國磊（Guolei）的SoC測試機（如GT600）雖然主要面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）的數(shù)字、模擬及混合信號測試，但其技術(shù)能力與MEMS（微機電系統(tǒng)）領(lǐng)域存在多維度、深層次的聯(lián)系。盡管MEMS器件本身結(jié)構(gòu)特殊（包含機械微結(jié)構(gòu)、傳感器/執(zhí)行器等），但在實際應(yīng)用中，絕大多數(shù)MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風(fēng)、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機的**應(yīng)用場景。MEMS-ASIC協(xié)同封裝的測試需求，現(xiàn)代MEMS產(chǎn)品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質(zhì)集成方案。例如，加速度計/陀螺儀中的MEMS結(jié)構(gòu)負(fù)責(zé)感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換、溫度補償和數(shù)字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數(shù)字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數(shù)測量單元及TMU時間測量功能，可***驗證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時序響應(yīng)和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。立即聯(lián)系我們，獲取專屬的產(chǎn)品演示與報價。國產(chǎn)絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)

盡管“杭州六小龍”（游戲科學(xué)、深度求索、宇樹科技等）以應(yīng)用層創(chuàng)新聞名，但其產(chǎn)品**均依賴高性能、低功耗的定制化SoC。若這些企業(yè)未來走向自研芯片（如深度求索布局AI推理加速卡、強腦科技開發(fā)神經(jīng)信號處理芯片），GT600將成為其不可或缺的驗證伙伴。即便當(dāng)前由第三方代工，其合作芯片廠也可能采用GT600進行量產(chǎn)測試。更重要的是，二者同處杭州科創(chuàng)生態(tài)，共享人才、政策與供應(yīng)鏈資源。GT600雖未出現(xiàn)在烏鎮(zhèn)峰會聚光燈下，卻是支撐“六小龍”硬科技底座的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施，構(gòu)成“應(yīng)用—算法—芯片—測試”的完整本地閉環(huán)。國產(chǎn)絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測試設(shè)備通道不足。支持**多2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復(fù)用導(dǎo)致的測試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國產(chǎn)AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數(shù)據(jù)中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現(xiàn)真實AI負(fù)載場景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負(fù)載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應(yīng)用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設(shè)備芯片的測試。以下幾類關(guān)鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進行驗證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設(shè)備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數(shù)據(jù)真實可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫(yī)療設(shè)備依賴高精度ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）進行信號轉(zhuǎn)換。國磊GT600的PPMU可精確測量nA級漏電流，防止信號漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標(biāo)準(zhǔn)生理信號波形，驗證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關(guān)鍵參數(shù)，確保血壓、血氧等測量值符合醫(yī)療級標(biāo)準(zhǔn)。GM8800導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)，精確測量高達10^14Ω的絕緣電阻。

AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計。其128M向量響應(yīng)存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式。現(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
操作界面友好，即使新手也能快速上手操作。廣州PCB測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

國磊GT600SoC測試機可通過配置相應(yīng)板卡和開發(fā)測試程序?qū)崿F(xiàn)SoC全測試。國產(chǎn)絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)

支持復(fù)雜測試向量導(dǎo)入，加速算法驗證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺導(dǎo)入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動測試設(shè)備）可執(zhí)行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實道路場景下的圖像識別或目標(biāo)檢測激勵序列，驗證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測試”一體化驗證閉環(huán)。國產(chǎn)絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)