對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規芯片快速上車。國磊GT600SoC測試機支持多種面向復雜SoC的具體測試流程，涵蓋從基本功能驗證到高精度參數測量的完整鏈條。長沙絕緣電阻測試系統

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 南通導電陽極絲測試系統研發國磊GT600SoC測試機ALPG功能可生成地址/數據模式，用于HBM存儲控制器的功能驗證。

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規芯片、工業級MCU、航天電子、醫療設備芯片）時，展現出精度、***性、穩定性與可追溯性四大**優勢，確保產品在極端環境下長期穩定運行。首先，高精度參數測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數測量單元），可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業設備的復雜電源環境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優良，支持7x24小時連續運行，可執行長達數周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數據完整。***，數據可追溯性強。

集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態電流與A級動態電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”，實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創新迭代 背景：AI架構快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯，高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具，更是科研創新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600SoC測試機DPS板卡支持動態Force輸出，可用于HBM電源上電時序（PowerSequencing）驗證。

 PPMU功能實現每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現動態功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。國磊GT600的高精度參數測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號檢測精度適配現代低功耗SoC設計需求。金華導電陽極絲測試系統研發公司

AI邊緣計算SoC用于機器人、穿戴設備MCU+AI架構芯片，GT600通過nA級PPMU、TMU支持端側AI低功耗可靠性測試。長沙絕緣電阻測試系統

    高通道密度（512~2048數字通道）——適配復雜AISoC引腳規模，現代AI芯片引腳數常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現真實AI負載場景回放，AI推理/訓練涉及復雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產品上市周期。 長沙絕緣電阻測試系統