對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規芯片快速上車。國磊GT600為采用先進工藝、集成多電源域、支持復雜低功耗策略的SoC提供了從研發驗證到量產測試的全程支持。高性能PCB測試系統工藝

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。深圳SIR測試系統市場價格國磊GT600提供測試向量轉換工具，支持從傳統模擬測試平臺遷移測試程序，降低工程師學習成本與導入周期。

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預計2025年全球達1280萬副），量產測試效率成為關鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產型號的產能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標準數據格式導出，便于測試數據與MES系統對接，實現良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經網絡推理功能與低功耗行為，確保端側AI性能與續航的雙重達標。

隨著智能手機進入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數據顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構設計的**，更是對NPU（神經網絡處理單元）和AI工作負載深度優化的結果。而這類高度集成的AISoC，對測試設備提出了前所未有的挑戰：高引腳數、多電源域、復雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產前完成**驗證。國磊GT600測試機正是為此類**手機SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數、從數字到模擬的全棧測試能力。國磊GT600SoC測試機通過地址/數據生成器驗證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。

醫療成像芯片 CT、MRI、內窺鏡等設備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質量要求極高。國磊GT600可通過高速數字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫療設備芯片 心臟起搏器、神經刺激器等植入設備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態電流，篩選出“省電體質”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產**醫療芯片的上市提供了堅實的質量保障。國磊GT600支持Access、Excel、CSV數據導出，便于模擬測試數據的曲線擬合與工藝偏差分析。湖州CAF測試系統研發

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HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數據速率高達Gbps級別，對測試設備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰。國磊GT600測試機以400MHz測試速率和**2048個數字通道的強大配置，從容應對HBM接口的高并發、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運行復雜協議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產AI芯片量產效率與市場競爭力的**引擎。高性能PCB測試系統工藝