高通道密度（512~2048數字通道）——適配復雜AISoC引腳規模，現代AI芯片引腳數常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現真實AI負載場景回放，AI推理/訓練涉及復雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產品上市周期。 國磊GT600SoC測試機尤其適用于高引腳數、高集成度、混合信號特征明顯的先進芯片。浙江SIR測試系統行價

支撐國產芯片全流程自主驗證 從設計到量產，芯片必須經過嚴格的功能與參數測試。若測試設備受制于人，不僅存在數據安全風險（如測試程序、芯片特性被第三方獲取），還可能因設備兼容性問題拖慢研發節奏。國磊（Guolei）GT600采用開放式GTFY軟件架構，支持C++編程、自定義測試流程，并兼容STDF、CSV等標準格式，使國產CPU、GPU、AI加速器、車規MCU等關鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產測試，確保“設計—制造—測試”全鏈條安全閉環。加速國產芯片生態成熟與迭代 供應鏈安全不僅在于“有無”，更在于“效率”與“響應速度”。國磊作為本土企業，可提供快速的技術支持、定制化開發和本地化服務。例如，某智能駕駛芯片廠商在流片后發現高速接口時序異常，國磊工程師可在48小時內協同優化TMU測試程序，而依賴國外設備則可能需數周等待遠程支持。這種敏捷響應能力極大縮短了國產芯片的調試周期，加速產品上市，提升整個生態的競爭力與韌性。絕緣電阻測試系統供應商國磊GT600SoC測試機向量響應存儲深度達128M，可完整捕獲HBM高速數據傳輸過程中的誤碼行為。

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統（以GT600為**）雖主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應延遲與帶寬；使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。

工業物聯網的“量產引擎” 工業物聯網（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據行業測算，同測數每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環境下穩定運行的“工業級”芯片。其GTFY系統支持STDF數據導出，可無縫對接工廠MES系統，實現良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優勢，為國產IIoT芯片的大規模量產提供強大引擎，助力中國智造走向全球。國磊GT600SoC測試機512Sites高并行測試架構，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 國磊GT600支持可配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內施加電壓，并監測各電源域的動態與靜態電流。揚州CAF測試系統研發公司

國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠（或關斷模式下靜態漏電流。浙江SIR測試系統行價

杭州國磊SOC測試機：開啟全場景智能測試新紀元在半導體測試領域，杭州國磊SOC測試機憑借***性能與創新技術脫穎而出，成為行業焦點。作為杭州國磊半導體設備有限公司的**產品，它專為系統級芯片（SoC）測試量身打造，以“彈性擴展+國產自研+全棧覆蓋”三大**優勢，為芯片測試提供一站式解決方案。 杭州國磊SOC測試機采用模塊化彈性架構，擁有GC-36旗艦型、GC-18性能型、GC-8經濟型三階主機箱，靈活適配不同規模產線與實驗室驗證需求。其***“硬對接+線纜雙模式”，支持機柜、桌面、機端部署，極大提升了設備部署的便捷性與靈活性。 在性能方面，杭州國磊SOC測試機實現多項突破。數字信號速率高達800Mbps，向量存儲深度達128M，支持多站點并行測試，單機可同步運行32個測試單元，測試吞吐量提升300%，***縮短測試周期。同時，其高壓測試范圍覆蓋-10V至+1000V，時間測量精度達1ps分辨率，滿足**AD/DA芯片、MCU微控制單元等復雜芯片的嚴苛測試需求。 作為國產自研的典范，更在服務響應速度與定制化能力上**一步。其全流程測試覆蓋能力，涵蓋數字、電源、高壓、大功率、射頻分析等六大核心板卡矩陣，為芯片從研發到量產的全生命周期提供堅實保障。浙江SIR測試系統行價