隨著智能手機進入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數據顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構設計的**，更是對NPU（神經網絡處理單元）和AI工作負載深度優化的結果。而這類高度集成的AISoC，對測試設備提出了前所未有的挑戰：高引腳數、多電源域、復雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產前完成**驗證。國磊GT600測試機正是為此類**手機SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數、從數字到模擬的全棧測試能力。電阻測量范圍10?–101?Ω，滿足高阻值測試需求，數據準確可靠。國磊GEN測試系統現貨直發

智能汽車芯片的“安全衛士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規級MCU、功率半導體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴苛認證，確保在-40℃~150℃極端環境下穩定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元在電壓波動、負載突變下的穩定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。GEN3測試設備研發現代低功耗SoC普遍采用動態電壓頻率調節以平衡性能與能耗。國磊GT600可通過使用SMU動態切換供電電壓。

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機正是確保這類芯片“萬無一失”的關鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時驗證數字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩定、語音響應及時。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態漏電流（Iddq）和動態功耗，篩選出“省電體質”的芯片，直接決定眼鏡的續航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時佩戴使用，可靠性至關重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗證，提前發現潛在缺陷，避免用戶端出現死機、發熱等問題。AI眼鏡量產規模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產品上市。可以說，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯動，構建高精度模擬參數測試系統。

國磊GT600測試機的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測量低功耗狀態切換延遲與喚醒時間，確保實時響應性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動態參數測試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜低功耗狀態機的序列測試，而512Sites高并行測試能力則**降低單位測試成本，滿足物聯網、可穿戴設備等高量產場景的需求。綜上所述，現代工藝節點與充足資金確實使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設計復雜度的提升也對測試設備提出了更高要求。國磊GT600測試機憑借其高精度模擬測量能力、靈活的混合信號支持、高并行架構與開放軟件平臺，不**能夠驗證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評估其在先進工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設計到量產落地的關鍵測試基礎設施。國磊GT600可用于測量電源上電時序（PowerSequencing），確保多域電源按正確順序激發，避免閂鎖效應。杭州國磊PCB測試系統研發

國磊GT600的16個通用插槽支持數字、模擬、混合信號板卡混插，實現電源管理IC、傳感器信號調理芯片的測試。國磊GEN測試系統現貨直發

AI芯片在推理或訓練突發負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態電流監測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態功耗波形，幫助設計團隊優化去耦電容布局與電源完整性（PI）設計。其128M向量響應存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式。現代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數常超2000。國磊GT600支持**2048個數字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務器芯片大規模量產需求。
國磊GEN測試系統現貨直發