測試數據閉環(huán)助力量子芯片協同優(yōu)化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業(yè)構建本土化測控生態(tài)時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特，但作為支撐量子系統(tǒng)“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統(tǒng)”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導體產業(yè)的利器，也正在成為量子科技產業(yè)化進程中的一塊關鍵拼圖。 國磊GT600支持多Site并行測試，提升電源管理芯片、運放等高量產型號的測試效率與產能。蘇州CAF測試系統(tǒng)研發(fā)

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。揚州CAF測試系統(tǒng)參考價國磊GT600SoC測試機高精度浮動SMU板卡可實現HBM接口電源域的電壓裕量（VoltageMargining）與功耗測試。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質上是一款面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發(fā)展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)確實可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質上是一款面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測試系統(tǒng)確實可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。 國磊GT600SoC測試機可通過配置相應板卡和開發(fā)測試程序實現SoC全測試。

杭州國磊以GT600為支點，正從區(qū)域企業(yè)成長為全國性半導體測試解決方案提供商。依托杭州“數字經濟***城”的產業(yè)勢能，GT600已服務于長三角多家AI芯片設計公司，并逐步向粵港澳、成渝等集成電路集群拓展。未來，隨著中國AI芯片出海加速，GT600憑借高性價比與本地化服務優(yōu)勢，有望進入東南亞、中東等新興市場。在烏鎮(zhèn)互聯網大會倡導“構建網絡空間命運共同體”的背景下，GT600不僅是中國技術自主的象征，更是向世界輸出“安全、高效、普惠”測試標準的載體，彰顯中國硬科技企業(yè)的全球擔當。國磊GT600可選ALPG功能，生成地址/數據序列，用于測試集成了EEPROM或配置寄存器的模擬前端（AFE）芯片。蘇州CAF測試系統(tǒng)研發(fā)

國磊GT600SoC測試機通過地址/數據生成器驗證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。蘇州CAF測試系統(tǒng)研發(fā)

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽，支持數字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復用率與投資回報率。蘇州CAF測試系統(tǒng)研發(fā)