Chiplet時代的“互聯驗證者” Chiplet（芯粒）技術通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優化。杭州國磊GT600的模塊化設計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術快速發展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯驗證能力，為國產先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀、天璣NPU低功耗狀態機、喚醒延遲、靜態電流與混合信號接口驗證。紹興導電陽極絲測試系統廠家供應

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 CAF測試設備研發國磊GT600的高精度參數測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號檢測精度適配現代低功耗SoC設計需求。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。GT600可驗證谷歌TPU、華為昇騰等定制化AI芯片復雜電源門控網絡、多電壓域上電時序與高密度I/O功能。

科研創新的“開放平臺” 在高校與科研院所，芯片研發需要高度靈活的測試環境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統支持C++/Python編程，研究人員可自由開發測試算法，驗證新型架構（如存算一體、類腦芯片）。其16個通用插槽可接入自研測試板卡，實現定制化測量。128M向量深度支持復雜實驗程序運行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口，便于對晶圓上裸片進行特性表征。在國產芯片從“模仿”到“創新”的轉型中，杭州國磊GT600不僅是量產工具，更是科研探索的“開放實驗臺”，為下一代半導體技術的突破提供關鍵支持。低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。高阻測試系統廠家供應

國磊GT600高達512個數字通道，可同時測試集成模擬模塊的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能驗證。紹興導電陽極絲測試系統廠家供應

    杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高?？蒲袌鼍埃?*在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態是科研創新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發環境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優化測試程序，靈活實現各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發了學生的工程實踐能力與教師的科研創造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構建從純數字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進工藝下的漏電特性，GT600都能“一機多用”，避免高校重復采購多臺**設備，***提升設備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達10ps，適用于FinFET、GAA等先進工藝下低功耗器件的特性表征。 紹興導電陽極絲測試系統廠家供應