兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設備，實現從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設計有助于在溫控腔體內穩定運行，確保測試數據的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數據支撐。國產**測試設備助力智能駕駛產業鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術封鎖背景下，國產高性能測試設備的戰略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機，已獲得行業專業客戶認可，標志著我國在**ATE領域取得突破。對于智能駕駛這一關乎國家交通安全與科技**的關鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設備的依賴，更能通過本地化技術支持快速響應芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態的自主化與全球化進程。 國磊GT600的高精度參數測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號檢測精度適配現代低功耗SoC設計需求。高性能CAF測試系統

在“雙碳”目標與數據中心PUE限制日益嚴格的背景下，AI芯片的能效比（TOPS/W）已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU（每引腳參數測量單元），支持從nA級靜態漏電到數安培動態電流的全范圍測量，并具備微秒級瞬態響應能力，可精細捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關鍵電源事件。這一能力使芯片設計團隊能在測試階段繪制詳細的功耗-性能曲線，優化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機制。對追求***能效的國產AI加速器而言，GT600不僅是驗證工具，更是“每瓦特算力”的精算師，助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據先機。杭州CAF測試系統廠家供應國磊GT600SoC測試機作為一款通用型高jiATE，其設計目標是支持廣類型的復雜SoC芯片的測試驗證。

    杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高校科研場景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態是科研創新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發環境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優化測試程序，靈活實現各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發了學生的工程實踐能力與教師的科研創造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構建從純數字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進工藝下的漏電特性，GT600都能“一機多用”，避免高校重復采購多臺**設備，***提升設備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達10ps，適用于FinFET、GAA等先進工藝下低功耗器件的特性表征。

高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯網節點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測量待機/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級），驗證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設計目標，這對通過終端產品能效認證（如Energy Star）具有直接價值。國磊GT600支持選配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內精確施加電壓，監測各電源域的動態與靜態電流。

集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態電流與A級動態電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”，實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創新迭代 背景：AI架構快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯，高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具，更是科研創新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600數字通道邊沿精度100ps，確保模擬IC控制信號（如Enable、Reset）的建立與保持時間精確驗證。導電陽極絲測試系統哪家好

國磊GT600SoC測試機支持GT-AWGLP02任意波形發生器板卡，THD達-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測試。高性能CAF測試系統

在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環節的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數據泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現自主開發，確保測試數據不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態的基石。高性能CAF測試系統