可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構SoC數字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗證。東莞SIR測試系統供應

在全球半導體測試設備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數字測試領域實現關鍵突破。該設備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規級芯片的驗證需求。其模塊化架構不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產芯片加速落地的大環境下，GT600不僅是一臺測試設備，更是保障中國半導體產業鏈安全的戰略支點，為國內設計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。吉安PCB測試系統國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠或關斷模式下的靜態漏電流。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽，支持數字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發整套測試硬件，***提升測試系統的復用率與投資回報率。國磊GT600SoC測試機可以輸出STDF、CSV等格式，用于良率分析（YieldAnalysis）與SPC監控。

環境應力測試兼容性，部分工業或車規級MEMS需在高低溫、高濕等環境下工作。國磊（Guolei）GT600支持與溫控探針臺/分選機聯動，通過GPIB/TTL接口實現自動化環境應力篩選（ESS）。其小型化、低功耗設計也便于集成到溫箱內部，確保在-40℃~125℃范圍內穩定運行，滿足AEC-Q100等車規認證要求。國產替代保障MEMS產業鏈安全 中國是全球比較大的MEMS消費市場，但**MEMS芯片及測試設備長期依賴進口。國磊（Guolei）GT600作為國產高性能ATE，已在部分國內MEMS廠商中部署，用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平臺。這不僅降低采購與維護成本，更避免因國際供應鏈波動影響產能，助力構建“MEMS設計—制造—封裝—測試”全鏈條自主可控生態。雖然國磊SoC測試機不直接測試MEMS的機械結構（如諧振頻率、Q值等需**激光多普勒或阻抗分析儀），但它精細覆蓋了MEMS產品中占比70%以上的電子功能測試環節。隨著MEMS向智能化、集成化、高精度方向發展，其配套SoC/ASIC的復雜度將持續提升，對測試設備的要求也將水漲船高。國磊（Guolei）GT600憑借高精度、高靈活性與國產化優勢，正成為支撐中國MEMS產業高質量發展的關鍵測試基礎設施。國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯動，構建高精度模擬參數測試系統。東莞GEN測試系統批發

國磊GT600SoC測試機ALPG功能可生成地址/數據模式，用于HBM存儲控制器的功能驗證。東莞SIR測試系統供應

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。東莞SIR測試系統供應