測試數據閉環助力量子芯片協同優化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。 國磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD達-122dB，SNR110dB，適用于音頻編解碼器、高保真信號鏈芯片的失真分析。深圳高阻測試系統定制

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復雜算法流下穩定運行。GT600每通道提供高達128M的向量存儲深度，遠超行業平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執行軌跡進行回放測試。這種“場景級驗證”能有效捕獲傳統短向量測試難以發現的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強腦科技、宇樹科技等開發**AI硬件的企業而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實際使用環境的高度模擬，從而***提升產品魯棒性，降低售后故障率，真正實現“測得準、用得穩”。湖州GEN測試系統定制國磊GT600尤其適用于對漏電控制要求嚴苛的低功耗SoC，是國產高ji芯片研發與量產驗證的重要支撐工具。

數據中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標下，數據中心能耗成為焦點，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務器CPU的靜態與動態功耗，結合FVMI（強制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設計團隊優化電壓頻率調節（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負載下的電壓跌落，防止因供電不穩導致死機。杭州國磊GT600支持長時間穩定性測試，模擬數據中心7x24小時運行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點并行測試大幅降低單顆芯片測試時間與成本，適配萬片級量產需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗證者，更是能效的“精算師”，助力國產芯片在綠色計算時代贏得市場。

在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。國磊GT600通過可擴展的硬件架構、高精度模擬測量能力和開放軟件平臺，為各高jiSoC提供定制測試方案。

高同測能力加速智能駕駛芯片量產進程。智能駕駛芯片往往需要大規模部署于整車廠供應鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內同時驗證數百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產模式無縫切換，便于在研發驗證與大規模生產之間靈活調配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內完成認證與交付。國磊GT600SoC測試機向量響應存儲深度達128M，可完整捕獲HBM高速數據傳輸過程中的誤碼行為。廣東CAF測試系統制作

國磊GT600的128M向量存儲深度可記錄長時間功耗波形，用于分析AI推理、傳感器喚醒等突發任務的能耗曲線。深圳高阻測試系統定制

工業物聯網的“量產引擎” 工業物聯網（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據行業測算，同測數每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環境下穩定運行的“工業級”芯片。其GTFY系統支持STDF數據導出，可無縫對接工廠MES系統，實現良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優勢，為國產IIoT芯片的大規模量產提供強大引擎，助力中國智造走向全球。深圳高阻測試系統定制