可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數字化儀），使其從“數字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形，實現全功能閉環驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC，無需外接多臺設備，節省空間與成本。國磊GT600向量存儲深度32/64/128M，支持長Pattern測試序列，適用于帶數字校準功能的智能傳感器芯片。珠海GEN測試系統供應商

高同測能力加速智能駕駛芯片量產進程。智能駕駛芯片往往需要大規模部署于整車廠供應鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內同時驗證數百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產模式無縫切換，便于在研發驗證與大規模生產之間靈活調配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內完成認證與交付。國磊高阻測試系統國磊GT600SoC測試機通過PPMU測量芯片在不同電源域下的靜態電流，精度達nA級，適用于低功耗模式驗證。

醫療成像芯片 CT、MRI、內窺鏡等設備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質量要求極高。國磊GT600可通過高速數字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫療設備芯片 心臟起搏器、神經刺激器等植入設備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態電流，篩選出“省電體質”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產**醫療芯片的上市提供了堅實的質量保障。

    高通道密度（512~2048數字通道）——適配復雜AISoC引腳規模，現代AI芯片引腳數常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現真實AI負載場景回放，AI推理/訓練涉及復雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產品上市周期。 電源門控模塊在喚醒時快速供電進入狀態。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號到模塊輸出有效信號的時間。

國磊（Guolei）的SoC測試機（如GT600）雖然主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字、模擬及混合信號測試，但其技術能力與MEMS（微機電系統）領域存在多維度、深層次的聯系。盡管MEMS器件本身結構特殊（包含機械微結構、傳感器/執行器等），但在實際應用中，絕大多數MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機的**應用場景。MEMS-ASIC協同封裝的測試需求，現代MEMS產品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質集成方案。例如，加速度計/陀螺儀中的MEMS結構負責感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調理、模數轉換、溫度補償和數字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數測量單元及TMU時間測量功能，可***驗證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時序響應和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。杭州高阻測試系統

國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。珠海GEN測試系統供應商

工業物聯網的“量產引擎” 工業物聯網（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據行業測算，同測數每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環境下穩定運行的“工業級”芯片。其GTFY系統支持STDF數據導出，可無縫對接工廠MES系統，實現良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優勢，為國產IIoT芯片的大規模量產提供強大引擎，助力中國智造走向全球。珠海GEN測試系統供應商