低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征。許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測試進(jìn)行預(yù)篩選。國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動電源（-2.5V~7V），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費(fèi)。量子測控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺 隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的Horse Ridge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。國磊GT600SoC測試機(jī)兼容STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，便于HBM相關(guān)測試數(shù)據(jù)的SPC分析與良率追蹤。高阻測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    車規(guī)級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩(wěn)定系統(tǒng)的高g加速度計(jì)、發(fā)動機(jī)歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認(rèn)證。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：支持-40℃~125℃環(huán)境應(yīng)力測試（通過GPIB/TTL對接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數(shù)對比）；數(shù)據(jù)自動記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物醫(yī)療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對低功耗與長期穩(wěn)定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：nA級靜態(tài)電流測量（PPMU）；**噪聲激勵與采集，避免干擾生物信號；支持長期老化測試中的周期性參數(shù)回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不直接測試MEMS的機(jī)械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產(chǎn)品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗(yàn)證。在消費(fèi)電子、汽車電子、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)和新興智能硬件領(lǐng)域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產(chǎn)MEMS廠商實(shí)現(xiàn)高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺，有力支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)鏈從“制造”向“智造”升級。 廣東CAF測試系統(tǒng)行價國磊GT600SoC測試機(jī)廣適用于AI、移動、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領(lǐng)域的SoC研發(fā)與量產(chǎn)驗(yàn)證。

手機(jī)SoC的“全能考官” 現(xiàn)代手機(jī)SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計(jì)算機(jī)”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數(shù)十個模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個通用插槽，可靈活配置數(shù)字、模擬、混合信號測試資源，實(shí)現(xiàn)“一機(jī)通測”。其高速數(shù)字通道驗(yàn)證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時序，保障5G通信穩(wěn)定。PPMU則檢測NPU待機(jī)功耗，確保AI功能“強(qiáng)勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗(yàn)證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產(chǎn)手機(jī)SoC從研發(fā)到量產(chǎn)保駕護(hù)航，讓中國芯在**手機(jī)市場更具競爭力。

    GT600SoC測試機(jī)在測試高可靠性產(chǎn)品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級MCU、航天電子、醫(yī)療設(shè)備芯片）時，展現(xiàn)出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產(chǎn)品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運(yùn)行。首先，高精度參數(shù)測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數(shù)測量單元），可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產(chǎn)品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項(xiàng)目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運(yùn)行芯片數(shù)百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設(shè)備的復(fù)雜電源環(huán)境，驗(yàn)證芯片在電壓波動、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性。對于通信類高可靠產(chǎn)品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設(shè)計(jì)冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時連續(xù)運(yùn)行，可執(zhí)行長達(dá)數(shù)周的耐久性測試，模擬產(chǎn)品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數(shù)據(jù)完整。***，數(shù)據(jù)可追溯性強(qiáng)。 國磊GT600SoC測試機(jī)ALPG功能可生成地址/數(shù)據(jù)模式，用于HBM存儲控制器的功能驗(yàn)證。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測試。這種“場景級驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強(qiáng)腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗(yàn)證。CAF離子遷移測試系統(tǒng)

國磊GT600SoC測試機(jī)可以進(jìn)行睡眠-喚醒循環(huán)測試即腳本化執(zhí)行多次低功耗狀態(tài)切換，監(jiān)測功耗一致性。高阻測試系統(tǒng)研發(fā)公司

推動測試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進(jìn)本土供應(yīng)鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進(jìn)。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導(dǎo)體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應(yīng)鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導(dǎo)體供應(yīng)鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實(shí)現(xiàn)**測試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進(jìn)上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風(fēng)險的“技術(shù)護(hù)城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點(diǎn)。高阻測試系統(tǒng)研發(fā)公司