AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測試。這種“場景級(jí)驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強(qiáng)腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。電源門控模塊在喚醒時(shí)快速供電進(jìn)入狀態(tài)。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號(hào)到模塊輸出有效信號(hào)的時(shí)間。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)供應(yīng)

杭州國磊GT600提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，相當(dāng)于可存儲(chǔ)1.28億個(gè)測試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測試完整性的關(guān)鍵。現(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運(yùn)行ResNet-50模型推理、手機(jī)SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動(dòng)輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機(jī)需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個(gè)測試程序一次性載入內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)“全速連續(xù)運(yùn)行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時(shí)間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT600能應(yīng)對未來更復(fù)雜的芯片驗(yàn)證需求。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)供應(yīng)GT600可驗(yàn)證谷歌TPU、華為昇騰等定制化AI芯片復(fù)雜電源門控網(wǎng)絡(luò)、多電壓域上電時(shí)序與高密度I/O功能。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。

集成PPMU與動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級(jí)靜態(tài)電流與A級(jí)動(dòng)態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級(jí)浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動(dòng)輒百萬級(jí)，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點(diǎn)并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級(jí)提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級(jí)測試流水線”，實(shí)現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計(jì)算），需高度靈活的測試平臺(tái)。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實(shí)驗(yàn)臺(tái)”，推動(dòng)中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600支持選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)精確施加電壓，監(jiān)測各電源域的動(dòng)態(tài)與靜態(tài)電流。

    低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測試進(jìn)行預(yù)篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動(dòng)電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費(fèi)。量子測控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺(tái)隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號(hào)調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。 國磊GT600SoC測試機(jī)DPS板卡支持動(dòng)態(tài)Force輸出，可用于HBM電源上電時(shí)序（PowerSequencing）驗(yàn)證。國產(chǎn)絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)

國磊GT600測試機(jī)搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于工程師深度定制測試邏輯。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)供應(yīng)

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號(hào)激勵(lì)與采樣，這是驗(yàn)證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機(jī)場景中，麒麟芯片的LPDDR5內(nèi)存接口、PCIe 4.0存儲(chǔ)總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級(jí)頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運(yùn)行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測試與時(shí)序驗(yàn)證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號(hào)邊沿、驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅(qū)動(dòng)NPU**進(jìn)行高吞吐矩陣運(yùn)算測試，確保算力達(dá)標(biāo)。400MHz還支持復(fù)雜狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)、多模塊協(xié)同仿真，避免因測試速率不足導(dǎo)致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到邊緣計(jì)算的各類高速芯片驗(yàn)證，成為國產(chǎn)**SoC量產(chǎn)的“***道高速關(guān)卡”。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)供應(yīng)