智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術的快速演進，車載計算平臺對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復雜任務。然而，如此復雜的芯片架構對測試環(huán)節(jié)構成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借高達400 MHz的測試速率、512至2048個數(shù)字通道以及每通道高達128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設計到量產(chǎn)提供堅實保障。支持Windows 7/8/10系統(tǒng)，軟硬件兼容性強，部署便捷。珠海GEN測試系統(tǒng)定制

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復雜算法流下穩(wěn)定運行。GT600每通道提供高達128M的向量存儲深度，遠超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進行回放測試。這種“場景級驗證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實現(xiàn)“測得準、用得穩(wěn)”。蘇州導電陽極絲測試系統(tǒng)廠家供應國磊GT600支持可配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)施加電壓，并監(jiān)測各電源域的動態(tài)與靜態(tài)電流。

盡管“杭州六小龍”（游戲科學、深度求索、宇樹科技等）以應用層創(chuàng)新聞名，但其產(chǎn)品**均依賴高性能、低功耗的定制化SoC。若這些企業(yè)未來走向自研芯片（如深度求索布局AI推理加速卡、強腦科技開發(fā)神經(jīng)信號處理芯片），GT600將成為其不可或缺的驗證伙伴。即便當前由第三方代工，其合作芯片廠也可能采用GT600進行量產(chǎn)測試。更重要的是，二者同處杭州科創(chuàng)生態(tài)，共享人才、政策與供應鏈資源。GT600雖未出現(xiàn)在烏鎮(zhèn)峰會聚光燈下，卻是支撐“六小龍”硬科技底座的關鍵基礎設施，構成“應用—算法—芯片—測試”的完整本地閉環(huán)。

“風華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時序穩(wěn)定性要求極為嚴苛。國磊GT600測試機支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準確。國磊GT600測試機的模塊化16插槽架構支持數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。電源門控模塊在喚醒時快速供電進入狀態(tài)。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號到模塊輸出有效信號的時間。

推動測試設備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構建完整的國產(chǎn)半導體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現(xiàn)**測試設備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進上下游協(xié)同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點。國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。湖州PCB測試系統(tǒng)按需定制

國磊GT600SoC測試機有靈活的硬件配置和開放的軟件平臺，適配多種工藝節(jié)點、封裝形式和功能架構的SoC。珠海GEN測試系統(tǒng)定制

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。珠海GEN測試系統(tǒng)定制