在全球半導體測試設備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數(shù)字測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)關(guān)鍵突破。該設備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規(guī)級芯片的驗證需求。其模塊化架構(gòu)不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產(chǎn)芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設備，更是保障中國半導體產(chǎn)業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點，為國內(nèi)設計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。國磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD達-122dB，SNR110dB，適用于音頻編解碼器、高保真信號鏈芯片的失真分析。浙江GEN3測試系統(tǒng)價位

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復雜算法流下穩(wěn)定運行。GT600每通道提供高達128M的向量存儲深度，遠超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進行回放測試。這種“場景級驗證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實現(xiàn)“測得準、用得穩(wěn)”。廣東高阻測試系統(tǒng)市價國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。

在“雙碳”目標與數(shù)據(jù)中心PUE限制日益嚴格的背景下，AI芯片的能效比（TOPS/W）已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持從nA級靜態(tài)漏電到數(shù)安培動態(tài)電流的全范圍測量，并具備微秒級瞬態(tài)響應能力，可精細捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關(guān)鍵電源事件。這一能力使芯片設計團隊能在測試階段繪制詳細的功耗-性能曲線，優(yōu)化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機制。對追求***能效的國產(chǎn)AI加速器而言，GT600不僅是驗證工具，更是“每瓦特算力”的精算師，助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據(jù)先機。

醫(yī)療成像芯片 CT、MRI、內(nèi)窺鏡等設備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質(zhì)量要求極高。國磊GT600可通過高速數(shù)字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫(yī)療設備芯片 心臟起搏器、神經(jīng)刺激器等植入設備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態(tài)電流，篩選出“省電體質(zhì)”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產(chǎn)**醫(yī)療芯片的上市提供了堅實的質(zhì)量保障。國磊GT600測試機可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節(jié)點的電源門控測試。

高精度模擬測試滿足車規(guī)級信號完整性要求 智能駕駛系統(tǒng)高度依賴毫米波雷達、攝像頭、激光雷達等傳感器輸入，其前端模擬信號鏈對噪聲、失真和時序精度極為敏感。杭州國磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標，可精細生成高質(zhì)量模擬激勵信號；而GT-TMUHA04時間測量單元則提供10ps分辨率與時序誤差*±10ps的測量能力。這些高精度模擬與混合信號測試功能，使得GT600能夠***驗證AD/DA轉(zhuǎn)換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現(xiàn)，確保智能駕駛SoC在真實道路環(huán)境中穩(wěn)定可靠運行。國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)研發(fā)

國磊GT600憑高精度參數(shù)測量、多域電源控制與可編程軟件平臺，支持從90nm到7nm主流工藝節(jié)點電源門控測試。浙江GEN3測試系統(tǒng)價位

高同測能力加速智能駕駛芯片量產(chǎn)進程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內(nèi)同時驗證數(shù)百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規(guī)級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關(guān)重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產(chǎn)模式無縫切換，便于在研發(fā)驗證與大規(guī)模生產(chǎn)之間靈活調(diào)配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內(nèi)完成認證與交付。浙江GEN3測試系統(tǒng)價位