現代AI芯片集成度極高，動輒擁有上千引腳，傳統測試設備因通道數量不足，往往需分時復用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關鍵時序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數據總線、多核NPU互連、HBM內存接口等復雜結構的功能完整性與時序一致性。這一能力對寒武紀、壁仞、燧原等國產AI芯片企業尤為重要。在大模型訓練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗證真實工作負載下系統穩定性的關鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產的周期，助力國產AI算力快速落地數據中心與邊緣場景。國磊GT600SoC測試機通過輸入/輸出電平測試（VIH/VIL,VOH/VOL）驗證數字接口的高低電平閾值與驅動能力。上海導電陽極絲測試系統批發

手機SoC的“全能考官” 現代手機SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計算機”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數十個模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個通用插槽，可靈活配置數字、模擬、混合信號測試資源，實現“一機通測”。其高速數字通道驗證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時序，保障5G通信穩定。PPMU則檢測NPU待機功耗，確保AI功能“強勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產手機SoC從研發到量產保駕護航，讓中國芯在**手機市場更具競爭力。GEN3 AUTOCAF測試設備生產廠家國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀、天璣NPU低功耗狀態機、喚醒延遲、靜態電流與混合信號接口驗證。

    兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設備，實現從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設計有助于在溫控腔體內穩定運行，確保測試數據的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數據支撐。國產**測試設備助力智能駕駛產業鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術封鎖背景下，國產高性能測試設備的戰略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機，已獲得行業專業客戶認可，標志著我國在**ATE領域取得突破。對于智能駕駛這一關乎國家交通安全與科技**的關鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設備的依賴，更能通過本地化技術支持快速響應芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態的自主化與全球化進程。

在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。國磊GT600支持Access、Excel、CSV數據導出，便于模擬測試數據的曲線擬合與工藝偏差分析。

國產替代的“自主基石” 在美國對華**半導體設備禁運的背景下，國產測試機成為“卡脖子”環節的突圍重點。杭州國磊GT600作為國產**SoC測試平臺，支持C++編程、Visual Studio開發環境，軟件系統開放可控，避免依賴國外“黑盒子”軟件。其硬件架構靈活，16個通用插槽可適配國產探針臺、分選機，實現全鏈路本土化集成。交期短、響應快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業對供應鏈安全與數據保密的嚴苛要求。杭州國磊GT600的出現，標志著中國在**測試設備領域從“跟跑”向“并跑”邁進。它不僅是工具，更是中國半導體產業鏈自主可控戰略的“隱形支柱”，為國產芯片的持續創新提供堅實底座。國磊GT600SoC測試機可驗證電源門控（PowerGating）開關的漏電控制效果。珠海GEN測試系統定制

國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠（或關斷模式下靜態漏電流。上海導電陽極絲測試系統批發

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規芯片、工業級MCU、航天電子、醫療設備芯片）時，展現出精度、***性、穩定性與可追溯性四大**優勢，確保產品在極端環境下長期穩定運行。首先，高精度參數測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數測量單元），可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業設備的復雜電源環境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優良，支持7x24小時連續運行，可執行長達數周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數據完整。***，數據可追溯性強。 上海導電陽極絲測試系統批發