支撐。國磊GT600測試機憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號支持與開放C++軟件架構，已成為**SoC測試的關鍵基礎設施。它不**支持STDF等標準數據格式輸出，便于良率分析與AI模型訓練反饋，還可通過GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯動，構建全自動CP/FT測試流程。選擇國磊GT600測試機，就是選擇一條高效、自主、面向AI時代的SoC測試之路。國磊GT600SoC測試機支持多種面向復雜SoC的具體測試流程，涵蓋從基本功能驗證到高精度參數測量的完整鏈條。

    AI加速芯片（如思元系列）專為云端推理與邊緣計算設計，**訴求是“高算力密度、***能效比、毫秒級穩定響應”。這類芯片往往集成數千個AI**與高速互聯總線，測試復雜度高、功耗敏感、量產規模大，傳統測試設備難以兼顧效率與精度。國磊GT600憑借512站點并行測試能力，可同時對512顆芯片進行功能與參數驗證，極大縮短測試周期，攤薄單顆芯片成本——這對動輒數萬片出貨的數據中心級芯片而言，意味著數千萬級成本優化。在功耗控制上，國磊GT600的PPMU單元可精確測量芯片在待機、輕載、滿載等多場景下的靜態與動態電流，結合FVMI（強制電壓測電流）模式，驗證芯片在不同電壓域下的功耗表現，確保其在7x24小時運行的數據中心中實現“每瓦特算力比較大化”。同時，其高精度TMU（時間測量單元，10ps分辨率）可檢測AI**間數據同步的時序抖動，避免因時鐘偏移導致的推理錯誤或延遲波動，保障AI服務的穩定低時延。 國磊GT600SoC測試機有靈活的硬件配置和開放的軟件平臺，適配多種工藝節點、封裝形式和功能架構的SoC。吉安PCB測試系統精選廠家

GM8800導電陽極絲測試系統，精確測量高達10^14Ω的絕緣電阻。高性能CAF測試系統研發公司

    對國產車而言，其自研車規級MCU（微控制器）與功率半導體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業**嚴苛的可靠性認證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強振動、長期高負載等惡劣環境下仍能穩定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機正是這一“車規級體檢”的關鍵設備。其每通道PPMU（精密參數測量單元）可精細測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別芯片內部微小缺陷或工藝波動導致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統，驗證MCU在電壓波動、負載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產車構建從研發到量產的高可靠測試閉環，守護每一程出行安全。 高性能CAF測試系統研發公司