1.高邊沿精度保障高速接口時序合規性。現代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實際輸出波形，驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協議規范。這種高精度時序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩定性的關鍵測試手段。開放式軟件生態賦能定制化測試開發。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環境，允許客戶根據自身芯片特性開發定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內部驗證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實現自動化安全機制驗證。同時，圖形化數據顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調試效率，縮短芯片迭代周期。 低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。湖州CAF測試系統精選廠家

智能汽車芯片的“安全衛士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規級MCU、功率半導體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴苛認證，確保在-40℃~150℃極端環境下穩定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元在電壓波動、負載突變下的穩定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。揚州PCB測試系統生產廠家國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀、天璣NPU低功耗狀態機、喚醒延遲、靜態電流與混合信號接口驗證。

杭州國磊GT600提供512個數字通道，并可擴展至2048通道，配合16個通用插槽，構建了高度靈活的硬件架構。在測試一顆引腳數超500的手機SoC時，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復用或分時測試，確保信號同步性。16個插槽支持自由組合數字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實現“數字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時，部分插槽配置為高速數字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時序。這種模塊化設計讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機通測，大幅降低企業設備采購與維護成本。

在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環節的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數據泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現自主開發，確保測試數據不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態的基石。國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數測試。

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規芯片、工業級MCU、航天電子、醫療設備芯片）時，展現出精度、***性、穩定性與可追溯性四大**優勢，確保產品在極端環境下長期穩定運行。首先，高精度參數測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數測量單元），可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業設備的復雜電源環境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優良，支持7x24小時連續運行，可執行長達數周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數據完整。***，數據可追溯性強。 國磊GT600SoC測試機兼容STDF、CSV等標準數據格式，便于HBM相關測試數據的SPC分析與良率追蹤。蘇州絕緣電阻測試系統

國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯動探針臺與分選機，實現全自動測試。湖州CAF測試系統精選廠家

國磊（Guolei）SoC測試系統，特別是其GT600高性能測試平臺，在當前全球半導體產業鏈高度競爭與地緣***風險加劇的背景下，對保障中國半導體及**制造領域的供應鏈安全具有戰略意義。打破**ATE設備進口依賴 自動測試設備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規芯片測試領域，國產設備幾乎空白。國磊GT600實現了400MHz測試速率、2048通道擴展、高精度AWG/TMU等關鍵技術指標的突破，具備替代進口設備的能力。這***降低了國內晶圓廠、封測廠和芯片設計公司在**測試環節對國外設備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術封鎖導致產線停擺。湖州CAF測試系統精選廠家