PPMU功能實現每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現動態功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。國磊GT600SoC測試機尤其適用于高引腳數、高集成度、混合信號特征明顯的先進芯片。湘潭CAF測試系統現貨直發

    高通道密度（512~2048數字通道）——適配復雜AISoC引腳規模，現代AI芯片引腳數常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現真實AI負載場景回放，AI推理/訓練涉及復雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產品上市周期。 GEN3測試設備供應商國磊GT600SoC測試機邊沿精度（EPA）達100ps，確保HBM高速信號建立/保持時間（Setup/Hold）的精確測量。

智能汽車芯片的“安全衛士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規級MCU、功率半導體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴苛認證，確保在-40℃~150℃極端環境下穩定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元在電壓波動、負載突變下的穩定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。

高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯網節點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測量待機/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級），驗證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設計目標，這對通過終端產品能效認證（如Energy Star）具有直接價值。電源門控模塊在喚醒時快速供電進入狀態。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號到模塊輸出有效信號的時間。

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其面向AI芯片特性的高性能參數和靈活架構，精細契合當前人工智能產業爆發式發展的**需求。高測試速率（100/400 MHz）——支撐AI芯片高速接口驗證，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，數據傳輸速率高達數Gbps。400 MHz測試速率可完整覆蓋AI SoC中高速I/O的功能與時序驗證，確保在真實工作頻率下穩定運行。隨著大模型訓練對帶寬需求激增，國產AI芯片亟需高效驗證平臺，GT600成為打通“設計—驗證—量產”閉環的關鍵工具。國磊GT600憑高精度參數測量、多域電源控制與可編程軟件平臺，支持從90nm到7nm主流工藝節點電源門控測試。上海CAF測試系統精選廠家

國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯動，構建高精度模擬參數測試系統。湘潭CAF測試系統現貨直發

工業物聯網的“量產引擎” 工業物聯網（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據行業測算，同測數每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環境下穩定運行的“工業級”芯片。其GTFY系統支持STDF數據導出，可無縫對接工廠MES系統，實現良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優勢，為國產IIoT芯片的大規模量產提供強大引擎，助力中國智造走向全球。湘潭CAF測試系統現貨直發