在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環節的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數據泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現自主開發，確保測試數據不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態的基石。國磊GT600通過可擴展的硬件架構、高精度模擬測量能力和開放軟件平臺，為各高jiSoC提供定制測試方案。國磊GEN測試系統行價

測試數據閉環助力量子芯片協同優化，國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全 量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。國產替代SIR測試系統精選廠家國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序對齊測試。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。國磊GT600SoC測試機支持多種面向復雜SoC的具體測試流程，涵蓋從基本功能驗證到高精度參數測量的完整鏈條。

AI芯片市場競爭激烈，測試成本直接影響產品定價與市場滲透率。GT600支持高達512 Sites的并行測試能力，意味著單次測試可同時驗證數百顆芯片，將單位測試時間壓縮至傳統設備的1/10以下。結合其高穩定性與自動化軟件平臺，整體測試成本可降低70%以上。這一優勢對年出貨量達百萬級的邊緣AI芯片、智能攝像頭主控、機器人控制器等產品尤為關鍵。杭州國磊通過GT600構建的“超級測試流水線”，不僅提升了國產芯片的量產效率，更增強了中國AI硬件在全球市場的價格競爭力，真正實現“測得起、賣得快、走得遠”。GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構SoC數字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗證。國產絕緣電阻測試系統哪家好

國磊GT600每通道集成PPMU，支持HBM相關I/O引腳的漏電流（Leakage）、VIH/VIL、VOH/VOL等DC參數測量。國磊GEN測試系統行價

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發驗證到量產的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優勢在于其高精度參數測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數測量單元）可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），這是車規芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變為功能失效，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續運行1000小時以上，驗證其長期穩定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應能力，防止“掉電重啟”。國磊GEN測試系統行價