5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導(dǎo)致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達(dá)10ps（0.01納秒），相當(dāng)于光在3毫米內(nèi)傳播的時間，能精細(xì)捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉(zhuǎn)換器的時序一致性至關(guān)重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復(fù)雜調(diào)制模式下的響應(yīng)性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術(shù)快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產(chǎn)通信芯片的性能與穩(wěn)定性提供精細(xì)驗證，助力中國在6G賽道搶占先機。國磊GT600SoC測試機每通道32/64/128M向量存儲深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。深圳SIR測試系統(tǒng)廠家

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其面向AI芯片特性的高性能參數(shù)和靈活架構(gòu)，精細(xì)契合當(dāng)前人工智能產(chǎn)業(yè)爆發(fā)式發(fā)展的**需求。高測試速率（100/400 MHz）——支撐AI芯片高速接口驗證，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)數(shù)Gbps。400 MHz測試速率可完整覆蓋AI SoC中高速I/O的功能與時序驗證，確保在真實工作頻率下穩(wěn)定運行。隨著大模型訓(xùn)練對帶寬需求激增，國產(chǎn)AI芯片亟需高效驗證平臺，GT600成為打通“設(shè)計—驗證—量產(chǎn)”閉環(huán)的關(guān)鍵工具。廣東GEN測試系統(tǒng)定制國磊GT600SoC測試機可以輸出STDF、CSV等格式，用于良率分析（YieldAnalysis）與SPC監(jiān)控。

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元在電壓波動、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。

國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測試平臺，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競爭與地緣***風(fēng)險加劇的背景下，對保障中國半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進口依賴 自動測試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測試領(lǐng)域，國產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國磊GT600實現(xiàn)了400MHz測試速率、2048通道擴展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進口設(shè)備的能力。這***降低了國內(nèi)晶圓廠、封測廠和芯片設(shè)計公司在**測試環(huán)節(jié)對國外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。國磊GT600的16個通用插槽支持?jǐn)?shù)字、模擬、混合信號板卡混插，實現(xiàn)電源管理IC、傳感器信號調(diào)理芯片的測試。

    MEMS麥克風(fēng)消費電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風(fēng)，內(nèi)部包含聲學(xué)傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標(biāo)包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學(xué)過載點）。杭州國磊（Guolei）支持點：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進行多顆麥克風(fēng)并行測試（512Sites），滿足手機廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補償與校準(zhǔn)功能。杭州國磊（Guolei）支持點：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應(yīng)的電容激勵信號；Digitizer采集校準(zhǔn)后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗證線性度與零點漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機）。 國磊GT600的高精度參數(shù)測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號檢測精度適配現(xiàn)代低功耗SoC設(shè)計需求。杭州絕緣電阻測試系統(tǒng)

國磊GT600GT-TMUHA04時間測量單元支持0.1%讀數(shù)精度±10ps，可用于傳感器接口芯片的時序響應(yīng)與延遲測量。深圳SIR測試系統(tǒng)廠家

可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個電子的微小電流，能識別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進入量產(chǎn)。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗提供底層保障。深圳SIR測試系統(tǒng)廠家